测试组入职培训基础教程—集成运放和比较器(二)

1、四四 、运放运放& &比较器主要测试的参数及测试方法：比较器主要测试的参数及测试方法： 一般来说集成运算放大器的电参数分为两类：直流参数和交流参数。一般来说集成运算放大器的电参数分为两类：直流参数和交流参数。 直流参数主要包括：失调电压直流参数主要包括：失调电压VosVos（VioVio） 、偏置电流、偏置电流IBPIBP和和IBN IBN 、失调、失调电流电流IosIos（IoIo）、失调电压调节范围、输出幅度（、失调电压调节范围、输出幅度（输出高电平电压输出高电平电压VOH VOH 和和输出低电平电压输出低电平电压VOLVOL） 、开环电压增益、开环电压增益AVO AVO

2、、电源电压抑制比、电源电压抑制比（PSRRPSRR） 、共模抑制比共模抑制比CMRRCMRR（KCMRKCMR）、共模输入范围、电源电流、共模输入范围、电源电流Icc（IsIs）十项。十项。 交流参数主要包括：大信号压摆率（交流参数主要包括：大信号压摆率（SRSR） 、小信号过冲、单位增益带、小信号过冲、单位增益带宽、建立时间、上升时间、下降时间六项。宽、建立时间、上升时间、下降时间六项。 而其中电源电流、偏置电流、失调电流、失调电压、输出幅度、开环增而其中电源电流、偏置电流、失调电流、失调电压、输出幅度、开环增益、电源电压抑制比、共模抑制比、大信号压摆率、单位增益带宽这十项益、电源电压抑制比

3、、共模抑制比、大信号压摆率、单位增益带宽这十项参数反映了运算放大器的精度、速度、放大能力等重要指标，故作为考核参数反映了运算放大器的精度、速度、放大能力等重要指标，故作为考核运放器件性能的关键参数。运放器件性能的关键参数。 集成运算放大器 通常运算放大器电参数的测试分为两种方法：一种是单管测试法，另一种是带辅助放大器的测通常运算放大器电参数的测试分为两种方法：一种是单管测试法，另一种是带辅助放大器的测试方法。尽管单管测试法外围线路较为简单，但由于不同运放各项电参数差异很大，不利于计算机试方法。尽管单管测试法外围线路较为简单，但由于不同运放各项电参数差异很大，不利于计算机测试系统实现自动测试，故

4、在生产测试中较少采用。测试系统实现自动测试，故在生产测试中较少采用。 为了能采用统一的测量线路实现自动测试，发展了利用辅助放大器进行测试的新方法。该测试方为了能采用统一的测量线路实现自动测试，发展了利用辅助放大器进行测试的新方法。该测试方法具有以下优点：法具有以下优点：1）被测器件的直流状态能自动稳定，且易于建立测试条件；）被测器件的直流状态能自动稳定，且易于建立测试条件；2）环路具有较高的增益，有利于微小量的精确测量；）环路具有较高的增益，有利于微小量的精确测量；3）可在闭环条件下实现开环测试；）可在闭环条件下实现开环测试；4）易于实现不同参数测试的转换，有利）易于实现不同参数测试的转换，有

5、利于实现自动测试。于实现自动测试。 鉴于运用辅助放大器测试方法所具有鉴于运用辅助放大器测试方法所具有的优越性，该方法已被国际电工委员会的优越性，该方法已被国际电工委员会（IEC）确定为运算放大器测试标准。）确定为运算放大器测试标准。 右图为运放的辅助放大器测试方法的右图为运放的辅助放大器测试方法的基本原理图。图中运放基本原理图。图中运放A为辅助放大器，为辅助放大器，DUT为被测运放。辅助放大器应满足以下为被测运放。辅助放大器应满足以下要求：要求： A开环增益大于开环增益大于60dB； B 输入失调电流和输入偏置电流应很小；输入失调电流和输入偏置电流应很小；C动态范围足够大；动态范围足够大； 集

