可测性设计及DFT软件的使用

1、可测性设计及DFT软件的使用张艳2007-11-520007-11-5共49页2OutlineDFT基础DFTCompile生成扫描链TetraMAX生成ATPG设计实例20007-11-5共49页3DFT基础测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法20007-11-5共49页4测试(1-3)CMOS反相器中的物理缺陷20007-11-5共49页5测试(2-3)目前的产品测试方法20007-11-5共49页6测试(3-3)ATE20007-11-5共49页7DFT基础测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法20007-11-5共49页8DFT(Design For Test)controlla

2、bilityobservability20007-11-5共49页9DFT基础测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法20007-11-5共49页10故障模型物理故障逻辑故障封装引脚间的漏电或短路 单一固定故障芯片焊接点到管脚连线断裂延时故障表面玷污、含湿气静态电流故障金属层迁移、应力、脱皮 金属层开路、短路 20007-11-5共49页11单一固定故障20007-11-5共49页12等价故障(1/3)20007-11-5共49页13等价故障(2/3)20007-11-5共49页14等价故障(3/3)NAND的输入SA0和输出的SA1效果等效A SA0,B SA0,Y SA1是一个等效故障集2

3、0007-11-5共49页15故障压缩20007-11-5共49页16不可测故障20007-11-5共49页17DFT基础测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法20007-11-5共49页18ATPGATPG Automatic Test Pattern GeneratorD算法PODEM(Goel)FAN(Fujiwara和Shimono)高级算法 20007-11-5共49页19D算法20007-11-5共49页20D算法-activate the SA0 fault20007-11-5共49页21D算法-propagate fault effect20007-11-5共49页22D算法

4、-anatomy of a test pattern20007-11-5共49页23D算法-record the test pattern20007-11-5共49页24DFT基础测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法20007-11-5共49页25DFT常用方法功能点测试 需在每个测试点增加可控的输入和输出，I/O增加扫描测试 结构化的DFT技术，全扫描和部分扫描内建自测试 消除了对ATE的存储能力和频率的限制，更具发展潜力20007-11-5共49页26扫描测试(1/2)20007-11-5共49页27扫描测试(2/2)20007-11-5共49页28OutlineDFT基础DFTCom

5、pile生成扫描链TetraMAX生成ATPG设计实例20007-11-5共49页29设计流程20007-11-5共49页30普通D触发器20007-11-5共49页31Test-Ready Compilationset_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop -clock_mixing no_mix -chain_count 1set_dft_signal -view existing_dft -type ScanClock -port clk -timing 1 8.5set_dft_signal -view existing_dft

6、 -type Reset -port rst_n -active_state 0set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port se -active_state 1set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port aset_dft_signal -view existing_dft -type ScanDataOut -port o20007-11-5共49页32Test DRCcheck_scan or check_test这两个命令检查以下四类可测性问题：模型问题，诸如是否缺少相应的扫描单元；

7、拓扑结构问题，例如是否存在不受时钟控制的组合逻辑反馈回路；确定测试协议，如找出测试时钟端口，找出测试模式下固定电平的测试状态端口；测试协议仿真，检查扫描过程是否可以正确的进行。 20007-11-5共49页33Preview Scan Architecturepreview_scan show all预览将要生成的扫描链的大致情况，及时发现不合乎要求的地方。 20007-11-5共49页34Scan Insertioninsert_scan使扫描触发器串链，建立和排序扫描链，同时进行优化以去除违反的DRC规则。20007-11-5共49页35扫描触发器20007-11-5共49页36Repor

8、treport_constraint -all_violatorsreport_scan_path -view existing_dft -chain report_scan_path -view existing_dft -cell estimate_test_coverage20007-11-5共49页37Export to TetraMAXwrite_test_protocol -output ./report/add.spfwrite -f verilog -hie -output ./report/add.v20007-11-5共49页38OutlineDFT基础DFTCompile

9、生成扫描链TetraMAX生成ATPG设计实例20007-11-5共49页39设计流程20007-11-5共49页40Read the NetlistBUILD read netlist mydesign.v读入DFTC转交给TetraMAX的网表文件。 20007-11-5共49页41Read Library ModelsBUILD read netlist library ./simic18.v必须读入所有和你的设计相关的verilog库模型，此库文件由工艺厂商提供。20007-11-5共49页42Build the ModelBUILD run build_model top_modul

10、e 20007-11-5共49页43Performing DRCBUILD run drc mydesign.spf 测试协议文件的DRC检查20007-11-5共49页44Preparing for ATPGTEST add faults -all 初始化故障列表以产生一份新的在ATPG设计模型中包含所有可能的故障点的故障列表 20007-11-5共49页45Run ATPGTEST run atpg random 默认情况下，TetraMAX先执行Basic-Scan ATPG，接着是Sequential ATPG，最后是Full-Sequential ATPG 20007-11-5共49页46Review Test CoverageTEST report summariesTEST report patterns summary查看测试覆盖率和产生的矢量的数目，若测试覆盖率很低，则需要重新进行ATPG测试矢量生成，直到得到满意的测试覆盖率。 20007-11-5共49页47Compress Test PatternsTEST run pattern_compress 99 99指示按不同的顺序进行99次故障仿真20007-11-5共49页48Save Test PatternTEST write patterns patterns.stil -format s