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文档简介
1、SPC根底知识培训质量部.目 录 为何要开展SPC为什么统计的手法是有必要的常用SPC图表Xbar-R图引见.第一篇 为何要开展SPC1、什么是SPC2、SPC的作用.1、质量检验阶段 1900- 特点:专职检验 代表人物:泰勒 Quality Inspection full time inspection F.W.Taylor 科学管理之父:F.W.泰勒(1856-1915) 三权分立:设计制造检验聚焦于产质量量质量管理开展的三大历史阶段质量管理的开展.2、统计质量控制阶段1930- 特点:控制/预防 代表人物:休哈特、道奇、罗米格Statistical Quality Control Co
2、ntrol/Prevention W.A.Shewhart, H.F.Dodge,H.G.Romig 统计质量控制之父:W.A.休哈特(1891-1967)聚焦于过程质量.3、全面质量管理阶段 1960- 特点:全员、全企业、全过程和多样化的方法 代表人物:费根堡姆、朱兰、戴明、克劳斯比、石川馨等 Total Quality Control Total Quality Management 质量改良之父W.E.戴明(1900-1993) 质量领域首席建筑师J.M.朱兰(1904-2021 ) TQC之父A.V. 费根保姆(1920- )零缺陷管理之父P.B. 克劳斯比(1926-2001)聚焦
3、于体系质量和运营质量.什么是SPC?StatisticalProcessControl统计过程控制 .SPC能处理什么问题?.什么是SPC?.SPC的作用?识别异常动摇识别异常动摇.SPC的作用?.第二篇 为什么统计的手法是有必要的.对我们来说,在我们周围有很多的数据。 我们对此必需好好领会 批序号、检查数据、不良数、不良比例、规格仕样.找到新的智慧图表是书写也是雄辩 用数据表示现实 假设仅是获取数据的话,要把握现实的真相还有很多困难的事。正确地推导出数据所具有的信息并活用是很重要的。作为这个工具而被运用的就是QC7工具数据整理数据发现为了能读取数据所表示的意义情况.什么样的场所用什么样的统计
4、工具 現場的数据 実験数 据目的 工 具 统计工具领会数据所叙说的 是什么察看对意図性的条件変更的 特性値的变化 表示現在的形状 按优先顺序陈列 看数据的样子 使数据定量化 视觉性的归纳数据 把握数据的全体像 表示工程的实力 客观的判别 检定能否主要缘由给输出带来了影 响、効率好是要找到最适宜的条件柏拉图 直方图 平均、规范偏向箱线图分布工程才干指数检定、推定看数据间的关系 分布图、相关、回归领会从数据的块中看不到的声音 多変量解析维持形状 管理图评价测定的偏向 丈量系统分析实验设计.常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .常见统计量
5、.常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .常见统计量 .第三篇 常用SPC图表.控制图运用选择控制图的选定数据类型不良数或缺陷数单位大小能否一定“n能否一定样本大小n2中心线的性质n的大小u图c图np图p图X-MR图Xtli-R图Xbar-R图Xbar-S图计数型计量型“n=1n1中位数平均值n9缺陷数不良数不一定一定一定n9.C图:不合格数控制图;u图:单位不合格数控制图;p图:不合格品率控制图;np图:不合格品数控制图;Xbar-R图X-R):均值-极差控制图;Xbar-s图(X-s):均值-规范差控制图;X-tlide -RX-R):中位数-极差控制图;X-MR图:单值-挪动极差控制图
6、。.控制图按质量特性分 变量控制图 反映什么 X bar and R 样本平均值及极差 X bar and S 样本平均值及规范差 X-tlide and R 样本中值及极差 X-mR 单值与挪动极差 特征控制图 反映什么 P 不合格率 np 不合格数 c 不合格点数或缺陷数 u 单位不合格点数.课堂练习控制特性样本数选用何种控制图触点铆后高度5吸合电压5比重1介质耐压过/不过100每只继电器中的异物颗粒数1(继电器)Xbar-R图Xbar-R图X-MR图NP图C图.第四篇 Xbar-R图引见1、作图2、判稳.建立均值极差图 1. 选择抽样规模频率及数组个数 2. 设立图表记录原始数据 3.