6、成运算放大器集成运算放大器 下面以下面以Accotest/STS8200测试系统的运放包为例，说明各参数的测试方法。测试系统的运放包为例，说明各参数的测试方法。 SU8113/SU8114是是STS8200系统专用系统专用DUT板，可测试板，可测试单运放、单运放、双运放、四运放，双双运放、四运放，双比较器、四比较器等器件的主要参数比较器、四比较器等器件的主要参数。运放环路与运放环路与LOAD BOARD连接示意图连接示意图SU8113/SU8114示意图示意图集成运算放大器SU81138113/SU81148114的原理框图见下图。的原理框图见下图。SU81138113上有上有4 4个相同的辅

7、助运放环个相同的辅助运放环SU81148114，可以同，可以同时搭接时搭接4 4个闭环反馈环路，完成个闭环反馈环路，完成4 4单元运放的测试。单元运放的测试。集成运算放大器SU81138113/SU81148114中所用到主要硬件资源说明如下：中所用到主要硬件资源说明如下：DVI0 0：向：向DUT提供正电源提供正电源V+，并可测试其工作电流，并可测试其工作电流ICC+。DVI1 1：向：向DUT提供负电源提供负电源V-，并可测试其工作电流，并可测试其工作电流ICC-。测试单电源运放时，。测试单电源运放时， V-应设为零。应设为零。DVI2 2：比较器测试时为上拉电阻提供电平。：比较器测试时为

8、上拉电阻提供电平。DVI3 3：连接：连接DUT的输出端，可完成对的输出端，可完成对DUT输出端的开短路测试。输出端的开短路测试。 OVI0 0：提供偏置电压以控制：提供偏置电压以控制DUT的输出电压的输出电压VO，或通过高速模拟开关，或通过高速模拟开关PLS向向DUT 同反相输入端提供电平（可用于压摆率参数同反相输入端提供电平（可用于压摆率参数SR的测试）。的测试）。OVI1 1：通过高速模拟开关：通过高速模拟开关PLS向向DUT同反相输入端提供电平（可用于压摆率参数同反相输入端提供电平（可用于压摆率参数 SR的测试，或用于同反相输入端的开短路测试）。的测试，或用于同反相输入端的开短路测试）

9、。OVI2 2：连接辅助运放的输出端，测量所有闭环直流参数。：连接辅助运放的输出端，测量所有闭环直流参数。QTMU+：时间测量单元，连接被测运放的输出端，测量时间参数：时间测量单元，连接被测运放的输出端，测量时间参数SR。ACSM+：交流信号源，连接：交流信号源，连接DUT反相输入端，提供交流参数反相输入端，提供交流参数BW所需的交流信号；所需的交流信号； 交流电压表，连接交流电压表，连接DUT输出端，测量交流参数输出端，测量交流参数BW 集成运算放大器1、电源电流电源电流ICC1.1 定义：在规定电源电压、输入电压和输出电压下，流入（或流出）器件电源端的电在规定电源电压、输入电压和输出电压下

10、，流入（或流出）器件电源端的电 流值。流值。集成运算放大器1.2 测试规范测试规范1.3 1.3 测试方法测试方法DUT电源端通过电源端通过DVI0和和DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，对于单电源器件，对于单电源器件 V-=0V。(2) 通过设置通过设置OVI0电压，使电压，使DUT输出电压输出电压Vo设为规定值。设为规定值。(3) 用用DVI0测试测试DUT的的V+端电流端电流ICC。集成运算放大器1.4 1.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：double Vccp = Icc-GetConditionCurSelDouble(short(0); /初始值初始值V

11、+= Vccp=30Vdouble Vccn = Icc-GetConditionCurSelDouble(1); /初始值初始值V-= Vccn=0Vdouble Vo = Icc-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值Vo =0Vdvi0.Set(FV, Vccp, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);dvi1.Set(FV, Vccn, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME); ovi0.Set(FV, -Vo, OVI40_5V, OVI40_

12、40MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);DUT_RELAY_ON(K1K4, K11, OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); delay_ms(RELAY_TIME);dvi0.MeasureVI(MI, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSetTestResult(i, 0, adresulti*1000);cbit.SetOn(-1);dvi0.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_O

