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文档简介

1、室外尾纤及光跳线的机械电气性能测试要求室外尾纤及光跳线的测试要求进行插入损耗互换性测试时,光跳线的测试样品数量为10pcs。进行其它项目测试时,样品数为5pcs。在进行机械性能测试时,对于两端对称的样品,测试单端的机型性能即可;对于非对称的样品,包括分支长度不一致的情况,两端的机械性能均必须测试。针对同一组样品,各测试项目的测试顺序、测试条件及合格判据,应按照下表执行。序号相试项目测试方法测试条件1插入损耗本文第1章测试波长:1310nm、ISSOnm伸模850nml300nm侈模)2回波损耗本文第2章测试波长:1310nm、1550nm俾模),850nm130Dnm(M)3插入损耗互换性IE

2、C61300-3-34测试波忆1310nm、1550nm伸模850nm.1300nm侈模)4干热-高温耐久性IEC61300-2-18测试波长:1310nmJ550nm伴模850Mh1300nm多模)测试温历75nC+2高温时长:336tl测试记录:在室温环境存放2h后纪录插入损耗和回波损耗的初始直达到稔定制试温度后每6b记录一次插入期耗和回波损耗的数值,高温过程球回到室温2h后记期人损耗和回波触的终值5低温IEC61300-2-17测试波长:1550mn(单榭,1300口小侈榭剧芭温度-4TC2t低温时长;96h测试记禽龌温环就成2h后记槐入按榭咆波损耗的初始儡达到卷定测试温度后每lh记录一

3、次插入损耗和回波损耗的数值,低温过程结束回到室温2h后记录插入损耗和回波损耗的终值6温度变化IEC61300222(TestNb测试波长:1310inn*1550nni(单模850nm%1300nm侈模)高温温度:75c2匚保温时长:lh宣温温度:23aC2t,保温时长:lh低温温度:士2c保温忖长工th海变时长:每相邻两保温度之间的温度变化时长为1E或者以ID/min的温度变化速率实现温变路彷23DC-75r-23t-40t-23t温循次数:21恻试记录:在室温环境存放2h后记录插入损耗和回波损耗的初始值,到达各保温时间段0.5h后,在保温时段结束之前记录插入板耗和回波损耗的教他循环过程献回

4、到室温2h评限插入懒和回波雕的轴7恒定湿热1EC61300-2-19测试波长:1310nm、1550nm(中模),850nm、l_300nm(多模)测试温度:75t土2C相对湿度:90%5%测试时长:168h测试记求:在室温环境存放2h后记求插入损耗和回波损耗的初始值,达到稳定测试温度后每6h记录一次插入损耗和回波损耗的数值.湿热过程结束回到正常环境2h后记录拙人损耗和回波损耗的终值8温度海度循环IEC61300-2-48测试波长:131011111,1550nm(单.模),850nm、1300nm(多模)高温温度:65t2C,保温时长:2h空温温度:23t2C,保温时长:2h低温温度:-1O

5、C2C,保温时长:2h相对湿度:在23C和65aC保温期间为95%100%2%,其它时间段不控制,但也不除湿温循顺序:23C-10-65-10-*23.温变时长:23鼠-1010-23P的温度变化时长为lh,10(65与650cr-10。(:的温度变化时长不超过20分钟循环次数:14测俄记求:在室温环境存放2h后心求插入损耗和回波损耗的初始值,到达各保温时间段lh后、且在保温时间段结束之前记录次插入损耗和回波损耗的数值,循环过程结束回到正常环境2h后记录插入损耗和回波损耗的终值9干儿IEC61300-2-18测试温度:75,C2,C高温时长:24h注:木测试项的目的是为烘干被测样品上在高温湿热

6、测试时产生的冷凝水10温度变化1EC61300-2-22(TestNb)测试波长:1310nm、1550nm(单模),850nm、1300mn(多模)高温温度:75*C25C,保温时长:lh室温温度:23C2C,保温时长:lh低温温度:-40C2C,保温时长:lh温变时长:每相邻两保温段之间的温度变化时长为lh,或者以lC/min的温度变化速率实现温变顺序:23C-75C-23C-40Cf23c温循次数:21测试记录:在室温环境存放2h后记录插入损耗和回波损耗的初始值,到达各保温时间段后每0.5h记录,次插入损耗和回波损耗的数值,循环过程结束回到室温2h后记录插入损耗和回波损耗的终值11振动I

