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文档简介
ICS31.220.20
CCSL26
YD
中华人民共和国通信行业标准
YD/TXXXXX—202X
射频同轴固态开关模块
Technicalrequirementsforradio-frequencycoaxialsolid-stateswitchmodules
(点击此处添加与国际标准一致性程度的标识)
(报批稿)
202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施
中华人民共和国工业和信息化部 发布
YD/TXXXX——202X
前言
本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起
草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国通信标准化协会提出并归口。
本文件起草单位:江苏俊知技术有限公司、中国信息通信研究院、成都泰瑞通信设备检测有限公司、
中国信息通信科技集团有限公司、北京邮电大学、中国电信集团有限公司、成都大唐线缆有限公司、珠
海汉胜科技股份有限公司。
本文件主要起草人:代康、郭志宏、刘泰、薛梦驰、刘骋、李春生、罗勇、岳江平、张磊、韦小兰、
宋志佗、冯玲芳。
II
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射频同轴固态开关模块
1范围
本文件规定了射频同轴固态开关模块的产品分类、一般要求、测试方法、性能要求、检验规则以及
包装和贮存等方面的要求。
本文件适用于以PIN二极管为控制元件、射频接口为同轴连接器、开关组态为单刀单掷和单刀多掷
的射频同轴固态开关模块(以下简称“开关”或“产品”)的制造、测试、验收及使用。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,
仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本
文件。
GB/T191包装储运图示标志
GB/T11313.15射频连接器第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹
连接的射频同轴连接器(SMA型)
GB/T11313.16射频连接器第16部分:外导体内径为7mm(0.276in)、特性阻抗为50Ω(75Ω)、
螺纹连接的射频同轴连接器(N型)分规范
GB/T11313.35射频连接器第35部分:2.92系列射频连接器分规范
GB/T11313.40射频连接器第40部分:2.4系列射频连接器分规范
GB/T11499半导体分立器件文字符号
GJB150.3军用设备环境试验方法高温试验
GJB150.4军用设备环境试验方法低温试验
GJB150.5军用设备环境试验方法温度冲击试验
GJB360B-2009电子及电气元件试验方法
GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
SJ20610-1996微波电路微波开关测试方法
SJ20612微波电路参数文字符号
SJ20677-1998微波集成PIN单刀开关模块通用规范
IEC60169-17射频连接器第17部分:外导体内径为6.5mm(0.256in)、特性阻抗为50Ω、螺
纹连接的射频同轴连接器(TNC型)分规范[Radio-frequencyconnectors-Part17:Sectional
specificationforRFcoaxialconnectorswithinnerdiameterofouterconductor6,5mm(0,256
in)withscrewcoupling-Characteristicimpedance50ohms(TypeTNC)]
IEC61169-32射频连接器第32部分:外导体内径为1.85mm(0.072in)、特性阻抗为50Ω、螺
纹连接的射频同轴连接器(1.85型)分规范[Radio-frequencyconnectors-Part32:Sectional
specificationforRFcoaxialconnectorswithinnerdiameterofouterconductor1,85mm(0,072