13、N); dvi1.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);ovi0.Set(FV, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);集成运算放大器2、输入失调电压Vos（Vio）2.1 定义：在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，两输入端所加的直流补偿电压。 一个理想的运放，当输入电压为0时，输出电压也应为0。但实际上它的差分输入级很难做到完全对称。通常在输入电压为0时，存在一定的输出电压。这个在输入端所加的直流补偿电压即为Vos。 单管测试法集成运算放大器 2.3 2.3 测试方法测试方法DUTDU

14、T电源端通过电源端通过DVI0DVI0与与DVI1DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+V+、V-V-，对于单电源器件，对于单电源器件 V-=0V V-=0V。(2) (2) 通过设置通过设置OVI0OVI0电压，使电压，使DUTDUT输出电压输出电压VoVo设为规定值。设为规定值。(3) (3) 用用OVI2OVI2在辅助运放输出端测试输出电压在辅助运放输出端测试输出电压V VL L。(4) (4) 输入失调电压输入失调电压：2.2 2.2 测试规范测试规范V Vioio=V=VL L/(R/(RF F/R/RI I)=V)=VL L/(50K/100)=V/(50K/100)=V

15、L L/500/500集成运算放大器2.4 2.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：dvi0.Set(FV,0,DVI400_50V,DVI400_400MA,RELAY_ON);dvi1.Set(FV,0,DVI400_50V,DVI400_400MA,RELAY_ON); dvi0.SetClamp(25,25); /dvi0电流箝位设置为电流箝位设置为25%。dvi1.SetClamp(25,25); /dvi1电流箝位设置为电流箝位设置为25%。dvi0.Set(FV,Vccp,DVI400_50V,DVI400_400MA,RELAY_ON); dvi1.Set(FV, Vccn

16、, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);/注意注意DVI0与与DVI1电压档位根据电压档位根据V+和和V-电压来设置。下面参数的测试同理。电压来设置。下面参数的测试同理。ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON); /ovi2设置设置FIMV模式，等待测试模式，等待测试ovi0.Set(FV,-Vo,OVI40_5V,OVI40_40MA, RELAY_ON); /ovi0设置设置DUT输出偏置电压输出偏置电压delay_ms(RELAY_TIME); /RELAY_TIME为程序最开头设定的宏定义，根据实

17、际情况用户自行为程序最开头设定的宏定义，根据实际情况用户自行 设定，样例程序中设定为设定，样例程序中设定为1ms。DUT_RELAY_ON(K1K4, K11, OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20); /ovi2 MV模式，采样点数为模式，采样点数为SAMPLE_TIMES(样例样例 程序为程序为20，采样间隔时间，采样间隔时间20us)集成运算放大器for (int i=0; iSetTestResult(i, 0, a

18、dresulti/500*1000); /ovi2读回辅助运放输出，除以读回辅助运放输出，除以500倍倍 放大倍数，再乘以放大倍数，再乘以1000将输出结果转化为将输出结果转化为mv单位。单位。cbit.SetOn(-1);dvi0.SetClamp(100,100);dvi1.SetClamp(100,100);/每次使用到箝位时，在测试完本函数时回复每次使用到箝位时，在测试完本函数时回复100%。dvi0.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); dvi1.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, REL

19、AY_ON); ovi0.Set(FV, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON); ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);集成运算放大器3 3、输入偏置电流输入偏置电流IB+ 、IB-3.13.1定义：定义：在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，流入（或流出）在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，流入（或流出） 器件同相端的电流器件同相端的电流为为IB+，流入（或流出）器件流入（或流出）器件反反相端的电流相端的电流为为IB-。集成