7、EC61300-2-1测试波长:1310nm,1550nm(单模),850nm,1300nm(多模)频率范围:10Hz55Hz痂率变化路径:10Hz-55Hz-10Hz扫频速率:45Hz/min扫描次数:60次/轴,三轴正交,其中一轴与被测样品中的光纤平行振动幅度:0.75mm测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始(fl.在每个轴振动测试前和振动测试后记录插入损耗和回波损耗的数值12应变消除机构的挠曲(适用于带加强件光缆)IEC61300-2-44测试波长:1310nm1550nm(单模),850nm、1300nm(多模)采用2.5mm插芯连接器(如MU)的负载重量:8.9N采用1.25mm插

8、芯连接器(如LC)的负裁重量:5.9N负载位置:跑离连接港尾部220mm280mm角度变化顺序;0。90-0-90-0循环次数:100测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,循环结束消除负载后记录插入损耗和回波损耗的终值13扭转IEC61300-2-5测试波长:1310nm、1550nm(单模),850nm1300nm(多模)负载重量;13.3N扭转角度:900。(2.5圈)循环次数:10(循环速率不做要求)140静态负载测试(适用于带加强件光缆)IEC61300-2-50测试波长:1310nm、1550nm(单模),850nm1300nm侈模)负载重量:70N负载便置:距离连接器尾部220

9、mm2801nm持续时长:25s测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,消除负载10s后记录插入损耗和回波损耗的终值15900懿负载恻试(适肝带加强件光缈IEC61300-2-50服波长;1310nm、1550皿仲模),850nln、1300mn侈模)采用2.5mm插芯连接器(如MU)的负就重量:22.6N采粗25mm插芯连接器(如LC)的负载1输N负魏置;而沟连接器尾部220mm280mm持鲫怅25s测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始鱼消除负载10s后记录插入雕和目趣榔换位16弯也IEC61300-2-7洲峨长1550nm俾模),13。0加(多榭Ml:10N,缓檄吐负掰遥网囱漓光接触界

10、面25mm处赧记录记熟人损回波雕的初始以负勒此后记录一底入麻蒯蝴耗的数解为过程值,建持续30诟记录茹入版和回17负载传输测试IEC61300-2-51测试波长:1310nm.1550nm(单模).850nm、1300nm(多模)2.5mm插芯连接器(如SC)、光缆带加强件时的负载重量:0:2.5N、6.9N、14.7N、19.6N90。:2.5N、6.9N、14.7N、19.6N1.25mm插芯连接器(如LC)、光缆带加强件时的负载重量:0:2.5N、6.9N、14.7N、19.6N90:1.7N、4.6N、9.8N.13.0N光缆为0.9mm、不带加强件时的负我近量:0:2.5N、6.9NF

11、C连接器、光纤为G.652D、光缢带加强件时的负载重量::0:2.5N、6.9N,14.7N、19.6NFC连接器、光纤为G657A2、光缆带加强件时的负载重量:0:2.5N、6.9N、14.7N、19.6N90。:2.5N、6.9N负载位置:距离连接器尾部220mm280mm持续时长:直到读数稔定为止测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,加上负载且读数稔定后记录插入损耗和回波损耗的数值作为测试过程位,消除负载20s后记录插入损耗和回波损耗的终值18撞击IEC61300-2-12MethodA测试波长:1310nm、ISSOnm(单模),850nm、1300nm(多模)跌落次数:8次/每个

12、连接器跌落高度;1.5m测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始俏.8次跌落完成后测试并记录插入损耗和回波损耗的终值19配接耐久性IEC61300-2-2MethodB测试波长:1310nm、1550nm(单模),850nm、1300nm(多模)插拔次数:200次/包个连接器插拔速率:23s/次测试记录;记录插入损耗的初蛤值,每插拔一次记录一次插入损耗的数值,插入损耗增加值超标的次数不得超过2S次20盐雾1EC61300-2-26测试波长:1310nm、1550nm(单模),850nm、1300nm(名模)盐雾浓度:5%NaCI(PH6.57.2)相对湿度:85%测试温度:352测试时长:96h