in)withscrewcoupling-Characteristicimpedance50ohms(Type1,85)]
IEC60747-16-4半导体器件第16-4部分:微波集成电路开关(Semiconductordevices-Part
16-4:Microwaveintegratedcircuits-Switches)
IEEEStd.P287.1射频、微波和毫米波用精密同轴连接器标准第1部分:一般要求、定义和详细
规范(StandardforPrecisionCoaxialConnectorsatRF,MicrowaveandMillimeter-wave
Frequencies-Part1:Generalrequirements,definitions,anddetailedspecifications)
ITU-RSM.1837测量无线电监测接收机三阶交调截取点(IP3)电平的测试程序[Testprocedurefor
measuringthe3rdorderinterceptpoint(IP3)levelofradiomonitoringreceivers]
3
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3术语和定义
GB/T11499和SJ20612界定的术语和定义适用于本文件。
4符号
下列符号适用于本文件。
f——频率。
IIP3——三阶交调截点输入功率。
Li——插入损耗。
Liso——隔离度。
PCWM——连续波功率。
Pi(1dB)——1分贝增益压缩输入功率。
toff——关断时间。
ton——开通时间。
VSWR——电压驻波比。
5产品分类
5.1工作频率
本文件覆盖的产品工作频率的最大范围为300MHz~50GHz,产品工作频率为该范围的一部分或全
部。
5.2开关组态
产品可按其组态进行分类。优选的开关组态及其缩写见表1。
表1开关组态
序号开关组态开关组态缩写
1单刀单掷SP1T或SPST
2单刀双掷SP2T或SPDT
3单刀三掷SP3T
4单刀四掷SP4T
5单刀五掷SP5T
6单刀六掷SP6T
7单刀七掷SP7T
8单刀八掷SP8T
5.3产品结构
产品可按其结构分为反射式开关和吸收式开关。
5.4射频同轴接口
产品射频同轴接口均采用射频同轴固定连接器(插座),连接器的标称特性阻抗为50Ω,类型见
表2。连接器类型应适合开关的工作频率。连接器应配有起保护作用的塑料帽。
4
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表2开关所用射频同轴连接器类型
最高适用频率
序号连接器类型适用标准备注
GHz
1TNC11IEC60169-17高性能TNC型连接器的最高适用频率可放宽到12GHz
2N11GB/T11313.16高性能N型连接器(1级)的最高适用频率可达到18GHz
3SMA18GB/T11313.15高性能SMA型连接器的最高适用频率可放宽到26GHz
43.533IEEEStd.P287.1-
52.9240GB/T11313.35-
62.450GB/T11313.40-
71.8565IEC60169-32适用于要求连接界面尺寸小的小功率应用场景
5.5连续波功率
产品可按其承受连续波功率(PCWM)的大小分为小功率开关和大功率开关。PCWM为37dBm(5W)及以
下的开关属于小功率开关,PCWM高于37dBm的开关属于大功率开关。
注:目前只有反射式结构的大功率开关。
5.6产品型号
产品型号由产品名称、开关组态、工作频率范围、产品结构、连续波功率以及射频同轴接口用连接
器类型等组成。产品型号所用代号及其含义应符合表3的规定。
表3产品型号所用代号及其含义
产品名称开关组态工作频率范围产品结构连续波功率射频同轴连接器
代号含义代号含义代号含义代号含义代号含义代号含义
频率单位为吉赫
吸收式开
射频同兹(GHz),前后两N
表1中以四位关以数字和表2中
轴PIN位数字分别为开承受连续
WFK开关组见表1数字表功率单位连接器见表2
开关模关的低端频率和波功率
态缩写示反射式开表示类型
块高端频率,小于1F
关
GHz时以00表示
5.7产品标志
产品标志由产品型号和本文件号组成。