20、运算放大器3.3 3.3 测试方法测试方法(1) DUT电源端通过电源端通过DVI0与与DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，对于单电源器件，对于单电源器件V-=0V。(2) 通过设置通过设置OVI0电压，使电压，使DUT输出电压输出电压Vo设为规定值。设为规定值。(3) 闭合开关闭合开关KK15和和KK16，在辅助运放输出端用，在辅助运放输出端用OVI0测试输出电压测试输出电压VL0。(4) 断开开关断开开关KK16，在辅助运放输出端用，在辅助运放输出端用OVI0测试输出电压测试输出电压VL1。同相端输入偏置电流同相端输入偏置电流：(7) 断开开关断开开关KK15，在辅助运

21、放输出端用，在辅助运放输出端用OVI0测试输出电压测试输出电压VL2。反反相端输入偏置电流相端输入偏置电流： 注：注：KK15：用于：用于DUT反相输入端短接反相输入端短接IB测试电阻（位于测试电阻（位于SU8113上）上） KK16：用于：用于DUT同相输入端短接同相输入端短接IB测试电阻（位于测试电阻（位于SU8113上）上）3.2 3.2 测试规范测试规范Ib-=(VL2-VL0)/(RF/RI)*R）Ib+=(VL1-VL0)/(RF/RI)*R)集成运算放大器3.4 3.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：。ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20)

22、;for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i= (adresulti/500*1000); /vosa1为为UNITA在采样电阻在采样电阻RJ1A,RJ2A被短接时辅助运放的输被短接时辅助运放的输 出电压，单位为出电压，单位为mv。for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= (adresulti/500*1000); /vosa2为为UNITA在采样电阻在采样电阻RJ1A被短接时辅助运放的输出电压，被短接时辅助运放的输出电

23、压， 单位为单位为mv。 for (i=0; iSetTestResult(i, 0, (vosa2i-vosa1i)/100.0*1000); /采样电阻为采样电阻为100K，vosa1,vosa2单单 位为位为mv, Ibp单位为单位为nA。/ Ibp-SetTestResult(i, 1, (vosb2i-vosb1i)/100.0*1000);集成运算放大器4 4、输入失调电流、输入失调电流IOSIOS（IOIO）4.1 4.1 定义：定义：在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，流入（或在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，流入（或 流出）器件两输入

24、端的电流之差。流出）器件两输入端的电流之差。4.2 4.2 测试原理和方法同测试原理和方法同Ib+Ib+、Ib-Ib- 5、输入偏置电流输入偏置电流Ibias5.1 5.1 定义：定义：在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，流入（或在规定的电源电压下，被测器件输出电压为零（或规定值）时，流入（或 流出）器件两输入端的平均电流。流出）器件两输入端的平均电流。5.2 5.2 测试原理和方法同测试原理和方法同Ib+Ib+、Ib-Ib-Ios= Ibp-IbnIos= Ibp-Ibn Ibias =(Ibp+Ibn)/2=(Ibp+Ibn)/2集成运算放大器6 6、开环电压增益开环电

25、压增益AVO（GV）6.1 6.1 定义：定义：器件开环时，在规定的电源电压、负载电阻和输出电压范围内，输出电压器件开环时，在规定的电源电压、负载电阻和输出电压范围内，输出电压 变化与差模输入电压变化之比。变化与差模输入电压变化之比。集成运算放大器6.3 6.3 测试方法测试方法(1) 开环电压增益也称大信号电压增益，根据测试标准在实际测试中采用闭环方法进行测开环电压增益也称大信号电压增益，根据测试标准在实际测试中采用闭环方法进行测试。试。(2) DUT电源端通过电源端通过DVI0 0和和DVI1 1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，对于单电源器件，对于单电源器件V-=0=0V。

26、(3) 闭合闭合K9 9（或（或K1010）使）使DUT输出端接入规定的负载电阻输出端接入规定的负载电阻RL（R2=22=2K或或R3=103=10K）。）。(4) 通过设置通过设置OVI0 0电压，使电压，使DUT输出电压输出电压Vo设为规定值。设为规定值。(5) 在辅助运放输出端用在辅助运放输出端用OVI2 2测试输出电压测试输出电压VL1 1。(6) 通过设置通过设置OVI0 0电压，使被测器件输出电压电压，使被测器件输出电压Vo2 2设为规定值。设为规定值。(7) 在辅助运放输出端用在辅助运放输出端用OVI2 2测试输出电压测试输出电压VL2 2。开环电压益开环电压益 : ，单位为单位

