SPC统计制程管制讲义ppt课件

1、SPC统计制程控制讲义博迪企业管理顾问.预防和检测预防：是为防止潜在不合格或其他潜在不期望情况发生所采取的行动。检测：经过检查或重新检查任务来找出错误。检测容忍浪费预防防止浪费.有反响的过程控制系统模型.过程控制系统过程的性能取决于供方与顾客的沟通，过程设计及实施的方式以及动作和管理的方式等，其它部分只在坚持和提高时才有用。过程本身过程特性及内在的变化是关怀重点。对过程采取措施，包括改动操作或者改动过程本身更根本的要素或整个过程的设计。当输出不能满足顾客要求时，应对输出采取措施。.普通缘由及特殊缘由的定义普通缘由：是指呵斥随着时间的推移具有稳定的且可反复的分布过程中的许多变差的缘由。特殊缘由：

2、是指呵斥不是一直作用于过程的变差的缘由；即它的出现将呵斥整个过程的分布改动。并非一切的特殊缘由对过程都是无益的。.变差的普通缘由及特殊缘由.普通及特殊缘由与过程的关系.部分措施和系统采取措施简单的统计过程控制技术能检查变差的特殊缘由，也能指明变差的普通缘由的范围。.过程控制和过程才干过程在统计控制下运转指的是仅存在呵斥变差的普通缘由。只需过程受控才干计算过程才干。普通受控的过程服从可预测的分布。过程可根据能否可接受和能否受控进展分类。.过程控制和特殊缘由.过程才干和普通缘由.才干指数才干指数分为两种：短期和长期。短期才干以一个操作循环中获取的丈量为根底的，一是用来解析过程初期才干，一是用于机器

3、才干研讨。PPK长期才干研讨包括在足够长的时间所进展的丈量，数据包括一切能估计到的变差的缘由。用来描画一个很长的时期内能否满足顾客的要求。CP、CPK、CPM等没有一个单独的指数可以适用于一切过程，也没有一过程可以只经过一个单独的指数完好的描画.过程改良循环的各个阶段.控制图过程控制的工具.控制图的益处.第二章：计量型数据控制图.计量型和计数型控制图区别什么是计量值？什么是计数值？为什么计量型控制图得到广泛的运用？如何确定对哪些数据进展控制？.R控制图运用前的预备A、搜集数据B、计算控制限C、过程控制解释D、过程才干解释.运用前的预备.A.搜集数据A.1选择子组大小、频率和数据a.初期研讨子组

4、普通由45件延续的产品且代表单一的工程因子。b.在过程初期研讨中通常是延续进展分组或是在很短的时间进展分组。可以是每班2次，每小时一次等。c.子组大小：越多越好，普通包含100或更多单数的25个或更多个子组可以很好地检验过程稳定性或得到过程位置和分布宽度的有效的估计值。.A.搜集数据A.2建立控制图及记录原始数据1.普通在上R图在下，和R值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标，数值、极差、均值点纵向对齐。2.数据栏应包括每个读数的空间，读数的和、均值、极差及日期时间或其他识别了组的代码的空间。A.3计算每个子组的均值和极差.A.搜集数据(A.2例如.A.搜集数据A.4选择控制图的刻度 1.控制图

5、的纵坐标是和R的量测值。 2.对于图，坐标上的刻度值最大和最小值之差应为初期子组均值的最大值和最小值的2倍。 3.对于R图，刻度值应从最低为0开场，到初始阶段所遇到的最大极差的2倍。A.5将均值和极差分别画到控制图上。 1.将各点用直线衔接起来从而得到可见的图形和趋势。 2.应确认计算和画图能否正确，且确保所画的和R点在纵向是对应的。 3.初期操作控制图是仅允许用于现场中没有控制限的控制图，且应清楚标明“初期研讨字样。.A.搜集数据.B.计算控制限首先计算R图的控制限再计算图的控制限B.1计算平均极差及过程均值在研讨阶段，计算：.B.计算控制限B.2计算控制限为什么计算控制限？UCLRD4 L

