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文档简介

ICS33.180.01

CCSM33

YD

中华人民共和国通信行业标准

YD/TXXXX.1—202X

单通道有源光缆光模块

第1部分:25Gb/sAOC

Singlechannelactiveopticalcabletransceiver—

Part1:25Gb/sAOC

(报批稿)

202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

YD/TXXXX.1—202X

前  言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

本文件是YD/Txxxx《单通道有源光缆光模块》的第1部分。YD/Txxxx已经发布了以下部分:

——第1部分:25Gb/sAOC。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国通信标准化协会提出并归口。

本文件起草单位:中国信息通信研究院、中兴通讯股份有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、

长飞光纤光缆股份有限公司、江苏亨通光电股份有限公司、中天宽带技术有限公司、江苏通鼎宽带有限

公司、深圳市东彦通信科技有限公司、武汉永鼎光通科技有限公司、苏州苏驼通信科技股份有限公司、

普天信息工程设计服务有限公司。

本文件主要起草人:吕佳欣、刘德强、刘泰、王逸松、汤彪、冯仕琨、初元量、卢海萌、梁波、蓝

燕锐、芦国斌、徐秋霜、田军、陈彬、李果。

III

YD/TXXXX.1-202X

引  言

随着大数据时代到来,以及人工智能、虚拟/增强现实、物联网等新型技术出现,数据流量呈现指

数级增长,这种增长对数据中心的容量和网络架构等提出了越来越高的要求。为应对流量的快速增长,

数据中心的光互连正向着更高速率发展。在数据中心的光互连中,单通道有源光缆光模块因其具有功耗

低、体积小、重量轻和抗电磁干扰等优势,可为数据中心内部服务器到交换机间的短距离连接提供高密

度、低成本和小功耗的解决方案。开展单通道有源光缆光模块的行业标准制定工作,统一单通道有源光

缆光模块产品的关键参数,有利于推动我国高速光传输相关产业链的规范化,进一步支撑我国信息化产

业及应用的高速平稳发展。

YD/Txxxx《单通道有源光缆光模块》旨在确立不同传输速率的单通道有源光缆光模块需要遵循的

技术参数、测试方法、可靠性试验、检验规则等要求,暂由三个部分构成。随着技术的发展演进,未来

可能包含更多部分。

——第1部分:25Gb/sAOC。目的在于确立25Gb/s单通道有源光缆光模块需要遵循的技术参数、

测试方法、可靠性试验、检验规则等要求;

——第2部分:50Gb/sAOC。目的在于确立50Gb/s单通道有源光缆光模块需要遵循的技术参数、

测试方法、可靠性试验、检验规则等要求;

——第3部分:100Gb/sAOC。目的在于确立100Gb/s单通道有源光缆光模块需要遵循的技术参数、

测试方法、可靠性试验、检验规则等要求。

IV

YD/TXXXX.1-202X

单通道有源光缆光模块第1部分:25Gb/sAOC

1范围

本文件界定了25Gb/s单通道有源光缆光模块(以下简称为“25Gb/sAOC”)的缩略语、术语和定

义、分类,规定了25Gb/sAOC的工作条件、传输光缆特性、电气特性、模块机械尺寸、模块引脚定义、

外观、环保符合性等技术要求,描述了相应的测试方法,规定了25Gb/sAOC的检验规则及标志、包装、

运输与贮存等。

本文件适用于数据中心等应用场景下25Gb/s单通道有源光缆光模块的设计、开发、生产和检验。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,

仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本

文件。

GB/T191-2008包装储运图示标志

GB/T2828.1-2012计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划

GB/T26572-2011电子电气产品中限用物质的限量要求

GB/T39560(所有部分)电子电气产品中某些物质的测定

SJ/T11364-2014电子电气产品有害物质限制使用标识要求

YD/T1766-2016光通信用光收发合一模块的可靠性试验失效判据

YD/T3125.2-2019通信用增强型SFP光收发合一模块(SFP+)第2部分:25Gbit/s

YD/T3537通信有源光缆(AOC)用线缆

IEC61000-4-2电磁兼容试验第4-2部分:测试和测量技术—静电放电抗扰度试验

(Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-2:Testingandmeasurementtechniques—Electrostatic

dischargeimmunitytest)

IEC61000-4-3电磁兼容试验第4-3部分:测试和测量技术—辐射,射频,电磁场抗扰度测试

(Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—Radiated,

radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest)

