TL9000可靠性测试程序

1、名耦：可靠性程序文虢：PC015-SZ 版本：A 修言丁： Page:1of 10文件首KW修言丁口）止核准塞 核哪科倬内容修言了言己金匏次修言了日期修言了内容122006-4-202007-3-15第一次制定彝行依据TL9000要求修改义件名耦：可靠性程序文虢：PC015-SZ 版本：A 修言丁： 1 Page:1-1 of 10文件曾筵及曾寄言己金荥表夫同意者在曾筵楠筵名，不同意或有意JO寺可在上楠内表示意见。夫封於有意见者，文管中心先聘樽知原提案覃位。若原提案覃位瓢法服10!者，JW召 由理裁示或定等。夫100堇文管中心存槽，不予彝行。名耦：可靠性程序文虢:PC015-SZ 版本:A 修

2、言丁 ： 1 Page:2 of 10文件K数修言丁言己金荥表修言了12345678910起草/修言丁塞核核准00000000000哪科倬MichealSteven11100110000JacobMichealSteven2345678911121314151617181920起草/修言丁塞核核准0123456789每一 之次修言丁典文件数修言了言己金录表相同。本之程式版本K示此程式之最新版本。二P皆文件“核准”筵署由余舞区理核准。三P皆槽（部因内部作渠者）“核准”筵署由部盟主管筵署即可 三P皆文件（相於教他I部因者），有手H畤再呈系舞圣理裁示。名程I :可靠性程序文虢：PC015-SZ版本：

3、A修言丁 ： 0 Page:3 of 10名程I :可靠性测程序文虢：PC015SZ版本：A修言丁 ： 0 Page: of 10.目的：翁1BEJ蔽内生的所有品在 PVT OR邛皆段之品U是否符合GR-468 Bell core 及 MIL-STD-883品可靠性及琪测之祝乾，产品的性能是否满足设计的要求，是否满足K客 封品之需求。.ffiH：ffiH：逾用於PCU内生的所有品，例如：TOSA, Transceiver. m：.可靠性的施典结果判定：品H工程部.失效分析典改善：品H工程部及工程部名耦：可靠性程序文虢：PC015-SZ 版本：A 修言丁 ： 1 Page: of10四.流程BI

4、：1. Reliability test flow Chart:五.内容:名程I :可靠性测IS程序文虢：PC015-SZ版本：A修言丁 ： 1 Page: of 10.可靠性实验的时机：所有新产品在PVT阶段需要进行可靠性测试，以验证产品的性能是否达到设计 要求的能力。产品在量产后需进行持续可靠性实验，以监控产品性能及品质是否发生变化。此实验的频率为每二年一次，当产品复杂程度比较高而且在服务中影响比较大时，此频率定义为每年一次。当产品发生设计变更、元器件和材料变更时也应该进行可靠性实验。当顾客有需求时依合同协议执行制程变更和制造变异返修退回的产品经评估如有性能问题时来自于客户或市场反馈的信息

5、或数据经分析产品性能有缺陷时。.可靠性实验项目应包括环境应力实验、机械应力实验及特殊实验等。具体实验的的 标准，测试条件，样品数量参考附件一。环境应力实验包括以下项目：.1 Temperature cycling(TC)Cycling Temperature Humidity (CTH)High Temperature Operating Life (HTOL)Unbiased Damp Heat(UDH)或 Biased Damp Heat(BDH)Low Temperature Storage LTS)High Temperature Storage (HTS)机械应力实验包括以下项目：M

6、echanical VibrationMechanical ShockThermal Shock特殊实验包括以下项目：ESD HBMEMIImmunityDust testMixed flowing gas test.判定及失效分析：名程I :可靠性测IS程序文虢：PC015-SZ版本：A修言丁 ： 0 Page: of 10QE部因按照 GR-468 Bell core、MIL-STD-883判定襟型封 Reliability浏IS结果做出判定（如果客户有不同的规格及判定襟型,以客户要求悬准），3t完成Reliability test report.如有失效垣象需立即通知客户同畤迤行失效分析

7、，3t在五dI工作日内完成FAReport。当失效发生在1.1, 1.3, 1.5所要求执行的可靠性项目时，处理方法参考不 合格品管制程序，当失效发生在1.2, 1.4, 1.6 和1.7所要求执行的可靠性项目时，处 理方法参考退货与召回程序。4.记录：所有的可靠性目需汕磔於 Reliability test record ”及“可靠性目阳S使用言己金录表”中，以便追溯.表罩及附件：附件一 .Reliability Test Item List:附件二.Reliability Test Record附件三.可靠性目段倩使用言己金录表.参考文件：4nx.定花PVT Production Veri

8、fication TestORT On-going Reliability Test附件一 ：Reliability Test Item List （表里编虢：PC015- SZ- 01 Rev:0） 2-1Reliability Test Item ListHeadingItemReferenceConditionSampleSizeLocationEnduranceTemperature CyclingMIL-STD-883Method 1010-40 C / 30min , +85 C /30min ,Transfer rate10 C /min 500Cycles for releas

9、e,1000 cycles for info11PCLUnbiased/biasedDamp heatMIL-STD-202Method 103Ta=+85 C ,RH=85%, 2000hrs,unbiased/biased11Cycling temperature HumidityMIL-STD-883EMethod 1004-10 C / +65 C with 80% 98%RH 10Cycles ; 24hrs / cycles11High Temperature StorageBell coreTA-NWT-000983Ta=+85 C , 2000hrs11Low Temperat

10、ureStorageBell coreTA-NWT-000983Ta=-45 C , 2000hrs11High Temperature Operation LifeGR-468-CORESection 5.18Ta=85 C ,ACC or APCmode, 2000hrs for release, 5000hrs for info25Mechanical IntegrityMechanicalShockMIL-STD-883EMethod 20021500G / 0.5ms , 6axis,5times / axis11ConsignVibrationMIL-STD-883EMethod

11、200720 2000Hz、20Gpeak / 1.5mm 1mm, X Y Z Axe , 4min / cycle , 4cycle / axe11Thermal ShockMIL-STD-883EMethod 1001 T=100C, -40 C to 85 , dwell time=5min, transfer time10s,15 Cycles11名耦：可靠性程序文虢:PC015-SZ 版本:A 修言丁： 0 Page:8of10附件一 ：Reliability Test Item List (表罩褊虢：PC015- SZ- 01 Rev:0) 2-2Reliability Test

12、 Item ListHeadingItemReferenceConditionSampleSizeLocationSpecial TestESD HBMMIL-STD-883Method3015.7TOSA +/-500V, Module +/- 1000V6ConsignESD ImmunityIEC 61000-4-28KV 10zaps on electricalfaceplate,15KV ,10 discharges at top, bottom, right and left1Electro-magneticImmunityIEC61000-4-4 (80-1000MHz, 1.4-2.0G with 10V/M);GR-1089(10k-10GHz,3 V/ M); no measurable effect1EMIEN55022/FCCClass B1030MHz-1GHz, 6dB pass margin recommended.3名耦：可靠性程序文虢：PC015-SZ 版本：A 修言丁： 0 Page:9 of 10附件二：Reliability Test Record （表罩褊虢：PC015- SZ- 02 Rev:0）Reliability Test RecordReliability ItemOrde