FOREORD成像处理帮助

1、成像处理评价1电成像仪器说明21.1 全井眼微电阻率扫描测井 FMI21.2 二极板地层微电阻率扫描测井FMS221.3 四极板地层微电阻率扫描测井FMS431.4 原西方阿特拉斯的声电组合成像测井 STAR31.5 哈里伯顿微电阻率扫描测井 EMI41.6 江汉测井研究所微电阻率扫描测井RIS42成像测井处理流程52.1数据加载62.2数据预处理72.2.1功能72.2.2操作加速度预处理成像资料预处理92.3电阻率刻度122.3.1功能122.3.2操作122.4生成成像图形142.41功能142.4.2操作142.5交互解释162.5.1功能162.5.2

2、操作172.6图像处理182.6.1功能182.6.2操作182.7裂缝参数计算232.7.1功能232.7.2操作233成像绘图254其它功能介绍294.1编辑成果属性29成像测井是上世纪90年代发展起来的新型测井技术，可以提供分辨率高、可靠的二维或三维目的地层物理参数图像，用于研究各种非均质非线性问题，评价油气产层，解决勘探开发的地质问题。目前，国内主要应用的成像测井仪器有：斯仑贝谢公司的二极板、四极板地层微电阻率扫描测井（FMS2、FMS4）、全井眼微电阻率扫描测井FMI，原西方阿特拉斯公司的声电组合成像测井STAR、环周声波成像CBIL，哈里伯顿微电阻率扫描测井EMI、声成像CAST_

3、V。本处理模块提供对上述各种测井仪器的数据处理、成像显示和解释评价工具。1电成像仪器说明电阻率成像测井仪器有高分辨率地层倾角测井SHDT、斯仑贝谢的二极板地层微电阻率扫描测井FMS2、四极板地层微电阻率扫描测井 FMS4、全井眼微电阻率扫描测井 FMI，原西方阿特拉斯的声电组合成像测井 STAR、哈里伯顿微电阻率扫描测井 EMI，国产仪器江汉测井研究所微电阻率扫描测井RIS。下面分别介绍一下上述各种仪器极板电极结构和数据解编后电阻率曲线命名规则1.1 全井眼微电阻率扫描测井 FMIFMI有四个臂，每个臂有一个主极板和一个折页电极，每个极板包括两排纽扣电极，每排12个，两排间距0.3in，上下电

4、极互相错开，横向间距0.1in。主极板与折页极板阵列电极间垂直距离5.7in。8个极板一共192个电极，曲线名依次为： 其中，A,B,C,D代表四个臂，1，2代表主极板，3，4代表折页电极；后两位依次代表每个电极。1.2 二极板地层微电阻率扫描测井FMS2FMS2:有两个极板测量微电阻率曲线，每个极板包括27个电极，排列4排，第一排6个，其余3排均为7个电极。上下两排中心间距0.1in，上下电极互相错开，横向间距0.1in。2个极板一共54个电极，曲线名依次为：其中，3，4代表极板，分别是第3号、第4号极板，倒数第2位数字代表第几排，从下到上依次为3，2，1，4（6个电极）。1.3 四极板地层

5、微电阻率扫描测井FMS4FMS4有四个臂，每个臂有一个极板，每个极板包括16个电极，排列2排，每排8个。4个极板共64个电极，电阻率曲线名称依次为： 其中，第2个字母A，B，C，D分别代表4个极板，第三个数字代表电极所在行（第一行或第二行），最后一个数字代表电极的次序（从1到8）。 1.4 原西方阿特拉斯的声电组合成像测井 STARSTAR有六个臂，每个臂有一个极板，每个极板包括个24电极，排列2排，每排12个。6个极板共144个电极，电阻率曲线名称依次为：其中，A，B，C，D，E，F分别代表6个极板，第二个数字代表电极所在行（第一行或第二行），最后一个数字代表电极的次序（从1到12）。1.5