ANSI/ESDA/JEDEC-JS-001-2017静电放电敏感度试验—人体放电模型(HBM)—器件等级

(Forelectrostaticdischargesensitivitytesting—humanbodymodel(HBM)—componentlevel)

FCCPART15射频器件(Radiofrequencydevices)

TelcordiaGR-468-CORE:2004用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求(Genericreliability

assurancerequirementsforoptoelectronicdevicesusedintelecommunicationsequipment)

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

1

YD/TXXXX.1-202X

有源光缆activeopticalcable

两端连接有光模块的光缆。

[来源:YD/T2796.1-2015,3.2.2]

4缩略语

下列缩略语适用于本文件。

AOC有源光缆(ActiveOpticalCable)

AQL接收质量限(AcceptanceQualityLimit)

BER比特误码率(BitErrorRatio)

BR传输速率(BitRate)

CDR时钟数据恢复(ClockDataRecovery)

CML电流型逻辑(CurrentModeLogic)

ESD静电放电(ElectrostaticDischarge)

LOS信号丢失(LossofSignal)

LTPD批内允许不合格品率(LotTolerancePercentDefective)

LVTTL低电压晶体管对晶体管逻辑(LowvoltageTransistor-TransistorLogic)

OM光模式(OpticalMode)

PRBS伪随机码序列(Pseudo-RandomBitSequence)

Rx接收机(Receiver)

SCL时钟逻辑端口(SerialClock)

SDA数据逻辑端口(SerialData)

SFP小型化可插拔(SmallForm-factorPluggable)

SS最小样品数(MinimumSampleSize)

TP测试参考点(TestPoint)

Tx发射机(Transmitter)

5分类

5.1按光纤类型分类

按照光纤类型可分为:

——OM2型;

——OM3型;

——OM4型。

5.2按光缆长度分类

按照光缆长度可分为:

——3m;

——5m;

——10m;

——20m;

——30m;

——50m;

2

YD/TXXXX.1—202X

——70m;

——100m;

注:传输距离也可根据客户要求进行定制。

6技术要求

6.1原理框图

25Gb/sAOC的原理框图见附录A。

6.2工作条件

6.2.1极限工作条件

25Gb/sAOC的极限工作条件应符合表1。

表1极限工作条件

参数名称符号最小值最大值单位

贮存温度Tstg-40+85℃

相对湿度RH5%85%—

供电电压Vcc0+3.6V

6.2.2推荐工作条件

25Gb/sAOC的推荐工作条件应符合表2。

表2推荐工作条件

参数名称符号最小值最大值单位

管壳温度Tc0+70℃

供电电压Vcc3.143.46V

ESD信号管脚(高速管脚)—1000—V

阈值非信号管脚(低速管脚)—2000—V

ESD空气放电—8000—V

抗扰度接触放电—15000—V

6.2.3功耗要求

25Gb/sAOC的一端模块功耗应小于1W。

6.3传输光缆特性

3

YD/TXXXX.1-202X

25Gb/sAOC的传输光缆特性应符合YD/T3537的要求。

6.4电气特性

6.4.1发送端的输入电气要求

25Gb/sAOC的发送端TP1点输入电气特性应符合表3。

表325Gb/sAOC发送端输入电气参数

参数名称最小值最大值单位

电平类型CML—

传输速率(BR)25.78Gb/s

传输速率波动范围±100×10-6Gb/s

差分输入峰峰值电压300900mV

直流共模电压a-350+2850mV

差分终端阻抗失配b—10%—

差分输入回损(Sdd11)—见公式(1)dB

差模到共模输入回损(Scd11)—见公式(2)dB

a直流共模电压由主机产生,应包括主机接地偏置电压的影响。

b在1MHz条件下。

∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙(1)

−9.5+0.37��0.01≤�<8

���11<

−4.75+7.4𝑙�10148≤�<19

�∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙(2)

−22+2025.780.01≤�<12.89

���11<�

式中:−15+625.7812.89≤�<19

f——频率,单位为吉赫兹(GHz);

Sdd11——差分输入回损,单位为分贝(dB);

Scd11——差模到共模输入回损,单位为分贝(dB)。

6.4.2接收端的输出电气要求

25Gb/sAOC的接收端TP4点输出电气特性应符合表4。

表425Gb/sAOC接收端输出电气参数

参数名称最小值最大值单位

传输速率(BR)25.78Gb/s

传输速率波动范围±100×10-6Gb/s

4

YD/TXXXX.1—202X

表425Gb/sAOC接收端输出电气参数(续)