13、测试记录:记录插入损耗和网波损耗的初始值和终值21假缆拉力(适用于有假缆的情况)拉力大小:300N持续时间:22min施力位置:两条假缆打结处22双85试脸Huaweirequirements相对湿度:85%5%测试温度:852测试时长:1000h23回波损耗本文第3率测试波长:1310nm、1550nm(单模),850nm、1300nm(多模)清洁:测试前对连接器端面和适配器进行必要的清洁24插入损耗本文第2章测试波K:1310nm.1550nm(单.模),850nm、1300nm(多模)清洁:测试前对连接错端面和适配器进行必要的清洁一端连接器采用矩形插芯的尾纤和两端连接器均采用矩形插芯的光

14、跳线插入损耗技术指标4.1.1MPO光纤连接器插入损耗的初始值无论是光跳线还是尾纤,任一光纤连接器插入损耗的初始值必须符合下表的要求。单摸光纤PCARCPC於D7dB4.1.2MP。光跳线和尾纤插入优耗的初始值光跳线和尾纤捕入蚓耗的初始优必须符合下表的曜求n类别长度也)单模光纤多模光纤lS10rm/155DnmUSOutn130Gurn此跳雀LE20e1.21dBt,26dB1.22dB20mL50m51.22dBl.35dBil.ZSdB5ClmSI24dB1,5(1dBEL30dB100mL150m01?6dBMl.65dB135dBlF0mLs200rnML28dBJ30dB200m1.

15、2O+Lxn.4/HHM)dB1.2U+Lx:(/U)OOdB1.20+Lx1.0/1U00dH尾舒L20m061dB0.66dB0,62dB20mL50m0.621BWO.75dB0.6SdB50ml-1i)0mS064dBSO,90dBS070dB100mL150m0.66dBLD5dE0.75dB150mL200m0.68dB120dB200m0.60+Lxtl.4/1000dB0,&0+Lx3,(/WO0dB0.60+Lx1.071000dB4.L3MPO光跳线和尾纤在机械性能测试时插入损耗的增加值在进行机械性能测试时,无论足采用单模光纤还是多模光纤,光跳我和尾纤的插入损耗增加值必须满

16、足下衣的要求,试验“P试险后单躺机械性能测试0.50dB0.50dB组件振动(双端)1.00dB1.00dB负载传输(单端)0.50dB/4.1.4MPO光跳线和尾纤在环境性能测试时的插入损耗增加值室内光跳线和尾纤在:进行环境性能测试时.插入损耗的增加值必须符合下表的要求。类别长度财单模光纤多模光纤试用中试验后试验中试验后光跳线L20m0.51dB0.41dB0.51dB0.40dB20mL50m053dB0.42dB00.52dB041dB50mL100m0.55dH0.43dB0.53dB041dB100mL150m0.58dB0.45dB0.55dB0.42dB150m2(X)m0.50

17、+Lx0.5/1000dB0.40+Lx0.3/1000dB0,50+1x03/1000dB0.40+Lx0.1/1000dB尾纤L20m0.31dB0.31dB0.31dB0.30dB20mL50m40.33dB0.32dB40.32dB4031dB50mL100m0.35dB0.33dB0.33dB0.31dB100mL150mWO38dB0.35dBW0.35dBW032dB150mL200m0.40dB0.36dB036dB200m0.30+Lx0.5/1000dB030+Lx0.3/1000dB0,30+1x03/1000dB55dB225dB45dBG5dB8dB8dB20mVLW