示例:开关组态为单刀四掷、工作频率范围为6GHz~50GHz、产品结构为吸收式开关、承受连续波功率为23dBm、
射频同轴连接器类型为2.4的射频同轴PIN开关模块的产品标志为:
WFK-SP4T0650-23dBm-2.4YD/TXXXX-202X
开关上应有产品标志,并应标明各个射频端口的序号,以J1、J2、J3……等表示。
6一般要求
6.1工作和储存的环境温度
产品的工作环境温度为-35℃~+55℃,储存环境温度为-55℃~+85℃。
6.2控制信号
若无其他规定,开关控制信号来自编码的TTL(晶体管-晶体管逻辑电路)驱动器。厂家应提供开关
射频支路逻辑控制表(又称开关状态表或开关真值表),说明各个射频支路通断的数字控制逻辑分配。
注:TTL信号的逻辑“低”电平通常为(0~0.8)V,逻辑“高”电平通常为(2.0~5.5)V。
6.3正电源电流和负电源电流
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厂家应提供正电源电压和负电源电压的规格,规定并提供正电源电流最大值和负电源电流最大值。
如无特殊规定,正电源电流最大值为250mA,负电源电流最大值为100mA。
6.4外观、机械检查、尺寸和重量
产品表面应无裂纹、凹痕、碰伤和变形等现象;涂镀层应色泽均匀,不允许起泡、堆积、龟裂和脱
落。金属零件不应有锈蚀和其他机械损伤,紧固零件不应松动。
产品的外形尺寸、安装尺寸和重量等信息由产品详细规范加以补充,或由供应商与用户协商确定。
6.5耐溶剂性
按GJB548B-2005中方法2015检查开关标志的耐溶剂性,经受试验的开关的产品标志不应变得模糊。
7性能要求和测试方法
7.1通则
当要求产品测试承受连续波功率时,插入损耗、隔离度、电压驻波比、开关时间等项目测试所需的
样品应从经受过承受连续波功率测试的产品中选取。产品的测试频率范围与产品的实际工作频率范围保
持一致。
表4为可选择的产品性能,由用户根据自身需要提出要求。表4之外的其余性能均为必须测试和要求
的项目。
表4供用户选择进行测试的项目
序号项目
11分贝增益压缩输入功率
2三阶交调截点输入功率
3支路间插入损耗的差异
4插入损耗平坦度
5低气压
6稳态湿热
7浸水
7.2承受连续波功率
产品的承受连续波功率(PCWM)应能符合生产厂家标称的连续波功率水平。优选的PCWM见表5。
根据SJ20677-1998中4.6.6的规定测试产品的承受连续波功率。要求微波信号源、负载、功放、衰
减器的工作频率范围不应小于被测开关的工作频率范围;负载、衰减器能承受的连续波功率不应小于被
测开关的承受连续波功率;在负载和衰减器的工作频率范围内,负载的电压驻波比不应大于1.3,衰减
器的输入和输出电压驻波比不应大于2.0;功放的1分贝增益压缩输出功率不应小于待测开关的连续波功
率。在测试中,开始选取的微波信号源输出功率应根据待测开关的PCWM来适当选取;在测试所经历的2h
继续观察期内不应出现异常现象。
表5优选的承受连续波功率
小功率开关大功率开关
序号承受连续波功率最高适用频率a承受连续波功率最高适用频率a
W(dBm)GHzW(dBm)GHz
10.1(20)505(37)18
20.2(23)5010(40)18
30.5(27)5020(43)18
41(30)43.525(44)12
5--40(46)6
6--50(47)6
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表5优选的承受连续波功率(续)
小功率开关大功率开关
序号承受连续波功率最高适用频率a承受连续波功率最高适用频率a
W(dBm)GHzW(dBm)GHz
7--100(50)6
8--120(50.8)6
a本表中每个连续波功率下产品可能达到的最高适用频率仅供参考。随着技术的进步,大功率开关可能达到更高的使
用频率。
7.31分贝增益压缩输入功率
1分贝增益压缩输入功率(Pi(1dB))是开关的插入损耗随输入功率的增加而上升1.0dB时的输入功率。
当用户有要求时,应按照IEC60747-16-4:2017中的5.5或SJ20677-1998中的4.6.6,测试开关的1分贝
增益压缩输入功率,测得的Pi(1dB)不应低于生产厂家标称的开关的连续波功率水平。测试数据应记录并
随产品提供给用户。
7.4三阶交调截点输入功率