6、 哈里伯顿微电阻率扫描测井 EMIEMI有六个臂，每个臂有一个极板，每个极板包括个25电极，排列2排，一排12个，一排13个。6个极板共150个电极，电阻率曲线名称依次为： 其中，A，B，C，D，E，F分别代表6个极板，第二个数字代表电极所在行（第一行或第二行），最后一个数字代表电极的次序（从0到12和从1到12）。 1.6 江汉测井研究所微电阻率扫描测井RISRIS有六个臂，每个臂有一个极板，每个极板包括个20电极，排列2排，一排10个。6个极板共120个电极，电阻率曲线名称依次为： 其中，A，B，C，D，E，F分别代表6个极板，第二个数字代表电极所在行（第一行或第二行），最后一个数字代表电

7、极的次序（从1到10）。 2成像测井处理流程打开成像数据文件（*.wis），自动弹出如下窗口：成像资料的处理包括数据加载、预处理、电阻率刻度、产生图象、交互解释、图象处理、裂缝参数计算、七部分，其中预处理、电阻率刻度、产生图象、裂缝参数计算通过“处理方法”下拉箭头选取。2.1数据加载通过本平台提供的工具，将成像测井资料原始数据(LIS,DLIS,XTF,CLS)加载到平台，形成相应的WIS数据格式文件，对于解编得到的WIS格式的成像数据文件，首先要核对曲线名称定义是否规范，打开Forward.NETSystem_tool.inf成像仪器配置文件，这里定义了所有成像仪器所测曲线的常用名称，见下图

8、，当成像数据文件中的曲线名称与这里定义的曲线名称相违背时，需用WIS管理器打开成像数据文件把不一致的曲线名改成相同曲线名，例如EMI仪器测得的井斜角一般命名为“DEVI”,当要处理的EMI成像数据文件中的井斜角不为“DEVI”时，需将它更名为“DEVI”。当同一曲线有多个常用的名字时，可修改这个配置文件让程序自动识别，例如EMI的曲线名称定义中，1号极板方位名称有时叫“P1AZ”有时叫“AZI1”,那么在PAD_1_AZIMUTH=AZI1行下边加入PAD_1_AZIMUTH2=P1AZ，那么不管以后EMI原始数据里1号极板曲线叫“AZI1”或者“P1AZ”程序都能识别出来，极板曲线的定义也是

9、一样在PAD_BUTTON=PAD1,PAD2,PAD3,PAD4,PAD5,PAD6，下边加入PAD_BUTTON2=XPAD1,XPAD2,XPAD3,XPAD4,XPAD5,XPAD6，那么程序可以自动识别EMI或增强型的RXMI的极板数据2.2数据预处理2.2.1功能可以做速度、加速度校正；极板纽扣电极对齐；数据标准化；直方图均衡，EMEX校正，还可以自动剔除坏电极等。可以生成高质量的测井成像图。速度、加速度校正：由于测井仪器在井下不规则运行或遇卡会产生锯齿状或平直段曲线，识别其特征，利用加速度校正曲线重新采样进行校正。数据归一化和数据预处理：由于不同的测井仪器测量的各电极测井曲线变化

10、大，必须做数据标准化；同时，还对测井数据做极板纽扣电极对齐；动态、静态数据标准化；直方图均衡，EMEX校正等。剔除坏电极：电极工作不正常或电极与井壁接触不好，使曲线在某一段深度上数据几乎没有变化，而且其均值与相邻电极有很大不一致，本系统可以根据坏电极、相邻电极曲线特征恢复坏电极曲线。2.2.2操作加速度预处理在对成像资料进行预处理之前首先要进行加速度预处理，其原理是利用两种方法（1.电缆记录深度2.对加速度二次积分求出仪器深度）确定的井下仪器深度估计出仪器的最优深度，具体操作为鼠标左键单击右测工具栏上的“加速度预处理”按钮弹出如下对话框：仪器类型：一般情况下程序自动选取识别出的仪