6、CLRD3 UCLA2LCL A2 式中D3、D4、A2为常数，它们随样本容量的不同而不同，以下为样本容量从210的一个表。对于样本容量小于7的情况，LCLR在技术上为一个负值，即对于一个样本数为6的子组，6个一样的丈量结果是成立的。2.链图.B.计算控制限B.3在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线。将平均极差和过程均值画成程度实线，各控制限LCL、UCL、UCLR、LCLR画成程度虚线，把线标上记号，在初始研讨阶段，这些被称为实验控制限。.C.过程控制解释过程在受控时零件间的变异性和过程均值坚持现有的程度，而且数据中不会出现与与随机变化明显不同的图形或趋势。C1分析极差图上的数据点。为什

7、么首先分析R图？a.有超越控制限的点。.C.过程控制解释b.链图延续7点位于平均值的一侧。.C.过程控制解释b.链图延续7点上升后点等于或大于前点或下降。.C.过程控制解释c.明显的非随机图形。各点与的间隔：1.显著大于2/3的点落在控制限的中间1/3的区域内对于25个子组大约90%的点落在控制限的1/3的区域内。2.显著大于1/3的点会落在其外的2/3的区域内对于25组子组，假设有60%或多于60%的点落在其外的1/3区域。3.留意不要过分解释数据。.C.过程控制解释c.2识别并标注特殊缘由极差图1.对于数据内每个特殊缘由进展标注，作过程操作分析，确定缘由并改良对过程的了解，采取纠正条件并防

8、止它发生。2.控制图本身就是问题分析工具。3.及时分析问题是将消费的不合格减少到最低以及获得诊断用新证据的方法。4.对过程的解释最终在于过程以及与之有关的人。.C.过程控制解释.C.过程控制解释C.3重新计算控制限1.在初次过程研讨或重新评定过程才干时，失控的缘由已被识别和消除或制度化，应排除一切受已被识别并处理或固定下来的特殊缘由影响的子组，重新计算控制限，以确保一切的极差点为受控，否那么反复、纠正、重新计算过程。2.极差受控时我们以为过程的分布宽度子组内的变差是稳定的。.C.过程控制解释c.4分析均值上的数据点。均值在受控形状，其变差便于极差图中的变差系统的普通缘由有关。如没有受控，那么存

9、在呵斥过程位置不稳定的特殊缘由变差。.C.过程控制解释a.超出控制限的点。阐明什么？1.控制限或描点错误。2.过程已改动或是在当时的那一点能够是一件独立的事件或是一种趋势的一部分3.丈量系统发生改动例如:不同量具或检验员.C.过程控制解释b.延续7点在平均值的一侧。7点延续上升或下降。1.标注这些促使人们作出决议的点，从该点做一条参考延伸到链的开场点。分析时应思索开场出现变化趋势或变化的时间。2.与均值有关的链通常阐明出现以下一种或两种情况：过程均值已改动也许还在变化丈量系统已改动飘移、偏倚、灵敏度等。.C.过程控制解释c.明显的非随机图形大约2/3的点落在1/3区域，1/3点落在2/3区域；

10、1/20的点应落在控制限较近之处，1/150的点落在控制限之外。远大于2/3的点落在均值附近，调查以下情况：1.控制限或描点计算错或描错或重新计算错2.过程或取样方法分层，每个子组包含从两个或多个具有不同均值的过程流的丈量值。3.数据已被编辑。.C.过程控制解释远小于2/3的点落在平均值的附近，应调查以下情况之一或两者：1.控制限或描点计算错或描错。2.过程或抽样方法呵斥延续的子组中包含从两个或多个不同过程流的丈量值这能够是由于对可调整的过程进展过度控制呵斥的。3.假设存在几个过程，应分别识别和追踪。.C.过程控制解释.C.过程控制解释c.5识别和标注特殊缘由均值图c.6重新计算控制限假设没有

11、明显的证听阐明已发现过程的特殊缘由，任何的“纠正措施能够添加而不是减少过程输出的总变异。c.7为了继续进展控制延伸控制限。子组容量的变化将影响期望的平均极差以及极差和均值图的控制限。为了调整新的子组样本容量对应的中心线和控制限，应采取以下的措施：.C.过程控制解释a.估计过程的规范偏向用表示用现有的子组容量计算：/ d2 d2 是随样本容量变化的常数b.按照新的子组容量查得系数d2D3D4A2 ，计算新的极差和均值控制限： .D.过程才干解释过程才干反映普通缘由引起的变差，并且几乎总是要对系统采取管理措施来提高才干。任何才干分析技术，不论它看起来多么准确，也只能得到大约的结果，缘由：1.总是存