18、50m,34dB251dB24dB50mL100m233dB?49dB223dB100mVLW150m232dB246dB222dB150mVLW200mN31dB45dB221dB注1:长度超过200m的光跳线,具回波损耗需与研发确认。注2:当光跳线两端连接器的端而不同时,以回波损耗数值较小的端面为准。MPO尾纤回波损耗的初始值和变化值尾纤回波损耗的初始值和变化值必须符合下表的要求。氏慢初始值机械性诙试并1可滋揄耗减小值机械忤能试监何波损耗减小值单模光舒多模光纤p:APCPC试验中成雎后试验中试验后LS2nm二40dH57dB5dB5dB嗅5dBW5dB20mL50m/40dB54dB24d

19、BSOmLS100m40dBZ49dB鼻23dB100mVLW150m云39dB云0dB孑22dBJ.50mLW加口m抒dBdB三以d片注1;长度超过2口。m的尾纤,其回波损耗需与研发确认,MPO光跳线插入损耗的互换性插入损耗的互换性测t如T法采用标准IEC61300-3-34中的Method1进行,测试结果应符合下表的要求。单株光跳线长度1310nm/1550nm平均侑最大值(97%以上的样品,LWZDmWQ,6QdBWLOOdB2。门】V0.62dRl.fi2dR50iiL100m40.64UB1.04dB100mL150m0.&6dB1,06dBl50m200mW0.60+Lx04/10

20、00dE应LOO+LM04/1000dB名模光跳线长度850nm130。nm平均值最K值97%W上的样Lill)平均值最大值97%以卜的样品)L这20mM0.6。1BW115dB0.60dB1.00dB20L50m0.73dB1.38d00.64dB1.04dBS()mL100mEd日5dEWlSOdBC0.68dB1.D8dfiIOOeVIW15nmS0.9HiB1.63dBSO.72dBWL12d日150m200m0.60+LX2S/10QOdH1.00+LX23/1000dB0.60+LxD8/1000dliLQO+LXQ.8/1000dBMPO室内尾纤及光跳线的测试要求除插入损耗互换性

21、测试的光跳线样品数量为10pcs外,其它项目测试的样品数均为5pcs。在进行机械性能测试时,对于两端对称的样品,测试单端的机械性能即可。正常环境是指环境温度为23C2C、一个标准大气压的室内环境。针对同一组样品,各测试项目的测试顺序、测试条件及合格判据,应按照下表执行。序号测试项目测试方法测试条件1插入损耗本文第1章测试波长:1310nm.1550nm(单模),850nm2回波损耗本文第2章测试波氏:1310nm1550nm(单模),850nni3插入损耗IEC61300-3-34测试波长;1310nm.1550nm(单模)i850nm互换性4振动1EC61300-2-1测试波长:1550nm

22、(单模).1300nm(多模)频率范围:10Hz-55Hz频率变化路径:10Hz-55Hz-10Hz扫频速率:45Hz/min扫描次数:15次/轴,三轴正交,其中一轴与被测样品中的光纤平行振动幅度:0.75mm测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,在每个轴振动测试前和振动测试后记录插入损耗和回波损耗的数值5低温IEC61300-2-17测试波长:1550nm(单模),1300nm(多模)测试温度:,25土2C低温时长:96h测试记录:在室温环境存放2h后记录插入损耗和回波损耗的初始值.达到担定测试温度后每lh记录诙插入损耗和回波损耗的数值作为过程值,低温过程结束样品P1到室温2hE记录插入

23、损耗和网波损耗的终值6干热-高温耐久性IEC61300-2-18测试波长:1550nm(单模),1300nm(多模)测试温度:7OC2-C高温时长:96h测试记录:在室温环境存:放2h后记录插入损耗和回波损耗的初始色,达到稳定测试温度后每6h记录一次插入损耗和回波损耗的数值,高温过程结束样品回到室温2h后记录插入损耗和回波损耗的终值7工热循环IEC61300-2-46测试波长:1550nm(单模),】300nm(多模)温度范围:252552相对湿度:95%RH测试时长:96h测试汜求:在室温环境存放2h后记求插入损耗和回波损耗的初始侑,开始测试后每lh记录次插入损松和回波损耗的数值,循环过程结

