TS169492009-SPC统计过程控制培训教材(第二版)-最新版ppt课件

1、TS16949：2021-SPC统计过程控制培训教材第二版1.课程内容SPC定义质量管理的开展历程SPC统计实际根底常用分布简介正态分布中心极限定理过程变差SPC控制图计量型控制图计数型控制图胜利推行SPC过程才干分析过程才干计算及评价过程才干改良2.SPC的定义SPC既统计过程控制，是将一个过程定期搜集的样本数据按顺序点绘制而成的一种图示技术。注：SPC的中心是控制图；SPC可以展现过程变异并发现异常变异，并进而成为采取预防措施的重要手段。3.质量管理开展历程19世纪末20世纪30年代质量检验阶段美国以泰勒为首的科学管理任务者初次将质量检验作为一种管理职能从消费中分别出来，建立了专职检验制度

2、。20世纪4050年末统计质量控制阶段美国贝尔实验室学术担任人休哈特博士经过对西方电气公司所制造的产品变异或动摇的关注的研讨，提出统计过程控制实际SPC,并在1924年首创过程控制的工具控制图。4.SPC在现代企业质量管理体系中的运用SPC是过程控制的重要手段；SPC曾经成为汽车行业质量管理体系的必需求求；SPC也是六西格玛改善工程中的必备工具。日本名古屋大学在1984年调查115家日本企业，发现每个企业平均运用张控制图。5.SPC的统计实际根底常用概率分布简介延续型分布：正态分布：当质量特性随机变量由为数众多的要素影响，而又没有一个要素起主导作用的情况下，该质量特性的值的变异分布，普通都服从

3、或近似服从正态分布。离散型分布：二项分布：一个事物只需两种能够的结果，其值的分布普通服从二项分布；泊松分布：稀有事件的概率分布普通服从柏松分布。6.SPC的统计实际根底常用统计量引见总体研讨对象的全体称为总体Population；样本从总体中抽取一部分个体进展察看，被抽到的个体组成了总体的一个样本Sample。7.i()SPC的统计实际根底样本样本来自总体，样本中包含了丰富的总体信息，研讨样本的主要方法是构造样本函数，不含未知参数的样本函数称为统计量Statistic，统计量的分布称为抽样分布。(1)描画中心位置的统计量：设X,X,X是来自总体的一个样本，那么样本均值sample mean:X

4、=1nni=1X样本中位数sample mean:X=Xn+12X=1X2(n2)+X(n2+1 )8.n2iSPC的统计实际根底样本(1)描画动摇的统计量:样本极差sample range:R=X(n)X( 1 )样本方差sample variance:S=1n1(Xi=1X2)样本规范偏向standard deviation:S=S29.2SPC的统计实际根底正态分布的特性和运用质量管理中最常遇到的延续分布是正态分布，能描画很多质量特性X随机取值的统计规律性，正态分布的图形及概率密度函数为：p(x)=12e(x)2/ 2,x(,+)10.SPC的统计实际根底正态分布的特性和运用过程关键质量

5、特性X经常呈正态分布N(,2),其中为均值，为规范偏向，在与知时，正态分布的概率特征如下：正态分布的概率特征界限+-k+-0.67+-1+-1.96+-2+-2.58+-3+-4界限内的概率%50.0068.2695.0095.4599.0099.7399.99界限外的概率%50.0031.745.004.551.000.270.006311.eSPC的统计实际根底规范正态分布为了便于运用，我们把=0，=1的分布称为规范正态分布Standard normal distribution，记为N(0,1),所以，规范正态分布的密度函数为：(x)=12x2/ 2,x(,+).iiSPC的统计实际根底