当用户有要求时,按照ITU-RSM.1837推荐的方法测试开关的三阶交调截点,该点对应的输入功率
即为三阶交调截点输入功率(IIP3)。当测试开关工作频率范围内任一频点上的IIP3时,以该频点为测
试的中心频点,在无特殊规定的情况下,以该中心频点上下1MHz的两个等幅度信号作为测试的双频信
号源(双音信号)。为保证测量结果的准确性,测试所采用的双音信号的幅度应尽可能小,以避免出现
增益压缩现象。测试频率应至少包括开关工作频率范围内的最高频点、最低频点和中间频点。
在开关的工作频率范围内,试验得出的IIP3应至少比Pi(1dB)(单位dBm)高出9.0dB,但允许承受连
续波功率(PCWM)为50W(47dBm)及以上的开关的IIP3高于其PCWM(单位dBm)5dB即可。
7.5插入损耗
按SJ20610-1996中5.1的规定,测试开关工作频率范围内射频同轴输入端口到射频同轴输出端口的
各个支路间的插入损耗(Li)。小功率反射式开关、小功率吸收式开关、大功率反射式开关在其工作频
率范围内的插入损耗最大值应分别符合表6、表7和表8的规定。
表6小功率反射式开关插入损耗最大值单位为分
贝
频率(f)
SPSTSP2TSP3TSP4TSP5TSP6TSP7T
GHz
0.3<f≤3.00.81.11.41.71.71.81.9
3.0<f≤6.01.11.41.72.02.12.22.3
6.0<f≤12.01.61.92.42.62.83.03.0
12.0<f≤18.02.12.43.03.23.53.73.8
18.0<f≤26.53.13.54.34.45.05.25.4
26.5<f≤43.54.75.16.36.37.27.67.9
43.5<f≤50.05.45.87.17.28.18.58.9
表7小功率吸收式开关插入损耗最大值单位为分
贝
频率(f)
SPSTSP2TSP3TSP4TSP5TSP6TSP7TSP8T
GHz
0.3<f≤3.01.11.51.82.22.22.42.42.5
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频率(f)
SPSTSP2TSP3TSP4TSP5TSP6TSP7TSP8T
GHz
3.0<f≤6.01.31.62.02.32.52.62.72.9
6.0<f≤12.01.92.32.83.03.33.53.64.0
表7小功率吸收式开关插入损耗最大值(续)单位为分贝
频率(f)
SPSTSP2TSP3TSP4TSP5TSP6TSP7TSP8T
GHz
12.0<f≤18.02.52.93.53.74.14.34.55.1
18.0<f≤26.53.64.05.05.15.76.06.37.2
26.5<f≤43.55.45.97.37.28.38.79.110.6
43.5<f≤50.06.26.68.28.39.39.810.211.9
表8大功率反射式开关插入损耗最大值单位为分
贝
频率(f)
SPSTSP2TSP3TSP4TSP5TSP6TSP7TSP8T
GHz
0.3<f≤3.01.01.31.72.02.12.22.42.5
3.0<f≤6.01.41.72.12.52.72.83.03.1
6.0<f≤12.02.02.43.03.33.74.04.14.6
12.0<f≤18.02.73.13.94.24.85.05.36.0
7.6支路间插入损耗的差异
当用户有要求时,开关工作频率范围内的任一频点上,开关从射频同轴输入端口到射频同轴输出端
口的各个支路间的插入损耗差异的绝对值不应大于0.4dB。
7.7插入损耗平坦度
当用户有要求时,在同一射频支路在开关工作频率范围内任一频点的±25MHz的频带宽度内(不超
过开关最高工作频率),插入损耗的变化不应超出±0.3dB的范围。
7.8隔离度
按SJ20610-1996中5.2的规定,测试开关各个射频同轴端口之间的隔离度(Liso)。开关在其工作
频率范围内的Liso的最小值应符合表9的规定。
表9隔离度最小值单位为分贝
频率(f)
小功率开关大功率开关
GHz
0.3<f≤1.07042
1.0<f≤3.06840
3.0<f≤6.06538
6.0<f≤12.06335
12.0<f≤18.06032
18.0<f≤26.055—
26.0<f≤43.545—