24、束后记录插入损耗和回波损耗的终值8温度变化1EC61300-2-22(TestMb)测试波长:1550nm(单模),1300nm(多模)低温温度:25*C2C,保温时长:lh高温温度:70aC2*C,保温时K:lh温变速率:l*C/min(每相邻两保温段之间)温变路径:23*C-*-25*C-70C-25,C温循次数:12测试记录:汴空温环境存放2h后记录插入损耗和PJ波损耗的初始值.到这各保温时间段0.5h后、在保温时段结束之前记录插入损耗和网波损耗的数值,循环过程结束样品回到室温2h后记录插入损耗和回波损耗的终值9应变消除机构的执曲(适用于带加强IEC61300-2-44测试波长:1310

25、nm1550nm(单模),850nm、1300nm(多模)负攀重量:8.9N负载位置:距离连接器尾部220mm280mm角度变化顺序:0。f90。-0。-90。-0。循环次数:100测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,消除负载后记录插入损耗和回波损耗的终值件光缆)10光纤/光缆保持力IEC61300-2-4测试波长:1550nm(单模),1300nm(多模)负战重员::50N2N负载持续时长:120s负载位置:距离连接器尾部220mm280mm测试记录;记录插入损耗和忖波损耗的初始值,负载达到最大值和规定的持续时长且再过30s后记录插入损耗和回波损耗的数值,消除负载10s后记录插入损耗和

26、回波损耗的终值11撞击IEC61300-2-12MethodA测试波长:1550nm(单模),1300m】(多模)跌落次数;8次/每个迂接器跌落高度:L5m,跌落时插芯须带防尘帽测试记录:记录插入损耗和31波损耗的初始值,每个连接器完成5次跌落后记录插入损耗和回波损耗的终值12配接耐久性IEC61300-2-2MethodB测试波长:1550nm(单模),1300nm(多模)插拔次数:50次/每个连接器插拔速率:23s/次测试记录:记录插入损耗的初始值,每插拔一次记录一次插入损耗的数值,插入损耗增加值超标的次数不得超过3次13扭转(适用于圆形光缆)IEC61300-2-5测试波长:1310nm

27、.1550nm(单模),850nm.1300nm(多模)负载重星:13N扭转角度:360。循环次数:10(循环速率不做要求)负载位置:距离连接器尾部220mm280mm测试记录:记录插入损耗和问波损耗的初始值,循环结束消除负载后记录插入损耗和回波损耗的终值140潜态负我测试1EC61300-2-50测试波K:1310nm1550nm(单模),850nm、1300nm(多模)负较重量:70N(向LC石界等统一到70N)负载位置:距肉连接器尾部220mm280mm持续时长:25s测试记录:记录加入损耗和回波损耗的初始值,消除优裁110s后记录插入损耗和回波损耗的终值1590静态负载测试IEC613

28、00-2-50测试波长:131Onm.1550nm(单模),850nm、1300nm(多模)负较重显:33N负载位固;跑离连接器尾部220mm280mm持续时长:25s测试记录:记冢插入损耗和回波损耗的初始值,消除负载TOs后记录插入损耗和问波损耗的终值16有矩IEC61300-2-7测试波K:1550nm(单棋).1300nm(多模)负载重量:10N,缓慢加上负找位置,沿归线距离光接触兄面25mm处.扁平面和侧面两个方向测试记录:记录插入损耗和13波损耗的初始值,负载加上后记录一次插入损耗和回波损耗的数值作为过程值,仇载持续30s兀记录插入技耗和回波损耗的数值17负载传输IEC61300-2

29、-51测试波长:1310nm.1550nm(单模),850nm.1300nm(各模)0。位载币:最:22.0N测试90负载重量:2.2N负载位置;距离连接器尾部220mm口im持续时长:直到读数稳定为止测试记录;记录插入损耗和回波损耗的初始值,加上负载且读数稳定后记录插入损耗和回波损耗的数值作为冽试过程值,消除自教20s后记录插入损耗和回波损耗的终值18盐雾lECfUM22fl剿试波长毒浓度相对湿度涮试温度测试时长测试记录1310nm、ISSQnm(单模)*850nm1300nm(方模)5%NaCI(PH65-7.2)85%35296h记录插入损耗和回波损耗的初始值和终ttu19双85试验Hu

