統計制程管制SPCppt课件

1、統計制程控制SPC講師： Davis Yu.SPC統計制程控制 Statistical Process Control 1.制程才干分析 2.控制圖.計劃導向向市場導向轉化演變30-50年代 大量生產,種類少 可控制 過濾不良 50-70年代 大量生產,種類多 不易掌控 檢驗不良70年代 定單生產 只能預測 制造技術80年代以后 JIT 速變不能預測 設計.系統.習慣 生產型態 市場環境 品管過程.為何推行SPC1.掌握品質的變化要素.2.縮短產品上市周期.3.做出高品質產品.4.持續性高品質原料供應.何謂統計先看以下幾個例子:第一組數據: 10.15 10.25 10.35第二組數據: 10

2、.10 10.25 10.40第三組數據: 10.20 10.25 10.30第四組數據: 10.05 10.25 10.45問題一:它們的平均值相等嗎?問題二:假设SPEC定在10.250.15,它們合格嗎?問題三:哪一組數據比較好?.統計學的定義統計是數學的一個分支,是用來討論如何進行資料的搜集、分析、解析以及大量數字資料的系統化表示.推行統計學的意義統計的意義是從本質上了解制程或樣本,避開外表現象, 更准確、有效、更迅速地進行改善或調整.SPC的根本理論是常態分配如圖:-3-2-1+1+2+30.%0.%99.73%95.45%68.27%常態分配:.評定制程狀況的幾個定義1.制程准確度

3、Ca=2平均值規格中心公差裕度2.制程精细度Cp=公差裕度6標准差3.制程精確度Cpk=公差裕度2中心偏移量6標准差上限平均值 , 平均值下限3標准差或MIN.准確度Ca精確度Cp精细度CPkCa/Cp/CPk之間的概念關係Cpk=Cp(1-Ca). 10.52 10.53 10.48 10.47 10.49 10.50 10.48 10.52 10.51 10.48 10.50 10.50 10.51 10.49 10.50 10.52 10.50 10.49 10.48 10.49 10.50 10.51 10.48 10.48 10.501).假设SPEC 10.500.05,則Cpk為

4、多少？2).假设SPEC 10.55MAX,則Cpk為多少?例:一批軸承,抽樣量測尺寸如下:如何評價製程才干.解:1) X= = =Xin262.432510.49S= = =(Xi-X)2n-1240.020.029Cpk= =公差裕度-2中心偏移量6標准差 0.10 -210.49-10.5060.029=0.462)Cpk= = 規格上限-平均值3標准差 10.55-10.4930.029=0.69.Cpk等級的評定標准1.67 Cpk 為A+級，代表制程才干足夠1.33 Cpk1.67 為A級 代表制程穩定1.0 Cpk 1.33 為B級 代表有不良發生的机率,必須加以留意0.67 C

5、pk 1.0 為C級 應檢討規格及作業標准Cpk 0.67 為D級 應采取緊急措施,全面檢討,必要時應停顿生產.SPC控制目的SPC(Statistical Process Control 統計制程控制) 是由制程調查來改進制程才干,不斷降低產品品質的變異性,而達到提升產品品質的一種方法,其主要工具為控制圖. .品質變異的缘由1.機遇缘由(Chance cause) 不可防止的缘由、非人為的缘由、共同缘由、偶尔 缘由、普通缘由,是屬於控制狀態的變異.2.非機遇缘由(Assignable cause) 可防止的缘由、人為缘由、特殊缘由、異常缘由、 部分缘由等.此種缘由,應采取行動,使制程恢復正常

6、, 進入控制狀態.控制圖的意義控制圖是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明制程才干的控制界限比較,而以時間經過用圖形表示者.控制圖的種類(性質分類)一.計量值控制圖(Control Charts For Variables): a.平均值與全距控制圖( X-R Chart ) b.中位值與全距控制圖( X-R Chart ) c.個別值與移動全距控制圖( X-Rm Chart ) d.平均值與標准差控制圖( X- Chart ).2.計數值控制圖(Control Charts For Attributes) a.不良率控制圖 ( P Chart ) b.不良數控制圖 ( Pn Chart

7、 or d Chart ) c.缺點數控制圖 ( C Chart ) d.單位缺點數控制圖 ( U Chart )控制圖的種類(性質分類).控制圖的種類(用途分類)1.控制用控制圖 先有控制界限,后有數據.2.解析用控制圖 先有數據,后才有控制界限.一.平均值與全距控制圖(X-R Chart).X-R控制圖的定義在計量值控制圖中,X-R控制圖系最常用的一種,所謂平均值與全距控制圖,系平均值控制圖(X Chart)與全距控制圖(R Chart)二者合並运用.平均值控制系控制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化;全距控制圖則控制變異的程度,即分配的離散趨勢的狀況.控制圖的意義控制圖是一種品質的圖解記