12、在抽样变差。2.没有“完全受控统计控制的过程。3.没有一个实践的输出“准确服从正态分布.D.过程才干解释D.1计算过程的规范偏向 = /d2D.2计算过程才干过程才干是指按规范偏向为单位来描画的过程均值与界限的间隔，用Z表示。对于单边容差，计算：.D.过程才干解释对于双向容差，计算：Z为负值阐明过程均值超越规范。可用Z值和规范正态分布表来估计多少比例的输出会超出规范值.D.过程才干解释对于单边容量查找超出规范的百分比:PZPZUSL对于双边容量超出规范的百分比：PZPZUSLPZLSLZMin也可以转化成才干指数CPK，按以下公式：.D.过程才干解释.D.过程才干解释.D.过程才干解释D.3过

13、程才干评价：.D.过程才干解释.D.过程才干解释D.4提高过程才干为了提高过程才干，必需注重减少普通缘由。D.5对修正的过程绘制控制图并分析。1.控制图是验证措施能否有效的一种方式。2.在变化时期的一切不稳定的要素都能处理后，应评定过程的才干并将它作为操作新的控制限的根底。通常情况下，变化后用25个子组的数据足以建立新的控制限。.均值和规范差图S图 与Xbar-R图一样 S图检出才干较R图大，但计算太费事 普通样本大小n小于9时运用R图，n大于9 运用S图 配合电脑运用.均值和规范差图S图.中位数图R可用来替代R图。可以用来对几个过程的输出或同一过程的不同阶段和输出进展比较。中位数易于运用，并

14、不要求很多计算。中位数可显示过程输出的分布宽度并且给出过程变差的趋势。.中位数图R.单值和挪动极差图XMR图单值挪动极差控制图数据不能合理分组时运用在以下情况可运用 一次只能搜集到一个数据，消费效率及损耗率 制程质量极为均匀，不需多取样本，如液体浓度 获得测定值既费时本钱又高，如复杂的化学分析及破坏性实验.计数型控制图.不合格率P图A.搜集数据B.计算控制限C.过程控制用控制图的解释。D.过程才干解释。.A.搜集数据A.1选择子组的容量，频率及数量a.子组容量：普通要求比较大。50200或更多。子组容量恒定或它们不超越25%b.分组频率：根据产品的周期确定，频率快比较好。c.子组数量：搜集时间

15、应足够长普通，应包括25个或更多。.A.搜集数据A.2计算每个子组内的不合格率P.A.搜集数据A.3选择控制图的座标刻度不合格率为纵座标，子组辨以为横座标。纵座标为最大不合格率的1.52倍。A.4将不合格品率描画在控制图上1.描点并连线以发现异常图形和趋势。2.检查描点能否合理，重点是高或低很多的点。3.记录过程中的异常于控制图中的“备注部分.B.计算控制限B.1计算过程平均不合格品率.B.计算控制限B.2计算上下控制限UCL，LCL.B.计算控制限B.3画线并标注以上适用于子组容量一样的情况下，但实践各子组的容量与其平均值相差不超越25%时，可用样本容量来计算控制限。.B.计算控制限超越25

16、%时，找出样本容量超出该范围的一切子组：.C过程控制用控制图解释C.1分析数据点，找出不稳定的证据a超出控制限的点.C.过程控制用控制图解释b链当n 9时1.延续7点位于均值一侧，2.延续7点上升或下降。.C.过程控制用控制图解释.C过程控制用控制图解释c.明显的非随机图形.C过程控制用控制图解释.C过程控制用控制图解释C.2寻觅并纠正特殊缘由C.3重新计算控制限。.D过程才干解释D.1计算过程才干过程才干由平均不合格品率来表示的。对过程才干的初步估计值，运用历史数据。正式研讨过程才干时，运用新的数据最好25组。D.2评价过程才干假设现有的平均才干程度不可接受时，那么直接对过程本身分析并采取措施。.D过程才干解释D.3改良过程才干过程受控时，过程不合格的平均程度反映了系统变差的缘由过程才干。D.4绘制并分析修正后的过程控制图对过程采取系