30、aweirei|Liireitiejts相对湿度测试温度测试时长85%5%852lOOOh20回波损耗本文第Z章利试波长1310nm,1550nm(单模卜850nm13(K)nm(多模)21插入损耗本文第1章测试披长1310nm、1550iim(单模)HSOnm、30口nm(名模)5一端连接器采用矩形插芯且另一端连接器采圆形陶瓷插芯的多芯分支5.1插入损耗技术指标5.1.1光纤连接器插入损耗的初始值线上圆形陶瓷插芯连接器的插入损耗初始值必须符合3.1.1的要求。多芯分支光跳线MPO连接器的插入损耗初始值必须符合4.1.1的要求。5.1.2一端连接器采用矩形插芯且另一端连接器采圆形陶瓷插芯的多芯

31、分支光跳线插入损耗的初始值一端采用MPO连接器、另一端采圆形陶瓷插芯连接器的光跳插入损耗的初始值必须符合下表的要类别长度(2单模光纤多模光纤1310nm/1550nm850nm1300nm光跳线L20m0.86dB191dB0.87dB20mL50m0.87dBL00dB0.90dB50mL100m0.89dB115dB0.95dBl(On)L150m0.91OB1.30dB1.00dB150thL200th0.93dBL45dB200m0.85+Lx0.4/1000dBOt05+Lx3.O/lOOOdBOL85+LxLO/WOOdB备注:跳线插入损耗公式中的起步值源力为贪抽芯插入品耗平均值0

32、.25dB和MP口捕芯捕人投耗平-均值之和,513一端连接器采用矩形插芯且另一端连接器采圆形陶瓷插芯的多芯分支光跳线在机械性能测试时插入损耗的增加值在进行机械性能测试时,无论是采用单模光纤还是多模光纤,多芯分支光跳线的插入损耗地加值必须满定下表的要求.园形陶瓷插芯连接器MPO连接器试验中试验后试验中试验后单端机械性能测试QJ0dB020dB0,5。dB0.50dB组件振动(双端)试验中试验后0.70(1B070dB负载传输(单端)0.50dB/050dB/5.1.4一端连接器采用矩形布芯且另一端连接器果圆形陶瓷相芯的多芯分支光跳线在环境性能测试时的插入撮耗增加值室内光跳线和尾纤在进行环境性能测

33、试M,插入根耗的增加值必须符合下表的要求类别长度()根桢花轩名模儿纤试雎中试验后试验中试的后多芯分支光跳统L20m051dB041UH0.51dBa4fldB2(JmL5Um0.53dHWU,2dH0.5JdB041dB0S5dU041dH工053dB041dll100mL150m0S6dB200m0.501LxO.S/lOODdB95%RH测试时长:96h测试记录:在室温环境存放2h后记录插入损耗和同波损耗的初始值.开始测试后每lh记录一次插入损耗和回波损耗的数位,循环过程结束后记录插入损耗和回波损耗的终他7温度变化IEC61300-2-22(TestNb)测试波长:1550nm(单模),1

34、3OOnm(多模)低温温度:-25V2*C,保温时长:Hi高温温度:701c2C,保温时长:lh温变速率:每相邻两保温段之间)温变路径:23V-25aC-70,C-25*C温循次数;12测试记求:在本温环境存放2h后记录插入惯耗和回波投耗的初始值,到达各保温时间段O.5h后、在保温时段结束之前记录插入损耗和回波损耗的数值,循环过程结束样品回到室温2h后记集插入损耗和回波损耗的终侑8应变消除机构的挤曲IEC61300-2-44(本测试仅适用于带加强件的光缆)测试波长:1310nm、lS5()nm(单模),850nm、13OOnm(多模)圆形陶比插芯连接器负载里量:5N矩形插芯MP。连接器负载用量

