质量度量汇总

1、ID质里度里定义/公式评价方法可行性1功能分类缺陷显示每个功能模块与功能模块 组中发现的缺陷数目和比例。（Subject ）分析将标识出具有取多缺 陷的功能模块。报表中项目 占总数百分比最高， 表明了 该部分在发布后还需要检 查其可维护性。高2测试人员分类缺陷显示在项目中每一个测试人员 所发现的缺陷数目和比例。（报告人）统计数据小心使用低3缺陷严重程度状况显示在整个项目中各种严重程 度的缺陷的分布情况。（严重程度）Blocker、Critical的缺陷占很大百分比的话，说明程 序的设计或架构存在着冋 题，产品不适宜发布或发布 后需要检查其可维护性。高4根本原因分析（缺陷 分类）显示缺陷的来源（

2、缺陷类型）在产品发布后，需要检查占 总数百分比较咼的缺陷功 能的可维护性。高5发现方式分类缺陷显示缺陷是如何被发现的 （测试分类）可证明各类型在测试过程 中的贡献。如果发现某项在 发现缺陷占总数半分比不 高的话，说明对该方面测试 关注过多。高6发现阶段分类缺陷显示缺陷是何时被发现的（测试分类（流程）可证明各阶段在测试过程 的贡献。高7发现者分类缺陷显示缺陷是谁发现的（根据报告人）开发部门、质量保证、技术支 持对大部分项目而言， 大部分 缺陷都是在质量保证测试 过程中发现的。如果是技术 支持发现绝大部分的缺陷， 则表明质量保证测试不足。低8系统测试类型发现 缺陷系统测试由一个或多个基于系 统初始

3、目标的测试组成。显示 按照系统测试类型分类的缺陷 的分布情况。（未预留选项） 性能测试、安全性测试、压力 测试等对于整个项目，某项占百分 比过高的情况表明系统相 应设计还有不足。低9其他参数类型分类 缺陷（操作系统、应用服务器、JDK、 存储库、字符集）中10责任人员分类缺陷显示缺陷责任人员数目和比 例。（责任人）统计数据小心使用中11缺陷解决方案分类显示缺陷关闭状态下的解决方 案的分布情况（解决方案）统计数据小心使用高12缺陷状态分类高13缺陷处理结束时长closed统计数据小心使用中14降级缺陷数解决了一个缺陷，因此而引起 的其它缺陷。降级缺陷数目多，说明系统 不稳定高15缺陷生命周期统计

4、缺陷从提出到修复的周期越短 越好，即从发现缺陷到关闭缺 陷的时间。了解缺陷修复的质量，跟踪 那些生命周期较长，且出现 多次修复，reopen的缺陷。高16缺陷屏敝(defect masking )一个缺陷阻碍另一个缺陷被发 现的情况了解此轮测试不能覆盖的 功能点低17推迟修正的缺陷由于需求或项目原因，不在该 版本修正的缺陷了解目前发布版本存在的 已知缺陷18缺陷探测率(DefectDetectio nPercentage )D1 :软件开发过程中发现的所 有缺陷数；D2 :软件发布后发现的缺陷 数；D :发现的缺陷总数；Dl/D=缺陷探测率作为目前测试覆盖率的参 考，以及QA工作质量的一 个指

5、标。高1缺陷密度(defect density )基本的缺陷测量是以每千行代 码的缺陷数。将软件组件或系 统的缺陷数和软件或者组件规 模相比的一种度量(标准的度 量术语包括，如每千行代码、 每个类或功能点存在的缺陷 数)。Dd=D/KLSOC其中，D为缺陷数，KLSOC为不 含注释的源码行数(以每千行 计)，Dd为实际缺陷密度了解开发团队的工作质量。 例如：每千行代码缺陷数 目;每个功能点缺陷数目。 缺陷密度与模块大小关系图，Brooks定律持续质量改进P172高2缺陷清除率修复缺陷数除以缺陷总数。控制阈值>95%高3周期偏差率实际-计划/计划。控制阈值<20%高5直方图从总体中随