11、器类型，但是在处理阿特拉斯的声电组合成像时，因为数据体包含STAR电成像和CBIL声成像两种数据，而两种数据使用的加速度曲线又不相同，因此这时需要人工选取要处理STAR电成像或者是CBIL声成像。加速度曲线偏移：加速度曲线记录位置与极板曲线记录位置的偏移，一般情况下FMI为0.4064，其它仪器为0。电缆可信度：分为9级，越小表示越相信由加速度求出的仪器深度，越大则越相信电缆记录的深度。启用遇卡检测：如果启用则检测遇卡段，并强制将遇卡段的深度设置为一个点的深度。检测阈值：只有加速度曲线方差小于这个阈值的层段才被识别为遇卡层段，默认值0.01。单击确定处理结果如下：遇卡前减速解卡瞬间加速遇卡段，

12、极板曲线平直变化小数据压缩段，遇卡段数据被压缩在这个位置说明：上图中左边第2道为检测出的遇卡层段，被标记为红色，如果检测出的遇卡层段不合适，可修改或删除，如果有没识别出的遇卡段也可以在该道中单击鼠标右键增加遇卡段；左边第4道为计算出的仪器深度偏移，最优仪器深度电缆深度仪器深度偏移，右边第1道是以曲线方式显示的原始1号极板曲线，右边第2道是加速度校正后的1号极板曲线。遇卡层段特征：仪器在进入遇卡段之前在仪器加速度曲线上有一个明显的减速，进入遇卡段后加速度曲线变化平稳，方差很小，极板曲线为平直段，仪器在解卡瞬间加速度曲线上有一个明显的加速，而遇卡段极板数据就被压缩在这个加速段位置。 注意：运行完加

13、速度预处理后，如果检测的遇卡段不多，建议下一步成像资料预处理中不选择加速度校正，因为加速度校正不是在所有情况下都十分准确的，当加速度曲线精度不够，噪声较大时，加速度校正不会理想；此外当遇卡段较长时，遇卡段信息不会被完全记录，校正结果也不会理想。成像资料预处理选择预处理方法后，通过“处理方法”旁边的两个功能键 实现对成像资料的预处理，鼠标选中左键（开始处理），弹出下面的窗口：选好仪器类型后，即可进行成像资料的预处理，按以下步骤进行：A. 测井数据初始化（测量数据转化为极板数据）B. 速度、加速度校正 C. 电极深度对齐（纽扣电极深度校正）D. 重新刻度数据（EMEX校正） E.均衡

14、校正 F.坏电扣剔除待预处理窗中的各项选取正确后，按“确认”即可执行成像资料的预处理。有效的预处理是生成高质量图像的基础，以下是未经过校正和经过校正的成像图对比：未经任何校正的EMI成果图均衡校正、 坏电扣剔除后未经加速度校正的FMI成果图速度、加速度校正后速度、加速度校正后未经加速度校正的CBIL成果图2.3电阻率刻度2.3.1功能电成像采集的原始极板数据是电导率相对值，利用该方法可将相对电导率值转换为地下真实的电导率值，对于测井质量比较差的井，运行该方法还有异常数据修复作用，该方法只应用于电成像。2.3.2操作在处理之前首先要将同一口井的常规测井得到的浅电阻率曲线拷贝到成像wis数据文件中

15、，具体操作有以下4个步骤：1. 利用预处理后得到的极板数据计算出一条极板平均响应曲线，该曲线是一条没有经过刻度的平均相对电导率曲线，利用常规浅电阻率曲线计算出一条理论的平均电导率曲线。单击工具栏上的计算电导率曲线按钮，弹出如下对话框,首先选择一条常规测井浅电阻率曲线作为输入曲线，输出曲线的名字使用程序默认的即可，理论平均电导率曲线为TCURRENT由浅电阻计算得到，极板平均响应曲线为ACURRENT由的极板数据计算得到，单击确定后两条输出曲线被生成。2校深，把极板平均响应曲线ACURRENT作为基准曲线，把理论平均电导率曲线TCURRENT作为校深曲线，将理论平均电导率曲线和浅电阻率曲线的深度