6、中心极限定理设X1,X2,.,Xn是n个独立分布的随机量，分布的均值为，方差为2，那么在n较大时，有(1 )X1+X2+.+Xn=ni=1X近似服从均值为n，方差为n2的正态分布。( 2 )X=X1+X2+.+Xnn=1nni=1X近似服从均值为，方差为2/n的正态分布。13.SPC的统计实际根底问题1：规范正态分布有什么好处？问题2：假设总体的方差为，我们从中抽取五个产品为一组的样本25个，请问样本均值的方差是什么？14.SPC的统计实际根底过程 ：经过运用资源和管理，将输入转化为输出的活动ISO9001:2000定义包括么?(物,机器)(三)包括谁?(能/技艺/培训)(四)输入()需优质产

7、品过程(一)运作过程输出(七)优质产品怎样?(方法/步骤/技巧)(二)包括么关键准那么?(/评价)(五)15.SPC的统计实际根底人们对于过程变差有以下认识：一个过程内有许多动摇源存在；每个动摇源发生是随机的，时隐时现，时大时小，以不可预测之势影响着过程输出；消灭动摇是不能够的，但减少是能够的；管理和操作任一过程就是要把动摇限制在允许范围内，超出范围就要设法减少和及时报告；为了进一步认识动摇源和减少变差，人们把引起过程动摇的缘由分为两类：第一种为随机变异，由“偶尔缘由引起 ，又称“普通缘由；第二 种为过程中的实践改动，由“特殊缘由引起，又称为“异常缘由。16.SPC的统计实际根底问题1：请举例

8、阐明在实践任务中出现的随机缘由和特殊缘由？17.SPC控制图SPC控制图 由 休哈特于1924年提出，他以为，在一切制造过程中所呈现的动摇有两个分量：第一个分量是过程内部引起的稳定分量即偶尔动摇；第二个分量是可查明缘由的延续动摇异常动摇；休哈特建议用界限作为控制限来管理过程，基于限的控制图可以把偶尔动摇和异常动摇区分开来。18.SPC控制图为了便于纪录质量随时闲动摇情况，休哈特建议将正态分布图逆时针旋转90度，于是就构成了控制图。控制上限AB中心线控制下限ABCC19.SPC控制图SPC控制图的要素数据点按时闲顺序陈列：是延续或离散型数据，每个数据点可以代表样本的单个丈量值，也可以是样本的某个

9、统计量；中心线：样本的平均值；控制界限：上控制限Upper Control Limit和下控制限LowerControl Limit标示出了分布的正负3个的范围；规格界限：质量特性的上限规范限，有上规格界限UpperSpecification Limit和下规格限Lower Specification Limit。控制界限和规格界限有什么区别？20.SPC控制图SPC控制图对发现异常的两种风险控制图是利用从总体中抽取的样本数值进展判别的，既然是抽样，就会产生风险；错判是虚发警报的错误：也称为第I类错误，即在过程正常的情况下，依然存在由于偶尔缘由呵斥数据点超出控制限的情况，从而呵斥将一个正常的总

10、体错判为不正常,这种错误通常用表示；漏判是漏发警报的错误：也称为第II类错误，在过程存在异常变异时，如被监控的总体的均值或规范偏向发生改变，仍会有一部分数据在上下控制限之内，从而发生漏报的错误,这种错误用表示。21.SPC控制图错报SPC控制图对两种风险预防漏报处理方案错报：3控制限漏报：判别准那么22.SPC控制图SPC控制图对两种错误的预防错判是虚发警报的错误：由于偶尔缘由呵斥数据点超出控制限的情况，从而呵斥将一个正常的总体错判为不正常，在控制限为正负3情况下，这样的概率小于3；漏判是漏发警报的错误，也就是判别当数据点在控制限内的异常，所以，SPC添加了对界内数据点趋势的判别准那么。23.