27、为V/V。 换算为换算为dB: 6.2 6.2 测试规范测试规范集成运算放大器6.4 6.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：double Vo = GV-GetConditionCurSelDouble(2); / 初始值初始值Vo = 1V double dVo = GV-GetConditionCurSelDouble(3); / 初始值初始值dVo = 10V 。ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi0.Set(FV, -Vo, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON); 。ovi2.Measur

28、eVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i= adresulti/500*1000;。集成运算放大器ovi0.Set(FV, -(Vo+dVo), OVI40_20V, OVI40_40MA, RELAY_ON); 。ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= adresulti/500*1000;fo

29、r (i=0; i SITENUM; i+) vosa1i = fabs(vosa1i - vosa2i); if (vosa1i SetTestResult(i, 0, 20*log10(fabs(dVo*1000/vosa1i);集成运算放大器7.共模抑制比共模抑制比CMRR（变电源法）（变电源法）7.1 定义定义：在规定的电源电压和输出电压范围内，器件差模电压增益与共模电在规定的电源电压和输出电压范围内，器件差模电压增益与共模电 压增益之比。压增益之比。集成运算放大器 7.2 7.2 测试规范测试规范7.3 7.3 测试方法测试方法(1) 共模抑制比（变电源法）采用同时改变器件电源共模抑

30、制比（变电源法）采用同时改变器件电源V+和和V-的方法，使器件输入端等效得到共模输入电压。的方法，使器件输入端等效得到共模输入电压。(2) DUT电源端通过电源端通过DVI0和和DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，等效器件输入端接入共模电压，等效器件输入端接入共模电压VCM1。(3) 通过设置通过设置OVI0电压，使电压，使DUT输出电压输出电压Vo设为规定值。设为规定值。(4) 在辅助运放输出端用在辅助运放输出端用OVI2测试输出电压测试输出电压VL1。(5) 改变改变DUT电源端施加的电源电压为电源端施加的电源电压为V1+、V1-，等效器件输入端接入共模电压，等效器件输

31、入端接入共模电压VCM2。(6) 通过设置通过设置OVI0电压，使电压，使DUT输出电压输出电压Vo1设为规定值，设为规定值， V= VCC=VCM1-VCM2=Vo-Vo1。(7) 在辅助运放输出端用在辅助运放输出端用PVM测试输出电压测试输出电压VL2。共模抑制比共模抑制比 ，单位为，单位为V/V。 换算换算dB后后集成运算放大器7.4 7.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：dvi0.Set(FV, 5.0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); dvi1.Set(FV, 0 , DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON

32、); delay_ms(RELAY_TIME);ovi0.Set(FV, -1.4, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i = adresulti/500*1000;dvi0.Set(FV, 1.5, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);

33、 dvi1.Set(FV, -3.5, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);ovi0.Set(FV, 2.0, OVI40_2V, OVI40_40MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);。集成运算放大器ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= adresulti/500*1000;for (i=0; i SITENUM;

34、i+) vosa1i = fabs(vosa1i - vosa2i); if (vosa1i SetTestResult(i, 0, 20*log10(fabs(3.5*1000/vosa1i);集成运算放大器8.电源电压抑制比电源电压抑制比PSRR8.1 定义定义：器件电源的单位电压变化所引起的输入失调电压的变化率。器件电源的单位电压变化所引起的输入失调电压的变化率。集成运算放大器 8.2 8.2 测试规范测试规范8.3 8.3 测试方法测试方法 DUT电源端通过电源端通过DVI0和和DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，对于单电源，对于单电源 器件器件V-=0V。(2)