8、錄.在圖上有中心線(規格值)及二條控制界限.中心線是一種規格值,二條控制界限是容許產品的品質特性在其間變動的范圍.在制造過程中用抽查的方式,將樣本的統計量,點繪於圖上,用以判斷品質的變異能否顯著.規格上限控制上限規格值(中心值)控制下限規格下限.X-R Chart繪制步驟 建立解析用控制圖1.選定控制項目2.搜集數據100個以上,並予適當分組后記入數據記錄表. 樣本大小(n)=25 (解析用) 組數(k)=20253.計算各組平均值( X ) X= 4.計算各組全距( R ) R=Xmax-Xmin (各組最大值-最小值)X1+X2+X3+XKn.5.計算總平均值 ( X ) X= 6.計算全

9、距之平均值( R ) R= 7.計算控制界限及繪出 X控制圖 中心線 CLx = X 上 限 UCLx = X+A2R 下 限 LCLx = X-A2Rx1+x2+x3+xkkR1+R2+R3+RKk. R控制圖 中心線 CLR =R 上 線 UCLR=D4R 下 線 LCLR=D3R A2, D4, D3由系數表查得8.點圖 將數據點繪控制圖上,相鄰兩點用直線連接.9.控制界限檢討10.記入其它留意事項.例題:用X-R控制圖來控制AGP GAP,尺寸單位為mm,請 利用以下數據資料,計算其控制界限並繪圖. 制品名稱:AGP 機器號碼:RK006 品質特性:GAP 操 作 者:55230 測定

10、單位:mm 測 定 者:58664 制造場所:A線 抽樣期間:03/10/9903/12/99.1.搜集數據並記入數據記錄表2.計算各組X3.計算各組R值4.計算總平均( X ) X= = (0.63+0.64+0.68+0.66+0.68+0.68+0.68+0.66+0.66 +0.65+0.62+0.62+0.63+0.64+0.67+0.67+0.63+0.69 +0.67+0.62)20 = 0.66x1+x2+x3+xkk.5.計算全距之平均值( R ) R= =(0.08+0.07+0.06+0.09+0.10+0.08+0.07+0.11+0.07 +0.08+0.08+0.0

11、8+0.08+0.07+0.11+0.11+0.10+0.07 +0.03+0.03)20 = 0.086.計算控制界限及繪出 X控制圖 中心線 ( CLx ) = X = 0.66 控制上限 ( UCLx ) = X+A2R = 0.66+0.577 0.08 = 0.70 控制下限 ( LCLx ) = X-A2R = 0.66-0.577 0.08 = 0.61R1+R2+R3+RKk.R控制圖 中心線 CLR = R = 0.08 控制上限 UCLR = D4R = 2.115 0.08 = 0.17 控制下限 LCLR = D3R = 0 0.08 = 07.將所求出之各X值及R值點

12、入控制圖上並將相鄰兩點用 直線連接8.制程狀態檢討9.記入其它留意事項. .建立控制用控制圖1.記入必要事項 如制品名稱、控制項目、測定單位、規格等.2.作控制界限 將經解析后之控制圖決定之控制界限繪入.3.點圖 由制程抽取樣本,測定其特性值,記錄數據,按時由順序點入.4.安定狀態之断定5.采取措施6.控制界限之重新計算.控制圖的判讀制程能否在控制狀態可用以下原則判斷:1.控制圖上的點都出現在控制界限內側,並沒有特別排法 時,原則上認為制程是正常.這種狀態謂之控制狀態.2.控制圖上有點超出控制界限外時,就判斷制程有了異常 變化,這種狀態謂之非控制狀態.3.控制圖上的點雖未超出控制界限,但點的出現有以下法 時,就判斷有異常缘由發生. (a)點在中心線的單側連續出現7點以上時 (b)出現的點連續11點中有10點,14點中有12點,17點中 14點,20點中16點出現在中心線的單側時. 7點連續上升或下降的傾向時 (d)出現的點,連續3點中有2點,7點中有3點,10點中有4點 出現在控制界限近旁(2線外)時.(e)出現的點,有周期性變動時.(f) 3點中有2點在A區或A區以外者(g) 5點中有4點在B區或B區以外者.(h) 有8點在中心線之兩側,但C區並無點子者(i) 連續14點交互著一升一降者.