11、SPC控制图过程异常判别准那么过程典型的判别准那么有以下几种：延续3点至少有2点接近控制限；延续7点在中心线的一侧；延续8点落在中心线两侧且无一在C区内；至少有7点延续上升或下降；24.23SPC控制图过程异常中各种方式出现的概率延续3点至少有2点接近控制限；P=C3(0 .0433)( 0 .954 )+C3(0 .0433)0 .005延续7点在中心线的一侧；P=2( 0 . 4985)7=0 . 0153延续8点落在中心线两侧且无一在C区内；P=( 0 . 5872 )8=0 . 000103至少有7点延续上升或下降；P=27 !( 0 . 997 )7=0 . 0003925.控制图的

12、分析练习题上控制界限(UCL)区域A区域B区域C区域C区域B区域A中位线(CL)下控制界限(LCL)26.控制图的分析答案超出控制界限区域A区域B区域C区域C区域B区域A五个续点中有四个在此区域内八个续点此区域内上控制界限(UCL)七个点续向上中位线(CL)下控制界限(LCL)三个续点中有二个在此区域内27.SPC控制图消费现场中常用到的两种不同的数据类型计量型数据:长度，分量，时间，强度，成份计数型数据计件型数据:计点型数据:不合格品数,不合格品率疵点数,灰尘微粒数28.SPC控制图的种和选择据缺陷计值品计值c-控制图u-控制图p-控制图np-控制图X-R控制图X-s控制图X-R控制图固定的

13、样本可变的样本可变的样本固定的样本样本2 n 7个别值29.pcu控制图的用途控制图x-R及x-sx-Rnp用途用作样本平均值转变的制图全距和规范偏向控制图是控制据的分布程用作个别样据转变的制图全距控制图是控制据的分布程用作每一样本组品比的制图样本可以改动用作每一样本组品目的制图样本是固定的用作缺陷目的制图，而每次查验的面积是一样的样本是固定的用作单位缺陷目的制图，而每次查验的面积都可以改动的代表样本的平均值单个数据品的比或百分比品目疵点目每单位疵点目样本是可变的30.SPC控制图案例假设某消费线的产品为PCB，请用控制图对产品的各个质量特性分别进展控制：PCBPrint Circle Boa

14、rd印刷线，按照线路层多少来分又可分为单层板、二层板、四层板、六层板等不同的板。对不同层数的PCB板，其生产流程都要经过以下工序:31.蚀刻电镀SPC控制图案例PCB工序流程图开料切板内层干菲林排版、压板钻孔绿油黄油工序作用及监控参数对进初步加工，按需求成同规格的板，并打上批号。干菲主要是把线图像印在板上，在此需求控制H2SO4浓、酸洗压、磨痕宽、烘干温、膜宽、曝光能等。此工序完成后采用自动光学检查AOI或人工目检100%，看能否有短、开、线缺口、蚀刻清、崩孔等缺陷。此工序是将多个曾经印上线的双层板进排序以及热压。钻孔主要是为导通多层板的线主要是对上工序钻的孔镀铜。在此对于孔内、板面的镀层厚、

15、化学反响缸的PH值、化学药品浓等都要进控制。对最终的板面进涂覆，起到维护线板、提高以后的焊接性能的作用。本工序需求控制的有酸洗时H2SO4浓、热风温、显影机药水压和温、烘干温等。白字32.SPC控制图案例PCB生 产 线 质 量 特 性 统 计质量特性数据类型控制图类型开硫酸磨烘曝料酸洗痕干光尺浓压宽温能寸度力度度量计量计量计量计量计量计量均值极差单值挪动差单值挪动差均值极差均值极差均值极差短开路路计计点，计点，计件件C图或P图C图或P图线蚀崩缺刻孔口不清计计计点，计点，计点，计件件件C图或P图C图或P图C图或P图孔版化化酸热显显内面学学洗风影影镀镀反药的炉机机层层应品硫温药药厚厚冈浓酸度水水