参数名称最小值最大值单位

交流共模输出电压(RMS)—17.5mV

直流共模电压a-350+2850mV

差分输出峰峰值电压—900mV

差分终端阻抗失配b—10%—

电眼图宽度c0.57—UI

差分电眼图高度c228—mV

垂直眼闭合度—5.5dB

上升/下降时间(20%~80%)12—ps

差分输出回损(Sdd22)—见公式(3)dB

共模到差模输出回损(Sdc22)—见公式(4)dB

比特误码率(BER)d—5×10-5—

a直流共模电压由主机产生,应包括主机接地偏置电压的影响。

b在1MHz条件下。

c在误码率BER=10-15条件下。

d充分随机的误码统计下,该误码率能够确保系统失帧率低于6.2×10-10,当不能满足随机误码统计时,比特误码率需要

确保系统失帧率低于6.2×10-10。

∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙(3)

−9.5+0.37�0.01≤�<8

���22<

−4.75+7.4𝑙�10148≤�<19

�∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙(4)

−22+2025.780.01≤�<12.89

���22<�

式中:−15+625.7812.89≤�<19

f——频率,单位为吉赫兹(GHz);

Sdd22——差分输出回损,单位为分贝(dB);

Sdc22——共模到差模输出回损,单位为分贝(dB)。

6.5模块机械尺寸

25Gb/sAOC的模块机械尺寸应符合YD/T3125.2-2019中6.7的规定。

6.6模块引脚定义

25Gb/sAOC的模块引脚排列和引脚定义应符合附录B的要求。

6.7外观要求

5

YD/TXXXX.1-202X

25Gb/sAOC的外观应平滑、洁净、无油渍、无伤痕及裂纹,整个器件牢固,与连接器插拔平顺。

6.8环保符合性

25Gb/sAOC的组成单元分类应符合GB/T26572-2011中表1的规定,有毒有害物质的限量要求按

GB/T39560(所有部分)规定检测,应符合GB/T26572-2011中表2的要求。

7测试方法

7.1测试环境

测试环境要求如下:

——温度:15℃~35℃;

——相对湿度:45%~75%;

——大气压力:85kpa~106kpa。

当不能在标准大气条件下进行测试时,应在测试报告上写明测试环境条件。

7.2测试仪器

测试所用的仪器仪表应在规定的有效校准期内,如无特殊说明,其精度应高于所测参数精度至少一

个数量级。

7.3测试方法

7.3.1接收端差分输出峰峰值电压、比特误码率、上升/下降时间和电眼图测试框图

25Gb/sAOC的接收端差分输出峰峰值电压、比特误码率、上升/下降时间和电眼图测试配置框图如

图1所示。

图125Gb/sAOC的接收端差分输出峰峰值电压、比特误码率、上升/下降时间和电眼图测试配置框图

7.3.2接收端差分输出峰峰值电压、比特误码率、上升/下降时间和电眼图测试步骤

测试步骤如下:

a)按如图1实线连接好测试系统,开启电源,设置误码仪速率25.78Gb/s和码型PRBS231-1非归

零码,测试过程应采取静电放电防护措施;

b)调出误码仪的比特误码率测试功能,测试时间不小于100s,记录比特误码率测试结果;

6

YD/TXXXX.1—202X

c)将待测25Gb/sAOC模块的输出电信号按如图1虚线连接到示波器,设置示波器为差分采样工

作模式;

d)调出示波器的电眼图测试功能,将模块测试的电眼图与示波器对应的电眼图模板进行比对,

并记录电眼图(电眼图宽度、差分电眼图高度、垂直眼闭合度)测试结果;

e)调出示波器的上升/下降时间测试功能,记录上升/下降时间(20%~80%)测试结果;

f)调出示波器的幅度测试功能,测试得到电眼图的输出幅度,记录差分输出峰峰值电压测试结

果。

8可靠性试验

8.1可靠性试验环境

可靠性试验环境要求同7.1。

8.2可靠性试验要求

可靠性试验要求应符合表5。

表5可靠性试验要求

抽样方案

试验项目引用标准试验条件

LTPDaSSaCa

人体放电模型(HBM),1次放电;

ESDANSI/ESDA/JEDEC

信号管脚组(或者高速管脚组)≥1000V;—60

物理等级b-JS-001-2017

非信号管脚组(或者低速管脚组)≥2000V。

特性

试验

ESD空气放电:±15kV,10次放电;