43.5<f≤50.040—
7.9电压驻波比
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按SJ20610-1996中5.3的规定,测试开关的各个射频同轴端口的电压驻波比(VSWR),结果应符合
表10的规定。当射频端口未指明输入和输出端口时,其VSWR应符合表10中对射频同轴输入端口的电压驻
波比的要求。
表10电压驻波比最大值
频率(f)
射频同轴输入端口射频同轴输出端口
GHz
0.3<f≤3.01.31.5
3.0<f≤6.01.41.5
6.0<f≤12.01.51.6
12.0<f≤18.01.61.8
18.0<f≤26.51.82.0
26.5<f≤43.52.02.2
43.5<f≤50.02.22.5
7.10开关时间
按SJ20610-1996中5.4的规定,测试开关时间。小功率开关的开通时间(ton)和关断时间(toff)
均不应大于200ns,大功率开关的开通时间和关断时间均不应大于800ns。
7.11视频瞬变
按SJ20610-1996中5.5的规定,测试开关所有射频同轴端口的视频瞬变(视频泄漏)。双踪示波器
的频率带宽不应小于300MHz,脉冲信号的宽度宜为1.0ms,重复间隔宜为2.0ms(相当于脉冲重复频
率为500kHz)。测得的视频瞬变信号峰到峰的幅值不应大于60mV。
7.12低温性能
按GJB150.4的规定进行试验,包括低温贮存试验和低温工作试验。试验判据为开关的插入损耗。
试验前,应先按7.5的要求测试开关的插入损耗,作为本试验中初始检测的电性能测试。当本试验
与此前的插入损耗测试的间隔时间不超过72h,后者可用于本试验的初始检测。
低温贮存试验中,试验温度为-55℃,试验时间为24h。
低温工作试验中,试验温度为-35℃,试验箱(室)降温到-35℃后保持试样工作时间为1h。应在
确信试样温度达到-35℃后(宜在接近1h工作时间结束时)才对其进行低温工作试验的中间检测。
低温贮存试验的最后检测以及低温工作试验的中间检测和最后检测得到的插入损耗,仍应符合7.5
的规定。
7.13高温性能
按GJB150.3的规定进行试验,包括高温贮存试验和高温工作试验。试验判据为开关的插入损耗。
试验前,应先按7.5的要求测试开关的插入损耗,作为本试验中初始检测的电性能测试。当本试验
与此前的插入损耗测试的间隔时间不超过72h,后者可用于本试验的初始检测。
高温贮存试验中,试验温度为85℃,试验时间为24h。
高温工作试验中,试验温度为55℃,试验箱(室)达到55℃后保持试验样品工作时间为1h。应
在确信样品温度达到55℃后(宜在接近1h工作时间结束时)才对其进行高温工作试验的中间检测。
高温贮存试验的最后检测以及高温工作试验的中间检测和最后检测所得到的插入损耗,仍应符合
7.5的规定。
7.14温度冲击
按GJB150.5的规定进行试验,以插入损耗作为试验判据。
试验前,应先按7.5的要求测试开关的插入损耗,作为本试验中初始检测的电性能测试。当本试验
与此前的插入损耗测试的间隔时间不超过72h,后者可用于本试验的初始检测。
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在本试验中,高温为85℃,低温为-55℃;试验温度保持时间为1h;高低温转换时间不应长于5min;
循环次数为3次。试验过程中开关不通电。
最后检测得到的插入损耗仍应符合7.5的要求。
7.15高频振动
按GJB360B-2009中方法204进行试验,采用条件C,但试验时间变动如下:
——在10Hz~57.7Hz范围内,每方向振动30min,三个方向共90min;
——在57.7Hz~2000Hz范围内,每方向振动30min,三个方向共90min。
试验结束,开关应能正常工作,开关的部件不应断裂、松动和脱落,开关插入损耗和隔离度仍应分
别符合7.5和7.8的规定。
7.16机械冲击
按GJB360B-2009中方法213进行试验,采用条件A。试验结束,开关应能正常工作,开关的部件不
应断裂、松动和脱落,开关插入损耗和隔离度仍应分别符合7.5和7.8的规定。
7.17低气压
当用户要求产品的低气压性能时,应按GJB360B-2009中方法105进行试验,采用试验条件A(气压
30kPa),以插入损耗和隔离度作为试验判据。试样在低气压30kPa和(15~35)℃条件下保持1h,试