7、计算各组平均值和极差 4. 确定控制图比例尺 5. 在图上绘制平均值和极差 6. 计算平均极差和过程平均 7. 计算极差和平均值的控制范围 8. 在图上绘制平均值线和控制极限线 搜集数据计算控制限.步骤A:阶段 搜集数据A1、选择子组大小、频率和数据;子组大小子组频率子组数大小A2、建立控制图及记录原始数据;A3、计算各子组均值Xbar和极差R;A4、选择控制图的刻度;A5、将均值和极差画到控制图上。.A1:选择子组大小、频率和数据: 每组样本数:2-5;国标引荐样本量是4-5 组数要求:最少25组、100个样本;频率可参考下表:每小时产量抽样间隔不稳定稳定10以下8小时8小时10-194小时
8、8小时20-492小时8小时50-991小时4小时100以上1小时2小时抽样原那么:组內变差小,组间变差大.子组:5只频率:2h记录原始数据计算每组的平均值和极差.4、选择适宜的刻度5、均值、极差分别描点5、均值、极差分别描点.A. 平均极差和过程平均平均极差(Rbar)=R 每组极差之和/极差总个数组数 过程平均Xdoublebar=X图中一切样本平均值的总和/平均值的总个数 在前面的抽样图例子中:R=(0.4+0.4+0.5+0.3+0.5+0.3+0.4+0.5+0.2+0.4+0. 1+0. 4+0.3) /13R = 0.36X=1.36+1.40+1.48+1.38+1.34+1.
9、46+1.38+1.5+1.26+1.36+1.36+1.5+1.32)/13X = 1.39.阶段 计算控制限B1、计算过程平均值和平均极差;B2、计算控制限;B3、在控制图上画出平均值和 极差控制限的控制线。作图步骤B:.作图步骤B. 计算控制限B1. 计算平均极差R及过程平均值XB2. 计算控制限平均极差和过程平均值B3. 在控制图上画出控制线。 将平均极差Rbar和过程均值Xdouble bar画成黑色程度实线,各控制限UCLR、LCLR、UCLX、LCLX画成红色程度虚线;在初始阶段,被称为实验控制限.B. 控制极限的计算 均值图控制极限 均值上限=X + A2 R 均值下限= X
10、- A2 R 极差图控制极限 极差上限=D4 R 极差下限=D3 RnA2D3D421.880-3.26731.023-2.57440.729-2.28250.577-2.11460.483-2.00470.4190.0761.92480.3730.1361.86490.3370.1841.816100.3080.2231.777.C. 均值图控制限的计算在前面抽样图例子中:n=5 X=1.39 R=0.36UCL(X)=X+A2R=1.39+0.557 0.36 =1.60LCL(X)=X-A2R=1.39-0.557 0.36=1.18D. 极差图控制限的计算在前面抽样图例子中:n=5 X
11、=1.39 R=0.36UCLR=D4 R=2.114*0.36=0.76LCL R=D3 R=0*0.36=0.过程控制分析对每个描的点C1、分析极差图上的数据点C2、识別并标注特殊缘由(极差图)C3、重新计算控制界限C4、分析均值图上的数据点超出控制限的点链明显的非随机图形超出控制限的点链明显的非随机图形C5、识別并标注特殊缘由(均值图)C6、重新计算控制界限C7、延伸控制界限继续进展管理作图步骤.作图步骤过程控制分析1.先分析极差图: 识别/标注并消除特殊缘由/重新计算控制限2.再分析均值图:识别/标注并消除特殊缘由/重新计算控制限3.在控制图上作出新的平均值和极差控制限的控制线.阶段
12、过程才干解释D1、计算过程的规范偏向;D2、计算过程才干;D3、评价过程才干;D4、提高过程才干;D5、对修正的过程绘制控制图并分析。作图步骤.D1、计算过程的规范偏向: 运用平均极差Rbar来估计过程的规范偏向: d2是 随样本容量变化的常数.D2、计算过程才干: 过程才干 是指按规范偏向为单位来描画的过程均值与规范界限的间隔,用Z表示; 对单侧规格,计算为: 对双侧规格,计算为: Z为ZUSL或ZLSL的最小值。 运用Z值和来估计多少比例的产品会超出规范值: 注: USL为公差上限,LSL为公差下限。XUSLZ-=s或 Z=X-LSLsXUSLZUSL-=s或 ZLSL=X-LSLs.过程