35、:8.9N负载位置:距离连接鹘尾部220mm280mm角度变化顺序:0-90-*00-*-900-*0循环次数:100测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,消除负载后记录插入损耗和同波损耗的终值9光纤/光缆保持力IEC61300-2-4测试波长:1550nm(单模),13OOnm(多模)圆形陶瓷插芯连接端:光缆带加强件时的负载取量:100N2N(外径大丁2mm)7ON2N(外径不超过2mm)负载增加速率:5N/s负载持续时长;120s光缆不带加强件时的负载重量:5.0N0.5N(0.9mm光缆)2.0N0.5N(0.25mm光缆)负载持续时长:60s矩形插芯MP0连接器端:负载重量:50N

36、2N负皎持续时长:120s负载位置:距离连接器尾部220mm280mm测试记录:记录插入损耗利可波损耗的初始值,位载达到最大值和规定的持续时长且再过30s后记录插入损耗和回波损耗的数值,消除负我10s后记录插入损耗和回波损耗的终值1()撞击1EC61300-2-12MethodA测试波长:1550nm(单模j,1300nni(多模)跌落次数:8次/每个连接器跌落高度:1.5m,跌落时插芯须带防尘帽测试记录:记录插入授耗和回波损耗的初始值,母个迷接器完成5次跌落后记录插入损耗和同法损耗的终值11配接耐久性IEC61300-2-2MethodB测试波长;1550nm(单模j,1300nm(多模)圆

37、形陶瓷插芯连接器插拔次数:500次/每个连接器矩形插芯MP0连接器插拔次数:50次/每个连接器插拔速率:23s/次测试记录:记录插入损耗的初始俏.每插拔一次记录一次插入损耗的数值,插入损耗增加值超坏的次数不得超过25次12扭转IEC61300-2-5测试波长:1310nm.1550nm(单模).850nm、1300nm(多模)圆形陶瓷插芯连接器端:采用带加强件光缆时的负我重显:15N采用0.9mm光缆时的负载重星:2N扭转角度:180。循环次数:25(循环速率不做要求)矩形插芯MP。连接器端:负载电量:13N招转角度:士360。循环次数:10(循环速率不做要求)负载位置:距离连接瑞尾部220m

38、m280mm测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始值,循环结束消除负载后记录插入损耗和回波损耗的终值130静态负载测试(带加强件光缆)1EC61300-2-50测试波长:1310nm、1550nm(甲.模),850nm,1300nm(多模)负载田星::70N负载位置:距离连接器尾部220mm280mm持续时长:2ss测试记业:记录插入损耗和回波损耗的初始值,消除负载10s后记录插入损耗和回波损耗的终值1490静态负载测试IEC61300-2-50测试波长:1310nm.1550nm(单模),850nm.1300nm(多模)2.5mm插芯连接器(如MU)的负载里量:22.6N1.25mm插芯连接

39、器(如LC)的负我田星:14.7N矩形插芯MP0连接器的负我雨量:33N(带加强件光缆)负载;位置:距离连接器尾泮220nlm280mm持续时长:25s测试记录:记录插入损耗和回波损耗的初始色,消除负我10s点记录插入损耗和同波损耗的终但15弯矩1EC61300-2-7测试波长:1550nm(单模),1300nm(多模)负载重量:10N,缓慢加上负载位置:沿釉线距因光接触界面25mm处,矩形插芯MPO连接器必须在扁平面和侧面两个方向分别进行测试测试记录:记录插入损耗利回波损耗的初始值,负我加上后记录一次插入损耗和回波损耗的数值作为过程值,负载持续30s后记录插入损耗和回波损耗的数值16负载传输

40、测试1EC61300-2-51测试波长:1310nm、1550nm(单模).850nm、1300nm(多模)25mm插芯连接器(如SC)、光缆带加强件忖的负极重量:0:2.5N、6.9N、14.7N、19.6N90,2.5N、6.9N、14.7N、19.6NL25mm插芯连接器(如LC)、光缆带加强件时的仇我市鼠:0:2.SN、6.9N、14.7N、19.6N90:1.7N4,6N,9.8N,13.0N光缆为0.9mm、不带加强件时的负载重量:0:2.SN、6.9NFC连接器、光纤为G.652D、光缆带加强件时的负载童星:0:2.5N、6.9N、14.7N、19.6NFC连接器、光纤为G.65

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