16、度度PH值度浓度压力温度计量计量计量计量计量计量计量计量单值挪动差单值挪动差单值挪动差单值挪动差单值挪动差均值极差单值挪动差单值挪动差33.控制图做成步骤选择质特性选择可的，具有代表制程控制的特性，可以考以下的指引：优先选取经常出现次品的质特性；可以用柏图分析法去决议优先次序别工序的变要素和对成质量的影响，继而决议运用控制图的消费工序。34.质量特性选择我们选择PCB如下质量特性或工序为例作控制图开料尺寸硫酸浓度短路废品检查35.xi均値Ri计量控制图控制限计算公式均值极差控制图均值控制图控制限上控制限(UCLx)=x+A2R下控制限(LSLx)=xA2R极差控制图控制限上控制限(UCLR)=

17、D4R下控制限(LSLR)=D3R注:x=kx一切抽样组平均値的平xi第i个抽样组的平均値k样本个数(组数)注：R=kRi第i个控制分组的全距R一切样本的平均全距k样本个数(组数)36.计量控制图控制限计算公式附表休哈特系数表样本目2345678910A21.8801.0230.7290.5770.4830.4190.3730.3370.308样本目2345678910D3000000.0760.0.1840.223D43.2672.5742.2822.1142.0041.9241.8641.8161.77737.x=xsii计量控制图控制限计算公式均值规范偏向控制图均值控制图控制限上控制限(

18、UCLx)=x+A3S下控制限(LSLx)=xA3S规范偏向控制图控制限上控制限(UCLs)=B4S注:&s=k kxi第i个抽样组的平均値si第i个抽样组的规范偏向s一切样本的平均规范偏向k样本个数(组数)下控制限(LSLs)=B3S38.计量控制图控制限计算公式附表休哈特系数表样本目2345678910A32.6591.9541.6281.4271.2871.1821.0991.0320.975B300000.0300.1180.1850.2390.284B43.2672.5682.2822.0891.9701.8821.8151.7611.71639.计量型控制图做成步骤选取样本组搜集据

19、设定全距之控制界限全距在统计控制之内设定平均值之控制界限平均值在统计控制之内设定控制界限继续监控确定抽样方法、数目、次数合理子组原那么以子组为单元搜集数据，选择子组容量，个数，间隔；计算副控制图控制限假设没有在控制范围内，重新搜集数据确定主控制图控制限假设没有在控制范围内，重新搜集数据用既定控制限控制质量特性40.计量型控制图做成步骤合理子组原那么合理子组原那么是休哈特提出的控制图实际之一，它的内容是：在抽取样本时要使组内动摇由正常缘由引起；组间动摇由异常缘由引起。为了实现此原那么，要在短的时间内将一个子组全部抽取，这样就可以防止异常要素进入子组。搜集数据以子组为单位搜集数据：选择子组容量、子

20、组个数、子组间隔。子组容量：普通以4到5个为宜；子组个数：普通以20到25个为宜；子组间隔时间：没有一致规定，要视产量而定，详细如下表：41.计量型控制图做成步骤子组间隔的普通原那么每小时产量1-1010-1920-4950以上搜集数据子组间隔时间8小时4小时2小时1小时42.123456789开料尺寸计量型控制图例如数据搜集：按照数据搜集的普通法那么，共抽取了子组容量为5个，共25组样本。质量特性数据样本序号Xi1Xi2观测值Xi3Xi4Xi5样本极差 样本均值10.3210.2310.1410.5610.9810.2310.6010.8010.2410.3410.2510.1610.631

21、0.6710.2510.6710.4510.3310.5010.249.9810.6010.8010.2410.5010.2310.2310.5710.4510.3310.6711.0110.2310.3310.2510.6010.6010.5010.4010.5010.6010.2210.1610.2410.970.280.270.420.170.410.030.510.570.7410.46610.33410.20210.59210.81210.23410.45210.39410.47410111213141516171819202122232410.5010.2310.2310.1410

22、.0511.0110.4510.4510.4510.4510.2310.1410.8010.2410.5010.6711.0110.2510.8010.2310.6010.2310.2310.2310.2311.0110.8010.6010.6010.5010.1410.6010.2411.4611.0110.6710.2510.2510.2510.2510.6011.4610.6710.6710.6710.8010.6710.6010.2510.6010.8010.2510.2510.9710.2510.5010.5010.8010.8010.1611.4610.5010.9710.2410