16、校正成与极板平均响应曲线的深度相匹配。3确定刻度参数，用极板平均响应曲线和平均电导率曲线在交会图上交会，确定二者的线性关系，把它们的这种线性关系保存为线性点刻度参数，利用这些刻度参数可将极板测量的相对电导率数值转换为实际的真实电导率值。单击工具栏上的设置刻度参数按钮，在绘图区域会出现如下图板：图板的横坐标是极板平均响应曲线，纵坐标是理论平均电导率曲线，绘图区域内的蓝色三角点是需要用户确定的刻度点，过刻度点绘制的绿色线段就是极板平均响应曲线和理论平均电导率曲线之间的线型关系线。具体设置刻度点的方法是：首先关闭能够编辑按钮，单击功能框中的插入点字段，光标变为形状时在图板绘图区根据曲线点的趋势从左到

17、右依次单击，每次单击时都插入了一个刻度点，在插入最后一个点时一定要双击结束插入刻度点，如果刻度点确定的线性趋势不好，可对已插入的刻度点进行修改，这时要将光标移至刻度点位置单击鼠标左键可任意拖动刻度点，将光标移至绿色刻度线的位置可任意移动整条刻度线，在图板绘图区单击鼠标右键弹出编辑菜单，可执行的操作有，插入点、删除点、删除所有点、浏览刻度点参数、保存刻度点参数。当确认设置的刻度点很好的反应了两条曲线的线性趋势后，要单击功能框的保存参数字段保存已设置的刻度参数，刻度参数信息被保存到WIS文件的二进制流中，名字为ScaInp。4，根据设置好的刻度参数，刻度校正后的极板数据，将相对电导率值转换为真实的

18、电导率值。在处理电阻率刻度方法前首先要执行完预处理方法，之后在方法组合框中选择电阻率刻度方法，该方法的输入参数是前3步确定的刻度参数，输入曲线是预处理后的极板数据和平均极板响应曲线，输出曲线是刻度后的极板数据和由极板平均响应曲线刻度的浅电阻率曲线SRES，运行方法是单击工具栏上的开始处理按钮，处理得到的SRES曲线可用来检查刻度质量，将SRES曲线和常规测井的浅电阻率曲线放入同一曲线道中，二者匹配的越好说明刻度质量越好，处理界面见下图。2.4生成成像图形2.41功能根据地层声电变化特征，可以选取不同的归一化窗长，生成分辨率高、地质特征明显的动态图形，也可以生成全井段统一刻度、归一化的静态图像。

19、扫描曲线的均衡归一处理：通过对采样数据在纵向、横向的均值和方差的归一化处理来实现数据的纵向、横向均衡化。在整个处理井段内对扫描数据作归一化处理。通过计算各电极采样数据的均值和方差，并计算对应的极小值和极大值，根据图像面积相等的原则，利用直方图均衡方法把经过以上处理后的数据转化为256级灰度的图像数据。静态图像：在较大的深度段内对仪器响应归一化，保留图像的主要特征，观察图像的整体变化趋势。细微特征模糊或丢失。动态图象：在较短的深度段内对仪器响应归一化突出显示图像的细微变化特征，用于描述储层的细微结构。图像显示时将按极板数绘出。Schlumberger 的FMI仪器有四个臂，每个臂有一个主极板和一

20、个折页电极共8个极板；Western Atlas的STAR仪器6个极板一共144个电极；Halliburton的 EMI仪器6个极板一共150个电极。Western Atlas CBIL仪器每秒扫描6周，采样250点/转；CAST_V井周扫描，每周采样200点。图像可通过滤波与增强改善图像的视觉效果（如均值滤波、浮雕显示）。旋转井壁图像显示提供直观的显示效果。2.4.2操作预处理完成后，“处理方法”选中产生图象，与预处理方法一样，通过“处理方法”旁边的两个功能键实现产生图象。鼠标选中“开始处理“键，弹出下面的窗口，在正确选取仪器和图象类型及归一化窗长后，按“确认”即可执行产生图象。FMI处理成