IEC61000-4-2—30

抗扰度c接触放电:±8kV,10次放电。

Telcordia加速度500g,脉冲持续时间1.0ms,冲击

机械冲击GR-468-CORE:2004次数:每方向5次,方向X1、X2、Y1、Y2、20110

3.3.1.1.1Z1、Z2。

Telcordia加速度20g,频率20Hz~2000Hz,扫频速

变频振动GR-468-CORE:2004率4min/循环,循环次数:4循环/轴向,方20110

机械

3.3.1.1.2向X、Y、Z。

完整

性试验——涂敷层或紧套、松套光纤:

负载4.9N,扭转角度90°~-90°~0°,循

Telcordia

光纤光缆环次数10次,扭折点离器件3cm;

GR-468-CORE:200420110

扭转——增强型光纤:

3.3.1.3.1

负载9.8N,扭转角度90°~-90°~0°,循

环次数10次,扭折点离器件3cm。

7

YD/TXXXX.1-202X

表5可靠性试验要求(续)

抽样方案

试验项目引用标准试验条件

LTPDaSSaCa

——涂敷层或紧套光纤:

拉力2.45N,90°,离光纤保护套22cm到

Telcordia

光纤光缆28cm;

GR-468-CORE:200420110

侧拉力——松套或增强型光纤:

3.3.1.3.2

拉力4.9N,90°,离光纤保护套22cm到

机械

28cm。

完整

——涂敷层或紧套光纤:

性试验

拉力4.9N,保持时间1min,距光纤尾端

Telcordia

光纤光缆10cm处;

GR-468-CORE:200420110

保持力——松套或增强型光纤:

3.3.1.3.3

拉力9.8N,保持时间1min,距光纤尾端

10cm处。

Telcordia

高温贮存GR-468-CORE:2004高温贮存温度+85℃,时间2000h。20110

3.3.2.1

Telcordia

低温贮存GR-468-CORE:2004低温贮存温度-40℃,时间72h。20110

非工作3.3.2.1

环境

试验Telcordia温度范围-40℃~+85℃,温度变化速率>

温度循环GR-468-CORE:200410℃/min,极限温度下的停留时间≥20110

3.3.2.210min,循环次数:500次。

Telcordia

恒定湿热GR-468-CORE:2004温度+85℃,相对湿度85%,时间500h。20110

3.3.2.3

Telcordia

高温寿命GR-468-CORE:2004正常工作条件下,温度+70℃,时间2000h。20110

3.3.3.1

工作Telcordia

湿热循环温度范围65℃~25℃~-10℃,高温湿度

环境GR-468-CORE:200420110

(工作)90%,低温湿度不控制,循环10次。

试验3.3.3.2

Telcordia

恒定湿热正常工作条件下,温度+70℃,相对湿度

GR-468-CORE:200420110

(工作)85%,时间1000h。

3.3.3.3

8

YD/TXXXX.1—202X

表5可靠性试验要求(续)

抽样方案

试验项目引用标准试验条件

LTPDaSSaCa

aLTPD为批内允许不合格品率,SS为最小样品数,C为允许失效数。

b在ESD极限测试中,所有样品需测试到失效为止,“0”(失效数)表示测试ESD极限值小于最小容许值的器件数。

c试验气候条件除相对湿度为30%~60%外,其他同6.2.2,试验室的电磁环境不应影响试验结果。

8.3可靠性试验判据

8.3.1ESD阈值、机械完整性、非工作环境试验、工作环境试验失效判据

各项试验完成后,在相同测试条件下,出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格;

——外壳破裂或有裂纹,内部元器件发生脱落;

——参数不满足6.4的要求。

8.3.2ESD抗扰度试验失效判据

ESD抗扰度失效等级可按照如下要求分类,各等级的失效判据如下:

——A级:在制造商、委托方或购买方规定的限值内性能正常;

——B级:功能或性能暂时性丧失或降低,但在骚扰停止后能自行恢复,不需要操作者干预;

——C级:功能或性能暂时性丧失或降低,需操作者干预才能恢复;

——D级:因设备硬件或软件损坏,或数据丢失而造成不能恢复的功能丧失或性能下降。

9电磁兼容试验

9.1电磁兼容试验分类

电磁兼容试验分为两类:

——射频电磁场辐射发射试验;

——射频电磁场辐射抗扰度试验。

9.2电磁兼容试验要求

25Gb/sAOC的电磁兼容试验要求应符合表6。

表6电磁兼容试验要求

抽样方案

试验项目引用标准试验条件

LTPDaSSaCa

80MHz~5300MHz,

射频电磁场IEC61000-4-3

10V/m,80%幅度调制(1kHz—10

辐射抗扰度试验试验等级3

正弦波)