23、.9711.4610.2410.2410.9710.2410.6710.6710.3310.409.981.320.780.741.320.960.840.220.781.320.470.560.6910.71410.60210.45810.57810.57210.90810.28410.28410.57410.28410.60210.71410.6410.54210.3622510.2310.169.9810.3310.400.4210.2243.计量型控制图做成步骤计算副控制图控制限练习上控制限(UCLR)=D4R下控制限(LSLR)=D3R44.45计量型控制图做

24、成步骤测试控制限能否一切的全距据都包括在控制界限内是是把这一个至个的平均值和全距据弃置再计算X，R和否能否祇有一至个全距据超出否三个或以上的全距据超出界限全距在控制范围全距控制界限要计算平均值界限能否包括在界限内处理变缘由全距受控制是计算平均值的界限控制否搜集新据计算新全距界限.计量型控制图做成步骤计算主控制图控制限练习上控制限(UCLx)=x+A2R下控制限(LSLx)=xA2R46.SampleMeanSampleRange_均值极差控制图例如PCB开料尺寸均值极差图1UCL=10.873310.810.6_X=10.491910.410.2LCL=10.110510.0135791113

25、151719212325样本1.6UCL=1.3981.20.8_R=0.6610.40.0LCL=0135791113151719212325样本TEST 1. One point more than 3.00 standard deviations from center line.Test Failed at points: 1547.硫酸浓度计量型控制图例如数据搜集：按照数据搜集的普通法那么，共抽取了子组容量为1个，共25组样本。硫酸浓度质量特性数据样本序号观测 值X i 1样本极差样本均值113 . 3 213.3223456789111111113 . 3 43 . 5 03 .

26、5 73 . 6 03 . 4 03 . 2 53 . 2 43 . 4 500000000.01002102267305111111111133333333.35564224407005451111111111222222012345678901234511111111111111113 . 5 03 . 3 03 . 3 03 . 4 03 . 3 33 . 4 03 . 5 63 . 6 33 . 6 03 . 6 73 . 5 03 . 6 03 . 6 73 . 7 03 . 5 03 . 6 00000000000000000.020100100011002150007767377

27、0730011111111111111113333333333333333.5334345666566756000030630700700048.x=xi单值挪动差的控制限的计算单值控制图控制限上控制限(UCLx)=x+2.660R s下控制限(LSLx)=x2.660R s挪动极差控制图控制限上控制限(UCLx)=3.267R s下控制限(LSLx)=0注:&Rs=xi+1xikxi第i个抽样値x一切样本的平均值k样本个数Rs挪动极差Rs挪动极差平均值49.单值挪动差的控制限的计算单值控制图控制限上控制限(UCLx)=x+2.660R s下控制限(LSLx)=x2.660R s挪动极差控制图

28、控制限上控制限(UCLx)=3.267R s下控制限(LSLx)=0同样要经过测试控制限50.IndividualValueMovingRange单值挪动差的控制图例如硫酸浓度控制图13.80UCL=13.736513.6513.5013.3513.20_X=13.4772LCL=13.2179135791113151719212325Observation0.0UCL=0.3186_MR=0.0975LCL=0135791113151719212325Observation51.计数型控制图计点型控制图控制一定对象如长度或面积上面的缺陷数；如：铸件外表的气孔数；产品外表上的

29、划痕数；产品疵点分布服从泊松分布，可近似正态分布处置。计件型控制图对产品的不良率进展监控时运用的控制图;适用于全检零件时的统计控制。质量特性的良与不良通常服从二项分布，也可以近似于正态分布处置;52.选定运用何种计型控制图决议样本(n)否样本(n)是否一个常是否是品而是否是品而是是缺陷是缺陷运用u-控制图运用p-控制图 运用c-控制图运用np-控制图53.U-控制图作成步骤选择质特性选取样本组搜集据设定之控制界限在统计控制之内以控制界限继续监控54.ncuu55u-控制图作成步骤u-控制图控制界限中心线CL=u=上控制界限下控制界限UCLLCL=u+3=u3uniuni注:u=cinici第i

