ADC测试方案课件_第1页
ADC测试方案课件_第2页
ADC测试方案课件_第3页
ADC测试方案课件_第4页
ADC测试方案课件_第5页
已阅读5页,还剩5页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、ADC测试ADC产品简单介绍市场上主流的ADC产品基本上是TI和ADI的,国内也有一些设计公司和研究所在做,目前国内的技术水平如下:8位ADC采样率超过1Gsps 12位采样率超过300Msps16位采样率超过150Msps使用场合:无线基站、直放站CT 、核磁共振雷达、军事仪器仪表等静态技术参数DNL-微分线性度DNL = |(VD+1- VD)/VLSB-IDEAL - 1 |,其中0 D 2N - 2 INL-积分线性度INL是DNL误差的数学积分。Offset Error-偏移误差当输入信号是零时,输出值和理论数值之间差。Gain Error-增益误差当满幅值输出时,输出值和最大理论输

2、出值之间的差。静态参数测试方法方法一使用信号源输出理想斜线信号,然后测得数据进行静态参数计算,但是此方法局限于信号源的品质,对于精度比较高的ADC此种方法,会引入较大测量误差。因为ATE精度较高,所以在量产ATE上用此方法。方法二软件模拟一个理想正弦波,然后通过示波器满幅度输入,采集较大量数据,理想数据和实测数据进行对比,然后计算出静态参数。在实验室精度比较高的电源不好找,但是精度比较高的信号发生器比较容易得到,所以一般用这个方法。这种方法需要采集很多样本,样本越多,测得数据越精确。静态参数matlab计算结果采样时钟:FS=184MSPS待测信号:FIN=1.9MHz样本数据:4百万个动态参数matlab计算结果采样时钟:FS=184MSPS待测信号:FIN=170MHzBench test采样时钟待测信号ADCSMASMALVDSLVDSUSB3.0电脑VS2010matlabSPICOMFPGAGPIB芯片筛选机量产测试任意信号发生器(AWG)DUTDigitizer装备有测ADC的板卡的ATE有Teradye J750 模拟信号低于2MHzTeradye Ultra Flex 模拟信号1GHzAdvant

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论