9

YD/TXXXX.1-202X

表6电磁兼容试验要求(续)

抽样方案

试验项目引用标准试验条件

LTPDaSSaCa

射频电磁场

FCCPART1530MHz~40GHzb—30

辐射发射试验

aLTPD为批内允许不合格品率,SS为最小样品数,C为允许失效数。

b测量频率上限的选择如下:

——频率低于108MHz,则测量频率上限为1GHz;

——频率在108MHz~500MHz之间,则测量频率上限为2GHz;

——频率在500MHz~1GHz之间,则测量频率上限为5GHz;

——频率高于1GHz,则测量频率上限为40GHz。

9.3射频电磁场辐射发射试验限值

25Gb/sAOC的射频电磁场辐射发射试验限值应符合表7。

表7射频电磁场辐射发射试验限值

B级信息技术设备在测量距离10m处B级信息技术设备在测量距离3m处

频率范围(MHz)准确值/平均值限值a峰值限值准确值/平均值限值a峰值限值

dBμV/mdBμV/mdBμV/mdBμV/m

30~8830—40—

88~21633.5—43.5—

216~96036—46—

960~3000——5070

3000~40000——5474

注1:当出现环境干扰时,可采取附加措施。

注2:B级信息技术设备在测量距离3m处或者10m处,二者选一。

注3:在过渡频率处,可采取较低的限值。

a测量频率限值要求的选择如下:

——960MHz及以下频率测试时限值要求为准峰值限值;

——960MHz及以上频率测试时限值要求为平均值限值和峰值限值。

9.4失效判据

电磁兼容试验失效判据应符合YD/T1766-2016中8.2的规定。

10

YD/TXXXX.1—202X

10检验规则

10.1检验分类

检验分为出厂检验、型式检验和电磁兼容试验。出厂检验分为常规检验和抽样检验。

10.2出厂检验

10.2.1常规检验

常规检验应百分之百进行,检验项目如下:

——外观:目测,符合6.7要求。

——性能检测:按第7章测试方法对差分输出峰峰值电压、比特误码率、上升/下降时间和电眼图

等参数进行测试,其结果应符合6.4的规定。

10.2.2抽样检验

从批量生产中生产的同批或若干批产品中,按GB/T2828.1-2012规定抽样,取一般检查水平Ⅱ,

接收质量限(AQL)和检验项目及方法如下:

a)外观

——AQL取1.5;

——检验方法:目测,符合6.7要求。

b)外形尺寸

——AQL取1.5;

——检验方法:用满足精度要求的量度工具测量,其结果应符合6.5要求和产品技术条件规定。

c)性能检测

——AQL取0.4;

——检验方法:按第7章测试方法对差分输出峰峰值电压、比特误码率、上升/下降时间和电眼

图等参数进行测试,其结果应符合6.4的规定。

10.3型式检验和电磁兼容试验

10.3.1型式检验条件

25Gb/sAOC有下列情况之一时,应进行型式检验:

——产品定型时或已定型产品转场时;

——正式生产后,如果结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能时;

——产品长期停产12个月后,恢复生产时;

——出厂检验结果与定型时的型式检验有较大差别时;

——正常生产24个月后;

——国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。

10.3.2电磁兼容试验条件

25Gb/sAOC有下列情况之一时,应进行电磁兼容检验:

——产品设计定型时;

——正式生产后,如果结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品的电磁兼容性能时。

11

YD/TXXXX.1-202X

10.3.3检验要求

在进行型式检验或电磁兼容试验前,按第7章的规定,对样品的性能参数进行测试,并记录测试结

果。

10.3.4检验项目及抽样方案

型式检验的检验项目及抽样方案按表5,电磁兼容试验的检验项目及抽样方案按表6。

10.3.5检验批的构成

提交检验的批,可由一个生产批构成,或由符合下述条件的几个生产批构成:

——这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的;

——若干个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。

10.3.6样品的使用规则

样品使用规则如下:

——凡经受了型式检验的样品,一律不能作为合格品交付使用;