21、果图2.5交互解释2.5.1功能利用鼠标在屏幕上可以进行各种的地质构造（各种裂缝、层理和孔洞等）识别、修改和删除。解释成果包括各种地质构造的定量描述（如裂缝宽度、面积、面孔隙度以及各种构造的倾角、倾向等）。各种地质构造名称用户可以通过表的定义方法自己定义。依据解释成果的形态本程序将成像解释成果分为两类，一类是正弦曲线形态的解释成果如裂缝、层理等，另一类是多边型解释成果如孔洞、砾石等，这些地质结构的命名是在FSystemDeftable.inf中修改IMAGE-RESULT结构表中地质名称项，如下图（注意：定义多边形解释成果要将解释成果名称后加一个大写P，例如要定义砾石在这里

22、要输入“砾石P”）。2.5.2操作具体勾画成像解释结果步骤是：关闭能够编辑按钮，在工具栏上单击交互解释按钮使该按钮处于选中状态，再将光标移至成像道，当光标变为或形状时在成像道内沿着构造边缘单击鼠标左键，正弦曲线形态的解释成果至少需要单击鼠标左键4次，多边形解释结果至少需要单击鼠标左键3次，勾画出构造形态后单击鼠标右键，弹出成果类型菜单见下图，该菜单列出了在deftable.inf表IMAGE-RESULT结构中定义的所有的成像解释结果名称，选择一个成果类型后本次勾画解释成果结束，勾画的解释结果显示在成像图上（注意，一定要在成像绘图特性对话框解释成果标签页中构选上想要显示的解释成果，否则解释结果

23、不能显示在成像图上，见下图）。快速交互解释：如果多次勾画的是同一解释成果类型，则第一次选择成果类型后第二次无需再次单击右键选择解释成果类型，第二次只要在勾画最后一点时双击鼠标左键即可勾画出与上一次相同类型的解释成果。若要停止勾画解释成果需要再次单击工具栏上的交互解释按钮关闭交互解释。对已勾画的解释成果可以进行二次修改，首先关闭能够编辑按钮，然后将光标移至解释成果处，单击鼠标左键选择该成果。对于正弦形态的解释成果，可以单击鼠标左键在成像图内任意拖动它，改变当前解释成果的深度和方位，当解释成果被选择时它的上峰值点和下峰值点会出现两个句柄，可单击鼠标左键拖动这两个句柄任意改变当前解释成果的倾角；对于

24、多边形的解释成果，也可以单击鼠标左键在成像图内任意拖动它，甚至可以跨成像图的边界拖动，当多边形解释成果被选择时它的所有顶点都会出现句柄，可单击鼠标左键拖动句柄改变当前解释成果形态。在解释成果处单击鼠标右键弹出菜单，可在菜单中选择删除该解释成果或编辑该解释成果。2.6图像处理2.6.1功能可以对生成图像的像素值做各种处理。如各种滤波、变换、边缘检测、边缘增强等。自动识别井壁裂缝：通过形态滤波-腐蚀和膨胀技术，考察连通性，识别裂缝特征。自动识别孔洞：通过用户设置的阈值自动在成像图上识别出孔洞。产生孔隙分布数据：创建孔隙分布图。阈值分析：通过改变阈值交互切割图像，便于我们确定一个合理的裂缝阈值。2.

25、6.2操作在成像绘图区内，点击用鼠标右键，弹出图象处理菜单，如下图示：包括三部分：图形处理、区域自动识别和阈值分析。 1.图形处理：包括各种滤波、变换、边缘检测等，如下图。滤波：包括图像平滑、中值滤波等。变换：包括线性变换、窗口变换、灰度拉伸、灰度均衡等。边缘检测：包括梯度锐化、拉普拉斯锐化、边缘检测等。不处理：选择“不处理”菜单项可以从备分数据中恢复当前选择深度段的原始图像。2.区域自动识别在电阻率图像绘图区域内，按鼠标右键，选择区域自动识别弹出如下所示下拉菜单：构造半自动拾取、构造自动拾取、孔洞自动拾取、产生孔隙度分布。构造半自动拾取：在人工选择的深度段内，给定窗长、步长，自动识别地质构造