30、个控制分组的缺陷数数 目ni第i个控制分组的样本数目u一切样本的平均单位缺 点数.ccic-控制图作成步骤c-控制图作成步骤中心线:CL=C上控制界限下控制界限注:UCL:LCL=C+3C=C3CC=kCi=1kCi第i个样本的缺陷数数目k样本个数C一切样本的平均缺陷数56.u-控制图的运用为了控制波峰焊对电路板的焊接质量,用U-图对电路板的不良焊点数目进展控制,每次抽取的样本随批量的不同而不同,详细数据如下,请做出U控制图.S a m p l eN o .S a m p l eQ t yD e f e c tQ t y1234567891 01 11 21 31 41 51 61 71 81

31、 92 02 12 22 32 42 51 21 11 21 31 41 2781 21 31 42 53 21 27571 21 11 01 21 11 31 41 357637828891 262 01 23466791 01 21 21 21 057.u-控制图作成步骤125510以第一组为例计算出样本的中心线和上下控制限中心线CL=u=cn=204=0 .654312上控制界限UCLu=u+3u=ni0 .654+30 .656=121 .354下控制界限LCLu=u3u=ni0 .65430 .656= 120 .046=058.PCB板板面短路统计表SampleNo.SampleQ

32、tyDefectQtyCLUCLLCLDatepoint12345678121112131412785763782800000000.6666666655555555444444441.354121.385261.354121.326651.302171.354121.570721.5115-0.046-0.078-0.046-0.0190.0055-0.046-0.263-0.2040.4160.63600.23000.6660.285666363.5769.5666714166763623166728691011121314151617181920121314253212757121110

33、891262012346679000000000000.6666666666665555555555554444444444441.354121.326651.302171.011.082681.354121.570721.738711.570721.354121.385261.42096-0.046-0.0190.00550.16870.225-0.046-0.263-0.431-0.263-0.046-0.078-0.16666692307571420.240.6251285710.8571420.5363630.966769285742985763

34、621222324251211131413101212121000000.6666655555444441.354121.385261.326651.302171.32665-0.046-0.078-0.0190.0055-0.01901000.80987333339090923076571426923030987392563137959.SampleCountPerUnit样本PCB板短路质量特性单位缺陷控制图U Chart of C1.21.00.20.0UCL=1.327_U=0.654LCL=0135791113151719212325Sample

35、Tests performed with unequal sample sizes60.p-控制图作成步骤选择质特性选取样本组搜集据设定之控制界限在统计控制之内以控制界限继续监控61.PP62p-控制图作成步骤p-控制图的控制限中心线CL=p上控制界限下控制界限(UCL(LSL)=p+3)=p3p(1p)nip(1p)ni注:p=dinidi第i个控制分组的不良品数目ni第i个控制分组的样本数目p一切样本的平均不良率.inp-控制图作成步骤np-控制图控制限中心线CL=n p上控制界限(UCLnp)=n p+3n p(1p)下控制界限(LSLnp)=n p3n p(1p)注:n p=dkdi第

36、i个控制分组的不良品数目n样本数目k样本个数n p一切样本的平均不良数p样本的平均不良率63.PCB废品合格率控制图例如数据搜集：按照数据搜集的法那么，共抽取了共25组样本。PCB成 品 检 查 不 合 格 率 数 据样 本 序 号检 查 数 量Xi1不 良 数 量不 良 率1234567891011121314151617181920212223243202802603703003103153002902902903003003103153002902903003103153002902903.005.004.007.003.006.007.006.003.006.002.005.0010.