35、通过设置通过设置OVI0电压，使电压，使DUT输出电压输出电压Vo设为规定值。设为规定值。(3) 在辅助运放输出端用在辅助运放输出端用OVI2测试输出电压测试输出电压VL0。(4) 同时改变正负电源端施加的电压，由同时改变正负电源端施加的电压，由V+变为变为V1+，V-变为变为V1-。(5) 在辅助运放输出端用在辅助运放输出端用OVI2测试输出电压测试输出电压VL1。电源电压抑制比电源电压抑制比： , 单位为单位为V/V。 换算为换算为dB后后集成运算放大器8.4 8.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：double Vccp1 = PSRR-GetConditionCurSelDoubl

36、e(short(0); /初始值初始值V1+= Vccp1 =5Vdouble Vccp2 = PSRR-GetConditionCurSelDouble(1);/初始值初始值V2+= Vccp2 =30Vdouble Vccn = PSRR-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值V-= Vccn=0Vdouble Vo = PSRR-GetConditionCurSelDouble(3); /初始值初始值Vo= 1.4Vdvi0.Set(FV, Vccp1, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);dvi1.Set(FV, V

37、ccn, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);ovi0.Set(FV, -Vo, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);ovi2.Set(FI, 0, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);DUT_RELAY_ON(K1K4, K11, OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); delay_ms(RELAY_TIME);ovi2.

38、MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa1i = adresulti/500*1000;集成运算放大器dvi0.Set(FV, 0, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);dvi0.Set(FV, Vccp2, DVI400_50V, DVI400_400MA, RELAY_ON);delay_ms(RELAY_TIME);DUT_RELAY_ON(K1K4, K11,

39、OPEN_2, UNIT_A, K17, K7_K12, OPEN_5, K15K16, OPEN_7, H_OVI1,OPEN_8); delay_ms(RELAY_TIME);ovi2.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; i SITENUM; i+) adresulti=ovi2.GetMeasResult(i); vosa2i= adresulti/500*1000;for (i=0; i SITENUM; i+) vosa1i = fabs(vosa1i - vosa2i); if (vosa1i SetTestResult( i, 0,

40、 20*log10(fabs(25*1000/vosa1i );集成运算放大器8. 输出高电平电压输出高电平电压VOH8.1 定义定义：在规定电源电压、输入电压和输出负载下，器件所能输出的最大在规定电源电压、输入电压和输出负载下，器件所能输出的最大 正（高）电平值。正（高）电平值。集成运算放大器 8.2 8.2 测试规范测试规范8.3 测试方法测试方法该方法适用于比较器和运放器件的该方法适用于比较器和运放器件的VOH（Vo+）参数测试。对于正负电源器件该参数）参数测试。对于正负电源器件该参数 通常记为通常记为Vo+，对于单电源器件该参数通常记为，对于单电源器件该参数通常记为VOH。(2) DU

41、T电源端通过电源端通过DVI0和和DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，对于单电源器件，对于单电源器件V-=0V。(3) DUT接成开环工作方式。接成开环工作方式。(4) 设置设置OVI1电压通过电压通过PLS到到DUT同相输入端，反相输入端接地，使同相输入端，反相输入端接地，使DUT输出电压输出电压Vo为正为正 （高）电平。（高）电平。(5) DUT输出端接入规定的负载电阻输出端接入规定的负载电阻R2=2K（或（或R3=10K）。）。(6) 用用DVI3 在在DUT输出端测试不同负载电阻条件下输出电压的摆幅输出端测试不同负载电阻条件下输出电压的摆幅VOH（Vo+）。）。集成

42、运算放大器8.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：。double Vinp = Voh-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值Vinp =1Vovi1.Set(FV, Vinp, OVI40_5V, OVI40_40MA, RELAY_ON);。dvi3.Set(FI, 0, DVI400_50V, DVI400_40UA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);dvi3.MeasureVI(MV, SAMPLE_TIMES, 20);for (i=0; iSetTestResult(i, 0, adresulti);集成运算放大