6、机抽取样本，将从 样本中获得的数据进行整理， 从而找出数据变化的规律，以 便测量工序质量的好坏。直方 图是常用的QC工具。(1) 标准型(对称型)。(2) 锯齿型。(3) 偏态型。(4) 平顶型。(5) 双峰型。(6) 孤岛型待定6缺陷移除率缺陷移除率=(本阶段发现的缺 陷数/本阶段引入的缺陷 数)*100%，如需求阶段一共引 入了 15个缺陷，需求评审时候 只发现了 2个，设计过程中发 现了 10个，编码和单元测试阶高段发现了两个，还有一个直到 系统测试阶段才被发现。这样，需求阶段的缺陷移除率=2/15*100%=13%。它反映的是 该活动阶段的缺陷清除能力。7缺陷泄露率就是有多少本阶段引入

7、的缺陷 没有在本阶段发现而是被泄露 到后阶段环节才被发现。其计 算公式为：缺陷泄漏率=（下游 发现的本阶段的缺陷数/本阶段注入的缺陷总数）*100%。显 然，它等于1-缺陷移除率。 它反映的是本阶段质量控制措 施落实的成效。高8发现矩阵分析矩阵的母仃表示该阶段或活动发 现的各阶段产生的缺陷数；矩阵的 每列表示该阶段或活动引入的缺 陷泄露到后续各环节的缺陷数。12、13中9缺陷分布可以选某个阶段的测试缺陷进行 分析，按照这些缺陷对应的产品组 成部分来汇总这些数据。利用这样 的分布，可以找岀我们产品/项目 的高危模块来。这些模块导致了我 们产品的主要缺陷10数据透视表中11帕累托图（Pareto

8、）是用来找出影响产品质量主要 因素的一种有效工具。排列图是有两个纵坐标、一个 横坐标、几个直方块和一条折 线所构成。排列图的横坐标表 示影响产品质量的因素或项 目，按其影响程度大小，从左 到右依次排列。直方块的咼度表示某个因 素影响大小，从高到底，从 左到右，顺序排列。折线表 示个影响因素大小的累积 百分数，是由左到右逐渐上 升的，这条折线就称为帕累 托曲线。高12缺陷的阶段分布模型中13缺陷的阶段来源分布 模型进行质量预测中14泄漏的下游缺陷回溯 过程有效性从团队的典型项目中运用一定的 抽样原则抽样出某个阶段的若干 个缺陷，从技术、流程、工程方法、 费效比方面去分析其更适合、更经 济的清除方

9、法。然后把这些方法固 化到我们日常的项目实施过程中， 逐步就可以降低上游对后端的缺 陷泄露。发现阶段高15缺陷分类来进行缺陷的根源分析对于测试岀来的BUG进行缺陷分 类，按照BUG的类型分布，找岀 那些关键的缺陷类型，进一步分析 其产生的根源，从而针对性的制定 改进措施。16缺陷收敛趋势分析缺陷趋势就是将每月新生成的缺 陷数、每月被解决的缺陷数和每月 遗留的缺陷数标成一个趋势图表。 一般在项目的开始阶段发现缺陷 数曲线会呈上升趋势，到项目中后 期被修复缺陷数曲线会趋于上升； 而发现缺陷数曲线应总体趋于下 降；同时处于OPEN状态的缺陷也 应该总体呈下降趋势，到项目最 后，三条曲线都趋向于零。高17测试零缺陷跟踪显示在整个项目中发现缺陷的 速度，是一个非常有价值的关 于测试完成情况的指示器。缺陷的累积数目（也就是测试 执行过程中当时的总数）和按 时间周期记录的缺陷数目都可 以帮组预测缺陷递减的时间 点，这时缺陷总数曲线会“弯 折”，并且在一个时间周期中发 现的缺陷数会趋于零。高18功能已测试/未测试显示测试的最终状态，并验证 所有的大部分的缺陷已经得到 修正，系统可以上线。在项目结束的时候，所有的 测试用例都