37、0010.0013.0015.0015.0015.006.0010.009.0015.0010.0015.00011111221201334555232535.985909200177321022029042%2530010.003.3%64.ProportionP-控制图例如P C B废品检查控制图0.06UCL=0.056380.050.040.030.020.010.00_P=0.02787LCL=0135791113 151719212325样本Tests performed with unequal sample sizes65.控制界限的新初期用作计算的工序质特性，能够会随着环境而

38、转变。故想做法为对控制界限作定期检讨。定期检讨和能否重新计算的需求会视符工序和操作情况的转变而定。在下的情况重新计算控制界限运用新的工序运用新的机器运用新的物现时的工序情况有改动机器操作的情况有改动66.否统计制程控制的推步骤订定制程评价制程能改善能决议主要制程评核有关测试能能可接受能可接受是制定控制图制定OCAP否改善能是正式推OCAP - OUT OF CONTROL ACTION PLAN(受控应对方案)67.胜利推行SPC应留意的问题缺乏中层管人员的支持过于着重计算机的协助对质量控制图的讯息，没有适当的反响“制程能与“制程控制混淆在一同-“据都在规格内，为何控制图竟明受控用受控制程所得

39、的据，设定控制界限没有订定OUT-OF-CONTROL-ACTION-PLAN受控应对计划，对受控制程的出现没有系统性的应付方法没有实时记及处所得据68.过程才干分析过程才干运用过程才干和过程绩效分析是评价过程满足预期要求才干及其表现的方法；过程才干的测定也是六西格玛改善工程中丈量阶段的重要任务之一；过程才干也是客户评价组织过程的重要参数。世界五百强几乎一切的制造企业中对其供货商都有过程才干方面的要求。69.过程才干分析确定过程才干的要素要素1：过程的输出特性：确定要研讨的质量特性。过程才干就是过程特性满足规定要求的才干；要素2：过程规范：顾客 内部或外部对过程输出特性的要求；即要明确目的值和

40、规范限。对制造企业来说，这点比较容易做到；但对于非制造业企业，工程团队要设法明确过程规范和要求；要素3：抽样方案：确定抽样方案可以反映过程的特定形状；要素4：过程能否属于稳定的正态分布：属于正态分布的过程普通是稳定并统计受控；对非正态分布，要进展坐标变换。过程才干分析就是在识别上述要素的根底上，运用统计工具展开的。70.过程才干调查及改良的步骤明确目的分析数据确定成员否过程能否是稳定选择特性查找异常确定过程才干制定方案工序规范化改良措施过程才干缺乏确认主要缘由过程才干过剩降低本钱过程才干充足维持规范实施规范化作业确认效果起草调查报告71.过程才干分析过程才干概念过程固有动摇inherent p

41、rocess variation:是由普通缘由引起的过程动摇。这部分动摇可以经过控制图R/d2来估计；过程总动摇total process variation:是由普通和特殊缘由引起的总动摇，由过程的规范偏向来估计；过程才干PC:是过程固有动摇的6范围，此时,= R/d2;过程绩效PP:是过程总动摇的6范围，此时=s;过程才干指数Cp和Cpk:过程才干指数过程绩效指数Pp和Ppk:过程绩效指数Cp和Cpk在评价过程才干时最为常用72.R过程才干计算计量型质量特性过程才干指数Cp的计算Cp=容差过程才干=USLLSL6R=USLLSL6d273.制程能与Cp的关系工序表现Cp 2.00制程况能足够勉强可消费足够能超卓的能坏品ppm2700或以上2700至63.363.3至0.0020.002或以下74.=过程才干计算计量型质量特性过程才干指数Cpk的计算Cpk=(1k)Cp或Cpkmin(USL, LSL)375.K=过程才干分析Cpk的两个公式其实是一样意义，不同表达方式2 MT由于Cpk=CpM3其中T6TUSLLSLMUSLLSL/2USL+LSL26USLLSLUSL+LSL26当USL+LSL2时当USL+LSL2时Cpk=Cpk=LSL3USL376.=nsi过程才