43、器9. 输出输出低低电平电压电平电压VOL9.1 定义定义：在规定电源电压、输入电压和输出负载下，器件所能输出的最小在规定电源电压、输入电压和输出负载下，器件所能输出的最小 负（低）电平值。负（低）电平值。集成运算放大器 9.2 9.2 测试规范测试规范9.3 9.3 测试方法测试方法该方法适用于比较器和运放器件的该方法适用于比较器和运放器件的VOL（Vo-）参数测试。对于正负电源器件该参）参数测试。对于正负电源器件该参 数通常记为数通常记为Vo-，对于单电源器件该参数通常记为，对于单电源器件该参数通常记为VOL。(2) DUT电源端通过电源端通过DVI0和和DVI1施加规定的电源电压施加规定

44、的电源电压V+、V-，对于单电源器件，对于单电源器件V-=0V。(3) DUT接成开环工作方式。接成开环工作方式。设置设置OVI1电压通过电压通过PLS到到DUT反相输入端，同相输入端接地，使反相输入端，同相输入端接地，使DUT输出电压输出电压Vo 为负（低）电平。为负（低）电平。(5) DUT输出端接入规定的负载电阻输出端接入规定的负载电阻R2=2K（或（或R3=10K）。）。(6) 用用DVI3在在DUT输出端测试不同负载电阻条件下输出电压的摆幅输出端测试不同负载电阻条件下输出电压的摆幅VOL（Vo-）集成运算放大器10. 压摆率压摆率SR10.1 定义定义：在规定电源电压、输出负载下，输

45、入端在施加规定的大信号阶跃在规定电源电压、输出负载下，输入端在施加规定的大信号阶跃 脉冲电压时，输出电压的上升沿随时间的最大变化率。脉冲电压时，输出电压的上升沿随时间的最大变化率。集成运算放大器 10.2 10.2 测试规范测试规范集成运算放大器10.3 测试方法测试方法(1) DUT电源端通过电源端通过DVI0和和DVI1施加规定的电源电压施加规定的电源电压V+、V-，推荐双电源测试。，推荐双电源测试。(2) DUT同相输入端接地，反相输入端接入同相输入端接地，反相输入端接入PLS（输入电平由（输入电平由OVI0和和OVI1设置）设置）施加规定的脉冲沿信号电压施加规定的脉冲沿信号电压Vi。(

46、3) 设置设置TMU的相应阈值电压为规定值。的相应阈值电压为规定值。在在DUT输出端用输出端用TMU检测器件输出电压上升沿幅度变化检测器件输出电压上升沿幅度变化 和对应的变化时间和对应的变化时间 （参见（参见上上图）。图）。(5) 计算求出计算求出 集成运算放大器10.4 部分测试程序代码：部分测试程序代码：。double Vo = SRp-GetConditionCurSelDouble(2); /初始值初始值Vo =0V。ovi1.Set(FV, 3, OVI40_10V, OVI40_40MA, RELAY_ON); ovi0.Set(FV, -3, OVI40_10V, OVI40_4

47、0MA, RELAY_ON); delay_ms(RELAY_TIME);qtmu0.SetStartInput(QTMU_PLUS_IMPEDANCE_1M,QTMU_PLUS_VRNG_5V,QTMU_PLUS_FILTER_PASS);qtmu0.SetStopInput(QTMU_PLUS_IMPEDANCE_1M,QTMU_PLUS_VRNG_5V,QTMU_PLUS_FILTER_PASS);qtmu0.SetStartTrigger(-2,QTMU_PLUS_POS_SLOPE);/DUT输出爬升至输出爬升至-2V时时QTMU开始开始计时。计时。qtmu0.SetStopTrigger(2,QTMU_PLUS_POS_SLOPE); /DUT输出爬升至输出爬升至2V时时QTMU结束计结束计时。时。qtmu0.SetInSource();qtmu0.Connect();集成运算放大器DUT_RELAY_ON(K2K4, K10, K15, UNIT_A, OPEN_3, OPEN_4, OPEN_5, K15K16, K8, H_OVI1,OPEN_8); /H_OVI1继电器保证继电器保证ovi1=3V施加在施加在DUT的反向输出端，使的反向输出端，使DUT的输的输 出电压反偏。出电压反偏。del