——在不影响检验和试验结果的条件下,一组样品可用于其他分组的检验和试验。

10.3.7产品不合格的判定

各项试验完成后,不合格判定按8.3和9.4的规定执行,若其中任何一项试验不符合要求时,则判

该批不合格。

10.3.8不合格批的重新提交

当提交型式检验或电磁兼容试验的任一检验批不符合表5和表6中规定的任一分组要求时,应根据

不合格原因,采取纠正措施后,对不合格的检验分组重新提交检验。重新检验应采用加严抽样方案。若

重新检验仍有失效,则该批拒收。如通过检验,则判为合格。但重新检验不得超过2次,并应清楚标明

为重新检验批。

11标志、包装、运输与贮存

11.1标志

11.1.1标志内容

每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志。

11.1.2标志要求

标志清晰牢固,标志内容应符合11.1.1的要求,标志贴放位置应符合GB/T191-2008中相关要求。

进行全部试验后,标志应保持清晰。标志损伤了的产品应重新打印标志,以保证发货之前标志的清晰。

11.1.3污染控制标志

产品的污染控制标志应按SJ/T11364-2014第5章规定,在包装盒或产品上打印上电子信息产品污

染控制标志。

12

YD/TXXXX.1—202X

11.2包装

产品应有良好的包装及防静电措施,避免在运输过程中受到损坏。包装盒上应标有产品名称、型号

和规格、生产厂家、产品执行标准号、防静电标识、激光防护标志等。

包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括:产品名称、型号、简明工作原理和主要技术指标、极

限工作条件、安装尺寸和引脚排列、使用注意事项等。

11.3运输

包装好的产品可用常用的交通工具运输,运输过程中应避免雨雪的直接淋袭、烈日曝晒和猛烈撞击。

11.4贮存

产品应贮存在环境温度为-10℃~+40℃,相对湿度不大于80%且无腐蚀性气体、液体的仓库里。贮

存期超过12个月的产品,出库前,应按第7章规定的方法进行参数测试,测试结果符合6.4要求方可

出库。

13

YD/TXXXX.1-202X

附录A

(资料性)

原理框图

25Gb/sAOC的原理框图如图A.1所示。

图A.125Gb/sAOC原理框图

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附录B

(规范性)

模块引脚排列和引脚定义

B.1模块引脚排列

25Gb/sAOC的模块引脚排列如图B.1所示。

图B.125Gb/sAOC模块引脚排列

B.2模块引脚定义

25Gb/sAOC的模块引脚定义见表B.1。

表B.125Gb/sAOC模块引脚定义

管脚顺序电平a标号上电顺序功能

1—VeeTb第一步模块发射端接地

2LVTTL-OTx_Fault第三步模块发射端报错

3LVTTL-ITx_Disablec第三步发射端使能,用于关断激光器输出

4LVTTL-I/OSDAd第三步两线串行接口数据线

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YD/TXXXX.1-202X

表B.125Gb/sAOC模块引脚定义(续)

管脚顺序电平a标号上电顺序功能

5LVTTL-I/OSCLd第三步两线串行接口时钟线

6—Mod_ABS第三步模块不在位,模块接地

7LVTTL-IRS0第三步———

8LVTTL-ORx_LOS第三步接收信号丢失指示,逻辑0代表正常

9LVTTL-IRS1第三步———

10—VeeRb第一步模块接收端接地

11—VeeRb第一步模块接收端接地

12CML-ORD-第三步反向接收数据输出

13CML-ORD+第三步正向接收数据输出

14—VeeRb第一步模块接收端接地

15—VccR第二步模块接收端3.3V电源

16—VccT第二步模块发射端3.3V电源

17—VeeTb第一步模块发射端接地

18CML-ITD+第三步正向发射数据输入

19CML-ITD-第三步反向发射数据输入

20—VeeTb第一步模块发射端接地

a标记输入(I)和输出(O)是以模块侧来区分的,任何板子边缘接触外壳之前,应使笼子首先有电连接。

b模块信号地管脚VeeR和VeeT应该与模块外壳隔离分开。

cTx_Disable为输入引脚,在模块内应使用一个4.7kΩ~10kΩ的电阻上拉到VccT。

d为集电极/漏极开路输出,在主板上应使用一个4.7kΩ~10kΩ的电阻上拉。但要注意的是,主板设计要保证上拉电源

的电压在3.15V~3.45V之间。

16

YD/TXXXX.1-202X

目  次

前  言............................................................................III

引  言.............................................................................IV

1范围................................................................................1

2规范性引用文件......................................................................1

3术语和定义..........................................................................1

4缩略语..............................................................................2

5分类................................................................................2

5.1按光纤类型分类..................................................................2

5.2按光缆长度分类..................................................................2

6技术要求............................................................................3

6.1原理框图.......................................

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