13、才干指数CP:只需规格下限只需规格上限双侧规格233)(6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp=-=-=-=ssss.pkC过程才干指数233),min(dRLSLxCxUSLCCCCplpuplpupk=-=-=sss.过程性能指数PpkUSLLSL.10141812161.52.51.5213CPKCPUCPLCp101418121610141812162.02.02.0214CPKCPUCPLCp1.51.52.5215CPKCPUCPLCp指数差别阐明:.图形分析没有异常动摇下,曲线处于自然变化.判异准那么判异准那么有两类:1点出界就判异;2界内点陈列不随机判异。.准那么一、点
14、出界:指超出控制界限的数据点。.准那么二、延续9点落在中心线同一侧 9单侧LCLUCLCLABCCBA.准那么三、延续6点上升或下降LCLUCLCLABCCBA.准那么四、延续14点相邻点上下交替(14升降)LCLUCLCLABCCBA.准那么五、延续3点中有2点落在中心线同一侧的A区或A区以外(2/3A)LCLUCLCLABCCBA.准那么六、延续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外(4/5B)LCLUCLCLABCCBA.准那么七、延续15点在C区中心线上下(15C)LCLUCLCLABCCBA.准那么八、延续8点在中心线两侧,但无一在C区中(8缺C)LCLUCLCLABCCBA.稳定的
15、控制图分析1 分析R图上的数据点2 找出并确认特殊缘由3 重新计算控制极限4 分析均值图上的数据点5 找出并确认特殊缘由6 重新计算上下限7 把控制极限延伸用于现场控制.失控信号的处置一旦特殊缘由出现,在图上标明并查找产生的缘由。.失控信号的处置续一旦问题消除,在图上将除去失控点重新计算,得出真实的过程变化情况的反映。.产生失控情况的缘由特殊缘由:点出界 X 图 R 图 错误安装 搬运偶尔损坏 错误丈量 操作不完好 错误作图 漏操作 操作不完好 机器缺点 少操作工序 实验件 机器缺点 调整件 调试件与工件相混 计算错误 丈量错误 作图错误 明显的硬件失常.产生失控情况的缘由特殊缘由:偏移(9单
16、侧)(14升降)(2/3A)(4/5B)(15C)(8缺C) 图 R 图原资料变化 上升:新的操作者 维护不充分新的检查员 定位或夹持件需求维修新的测试设备 使产品不稳定的其他要素新机器 下降:重新安装 提高工艺安装方式改动 机器设备才干提高 使产品不稳定的其他要素.产生失控情况的缘由特殊缘由:倾斜如6连串 X 图 R 图工具损坏 工人技术上升螺纹,夹持件或量仪损坏 维修保养提高测试安装维护不充分 其他部分过程控制的影响季节影响,包括温湿度 产品单一或没有混合件操作者疲劳消费方案变动规范变化批量变化保养或环境差.过程才干分析1. 到达稳定控制图2. 计算过程才干(Cp与Cpk)3. 评价过程才
17、干4. 提高过程才干5. 作图并分析修正后的过程相关概念:过程潜力、过程才干.才干分析的条件1. 过程必需稳定2. 过程数据的单独丈量近似一个正态分布3.工件技术要求取决于客户(或工程要求)4.设计目的为技术要求的中心位置5. 丈量变动量相对很小.过程潜力.过程才干.Cpk过程才干与缺陷估计-无偏时规格界限()不良品率(%)PPMCP1 69.15% 691500PPM0.332 30.85%308500PPM0.673 6.68 %66800PPM1.04 0.62% 6200 PPM1.335 0.023%230PPM1.6676 0.00034 %3.4PPM2.0.才干缺乏的对策.ISO/TS16949体系中适用于一切控制图的SPC行动表当控制图上最新画上去的点显示当过程的宏观状况Cpk或CpuCpl处于下列区段时1.331
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