SPC统计培训教程

1、SPC培训教程一、持续改进及统计过程控制概述二、SPC基础三、计数型数据控制图.（.） 专业提供企管培训资料John Z. Rao 20011产品质量量波动及及其统计计描述产品质量量特性定性定量连续离散计量值计数值计件值计数值.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao20012变异异误差=X-X0偶然性误误差：误误差大小小和方向向的变化化是随机机的。系统性误误差：误误差大小小和方向向的变化化保持不不变或按按一定规规律变化化。过程控制制中常用用精度这个概念念来反映映质量的的波动（变异）程度。JohnZ.Rao20013精 度精度又可可分为：准确度(Accuracy)：反映系统统误差的

2、的影响程程度；精密度(Precision)：反映偶然然误差的的影响程程度；精确度(Uncertainty)：反映系统统误差和和偶然误误差综合合的影响响程度.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao20014精度的概概念准确度好好精密度好好系统误差差小偶然误差差小准确度差差精密度高高系统误差差大偶然误差差小准确度高高精密度差差系统误差差小偶然误差差大准确度差差精密度差差系统误差差大偶然误差差大JohnZ.Rao20015持续改进进及统计计过程控控制概述述预防与检检测过程控制制系统变差：普普通原因因及特殊殊原因局部措施施和对系系统采取取措施过程控制制和过程程能力过程改进进循环及及过程控

3、控制控制图：过程控控制工具具控制图的的益处JohnZ.Rao20016持续改进进及统计计过程控控制概述述之一检测与预预防过程控制制的需要要检测容容忍浪费费预防避避免浪费费.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao20017持续改进进及统计计过程控控制概述述之二过程控制制系统我们工作作的方式资源的融融合产品或服务顾客识别不断断变化的需求和和期望顾客的声声音人设备材料方法环境输入过程/系系统输出过程的声声音统计方法法有反馈的的过程控控制系统统模型JohnZ.Rao20018持续改进进及统计计过程控控制概述述之三变差的普普通原因因及特殊殊原因.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ

4、.Rao20019SPC基基础SPC(Statistical ProcessControl)统计过程程控制：利用统统计技术术对过程程中的各各个阶段段进行监监控，从从而得到到保证产产品质量量的目的的。二十世纪纪二十年年代美国国休哈特特(W.A.Shewhart)首首创过程程控制(ProcessControl)理论论极其监监控过程程的工具具控制制图(Control Chart)形成成SPC的基础础，后扩扩展到任任何可以以应用的的数理统统计方法法。控制图(ControlChart)：对过程程质量特特性记录录评估，以监察察过程是是否处于于受控状状态的一一种统计计方法图图。1924年5月月6日休休哈特提

5、提出的不不合格样样品率P控制图图为世界界第一张张控制图图。JohnZ.Rao200110产品质量量的统计计观点一一产品质量量具有变变异性影响产品品质量的的因素有有6MMan:人人Machine:机机Material:料料Method:法法Mother-nature:环环Measurement:测测无论人类类社会如如何进步步发展，产品质质量不可可能保持持绝对恒恒定，一一定具有有变异性性。JohnZ.Rao200111产品质量量的统计计观点二二产品质量量的变异异具有统统计规律律性确定性现现象，确确定性规规律：在在一定条条件下，必然发发生或不不可能发发生的事事情。如如一个大大气压（760mm汞汞柱）

6、下下，H2O的变化化规律。温度 0固体状态态温度0 t25)计算每个个子组的的不合格格率（p）记录每个个子组的的下列值值被检项目目的数量量n发现的不不合格项项目np计算不合合格率p=np/p选择控制制图的坐坐标刻度度（1.52倍）将不合格格品率描描绘在控控制图上上.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao200129不合格率率的p图图计算控制制界限计算过程程平均不不合格品品率P=计算上、下控制制界限（UCL、LCL）UCL=p+3LCL=p-画线并标标注过程平均均水水平实线线控制线路路（UCL、LCL）水水平虚线线JohnZ.Rao200130、变变化示意意图时间特性值不变倾向性性

7、变化JohnZ.Rao200131、变变化示意意图时间特性值不变无规律律变化JohnZ.Rao200132、变变化示意意图时间特性值规律性性变化不变JohnZ.Rao200133、变变化示意意图时间特性值无规律律变化不变.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao200134、变变化示意意图时间特性值无规律律变化无规律律变化JohnZ.Rao200135X-R控控制图计量值最最常用、重要的的控制图图适用范围围广：X图：X正态X正态态X非正态态近似似正态（中心极极限定理理）中心极限限定理使使得X图图广为应应用。R图通过计算算机上的的模拟试试验证实实：只要要X不是是非常不不对称，则R的的

8、分布无无大的变变化。JohnZ.Rao200136X-R控控制图灵敏度高高X图：X通过平平均R图：无无此优点点偶因至少少可以部部分抵消消（偶因反反映在上）异因不变变灵敏度高高异因突出出JohnZ.Rao200137X图的控控制线设过程正正常，xN(，2)则可证明明XN(，2/n)，n为样样本大小小若、已知，则X图图的控制制线为UCL=CLLCL.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao200138若、未未知，则则需对其其进行估估计，即即JohnZ.Rao200139A.收集集数据A1选选择子组组大小、频率和和数据A2建建立控制制图及记记录原始始数据A3计计算每个个子组的的均值（X）

9、和和极差（R）A4选选择控制制图的刻刻度A5将将均值和和极差画画到控制制图上JohnZ.Rao200140A1选择择子组大大小、频频率和数数据子组大小小使各样本本之间出出现变差差的机会会小在过程的的初期研研究中，子组一一般由45件件连续生生产的产产品的组组合，仅仅代表一一个单一一的过程程流。子组频率率在过程的的初期研研究中，通常是是连续进进行分组组或很短短的时间间间隔进进行分组组过程稳定定后，子子组间的的时间间间隔可以以增加。子组数的的大小一般100个个单值读读数，25个个子组JohnZ.Rao200141.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao200142A2建立立控制图图及记

10、录录原始数数据X-R图图通常常是将X图画在在R图之之上方，下面再再接一个个数据栏栏。X和和R的值值为纵坐坐标，按按时间先先后的子子组为横横坐标。数据值值以及极极差和均均值点应应纵向对对齐。数据栏应应包括每每个读数数的空间间。同时时还应包包括记录录读数的的和、均均值（X）、极极差（R）以及及日期/时间或或其他识识别子组组的代码码的空间间。JohnZ.Rao200143A3计算算每个子子组的极极差和均均值画在控制制图上的的特性量量是每个个子组的的样本均均值（X）和样样本极差差（R），合在在一起后后它们分分别反映映整个过过程的均均值及其其变差。对每个子子组，计计算：式中：X1，X2为子组内内的每个个测量值值。N为为子组的的样本容容量。JohnZ.Rao200144JohnZ.Rao200145A4选择择控制图图的刻度度两个控制制图的纵纵坐标分分别用于于X和R的测量量值。X图：坐坐标上的的刻度值值的最大大值与最最小值之之差应至至少为子子组均值值勤（X）的最最大值与与最小值值差的2倍。R图：刻刻度值应应从最低低值为0开始到到最大值值之间的的差值为为初始阶阶段所遇遇到的最最大极差差（R）的2倍倍。.（.） 专业业提供企企管培训训资料JohnZ.Rao200146A5将均均值和极极差画到到控制图图上将均值和和极差分分别画在在其各自自的图上上。该工工作