26、、计算地质构造参数。选择“构造半自动拾取“菜单后，弹出如下对话框，选择深度段、窗长、地质构造特征和二制阈值。 构造自动拾取：在人工选择的深度段内，给定统一窗长、步长，在每一窗长内自动识别地质构造。孔洞自动拾取：在人工选择的深度段内，根据设置好的参数自动拾取多边形解释成果，见下图。 参数说明： GR截止值：小于该参数的层段被认为是非储层段不进行识别。 最小面积点数：在成像图上面积小于该点数的解释成果不进行识别。阈值：利用该参数在成像图上切割掉图像背景只保留解释成果图像信息，因此只有大于该阈值的图像才能被识别为解释成果。操作：为了准确识别解释成果，阈值的确定非常关键，为了确定合理的阈值要勾选上启用

27、阈值分析项，这时成像图被当前阈值所分割，如上图左边的成像道，孔洞拾取对话框下边绘制的是用户选择层段的图像颜色直方图，图中粉红色的标尺是当前阈值位置，将光标移至标尺处，这时光标变为左右箭头形态，单击鼠标左键拖动标尺可改变当前阈值，同时成像图也及时被改变的阈值所切割，用这种交互切割图像的方法可以使我们直观准确的确定一个合理的阈值，单击对话框下边的开始拾取按钮，拾取结果如上图右边成像道所示，如果拾取的结果不合适可精细修改也可删除。产生孔隙分布数据：统计成像图颜色值，创建孔隙分布图，见下图。 3.阈值分析：功能等同与孔洞自动识别功能中的阈值分析，如果当前方法是裂缝参数计算，还可将分析得到的阈值参数直接

28、写入到选中层或所有层，写入参数后需要打开参数编辑框保存参数。2.7裂缝参数计算2.7.1功能统计成像图上的裂缝、孔洞等，计算出裂缝或孔洞的定量参数。2.7.2操作选择裂缝参数计算方法后，首先要确定合理的解释参数，其中阈值参数可通过成像对象的阈值分析工具进行确定，确定好参数后用鼠标左键单击开始处理按钮，弹出下面的窗口，选择要加入计算的解释成果类型然后单击确定。参数确定： CIMAGE=输入图像 说明：一般选静态图像，当静态图像十分不清晰时也可选动态图像 CBIT=井径(英寸)CHCR=井壁覆盖率(%) 说明：该参数为成像仪器在横向上覆盖井壁的面积与井壁面积的比值。CTHS=裂缝阈值 说明：用该阈

29、值切割成像图，将大于该阈值的图像信息识别为裂缝或孔洞。 CFVPFLAG=计算裂缝孔隙度方法,enumn 1依据解释成果计算 2自动识别 说明：1依据解释成果计算，只在有解释成果的深度段计算裂缝参数，计算方法是根据解释成果的形态和阈值进行计算；2自动识别，根据阈值自动在成像图进行孔洞和裂缝识别并计算出一条连续的裂缝孔隙度。CWINDOW=统计窗长(米)说明：统计裂缝参数的窗口长度，如果该参数为1米则统计的是每米井壁内的裂缝参数CSLEN=单条裂缝纵向搜索长度(米)说明：该参数只用在依据解释成果计算方法中，该参数要大于裂缝的宽度。 CGRCUT=泥岩段GR值说明：该参数只用在自动识别方法中，小于该参数的层段被认为是非储层段不计算裂缝参数 CFVPFAC=孔隙度因子说明：该参数是裂缝孔隙度系数，由于阈值往往并不能完全切割掉背景图象，所以一般情况下计算的裂缝孔隙度会偏大，所以设置该参数可以调整裂缝孔隙度大小。 CMFLAG=计算裂缝宽度方法,enumn 阈值分割 有限元法 说明：1.阈值分割，用阈值切割成像图，依据裂缝的轨迹搜索出的裂缝的可视宽度。 2. 有限元法，斯伦贝谢公司的一种计算裂缝宽度的方法，公式如下： W=a*A*Rmb*Rxo(1-b) W:裂缝宽度 A:由裂缝造成的电导异常面积 Rm:泥浆电阻率 Rxo:浸入带电