验过程中开关通电,并进行中间检测。试验结束,试样回到试验用标准大气条件后,再对试样进行最后
检测。中间检测和最后检测得到的插入损耗和隔离度,仍应分别符合7.5和7.8的规定。
7.18稳态湿热
当用户要求产品的稳态湿热性能时,应按GJB360B-2009中方法103进行试验,采用条件B。不要求
对试样进行预处理、初始检测和中间检测,试验过程中试样不通电。试验结束,试样在规定条件下恢复
后,测试试样的插入损耗,测试结果仍应符合7.5的规定。
7.19浸水
当用户要求产品的浸水性能时,应按GJB548B-2005中方法1002检查开关密封有效性,试验条件为C。
连接器应有保护帽。试验结束,在规定的时间内测试开关的插入损耗,仍应符合7.5的规定。
8检验规则
8.1出厂要求
产品应经制造厂质量检验部门检验,检验合格的产品方可出厂。出厂的产品应附有质量检验合格证
书。
8.2产品检验
产品检验分为出厂检验和型式检验。
8.3出厂检验
8.3.1出厂检验项目分类
出厂检验项目分为100%检验项目和抽样检验项目两类。
8.3.2单位产品和检验批
单位产品:每一件开关。
检验批:以同一生产班组在一个生产班次内生产的同一型号的单位产品组成一个检验批,或以同一
生产班组在不超过一个月内生产的同一型号的单位产品组成一个检验批。同一检验批的产品所用PIN
二极管、TTL驱动器以及射频同轴连接器等原材料应分别来自同一制造厂的同批产品。
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8.3.3100%检验
100%检验的项目及其要求和试验方法应符合表11的规定。检验数据及产品的工作频率应随同产品
一起提交给用户。
表11100%检验的项目
序号检验项目要求和测试方法
1产品标志和射频端口序号5.6,目视检查
2插入损耗7.5
3隔离度7.8
4电压驻波比7.9
5开关时间7.10
8.3.4抽样检验
抽样检验应在完成表11规定的100%检验项目且检验合格的单位产品上进行。对同一检验批的单位产
品,按GB/T2828.1的规定,选取一般检查水平Ⅱ。检验项目和接收质量限(AQL)应符合表12的规定。
表12抽样检验的项目
序号检验项目要求和测试方法接收质量限(AQL)
1外观、机械检查6.41.5
2承受连续波功率7.20.4
31分贝增益压缩输入功率(有要求时)7.30.4
4三阶交调截点输入功率(有要求时)7.40.4
5支路间插入损耗的差异(有要求时)7.60.4
6插入损耗平坦度(有要求时)7.70.4
7视频瞬变7.110.4
8.3.5检验批的接受性
根据8.3.4中抽样检验的结果决定检验批的接收性。
对于不接受批中的产品,可对未被抽中接受检验的剩余全部产品就抽样检验中出现的全部不合格项
目进行检验,如果任何单位产品有任一个检验项目不合格,则该单位产品应判为不合格品;通过全部检
验项目的产品则可作为合格品。
8.4型式检验
8.4.1型式检验的条件
有下列情况之一时,应对产品进行型式检验:
a)从产品通过鉴定之日起,每隔12个月至少进行一次;
b)当生产工艺、结构和原材料有较大改变,可能影响产品性能时;
c)出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时;
d)停产六个月以上再恢复生产时;
e)上级质量监督部门要求时。
8.4.2抽样方案
用于型式试验的单位产品应在出厂检验合格的开关中随机抽取。型式检验所需的样本量不应少于3
件。
8.4.3型式检验项目
型式检验项目包括表11、表12和表13规定的全部项目。
表13型式检验的其他项目
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序号项目要求和试验方法
1尺寸和重量6.4
2耐溶剂性6.5
3低温性能7.12
表13型式检验的其他项目(续)
序号项目要求和试验方法
4高温性能7.13
5温度冲击7.14
6高频振动7.15
7机械冲击7.16
8低气压(供选择)7.17
9稳态湿热(供选择)7.18
10浸水(供选择)7.19
8.4.4型式检验的合格判定
在任一个型式检验项目中,只有全部样本合格才能判定该项目型式检验合格。如果任一件样本出现
不合格,允许重新抽取型式检验双倍量的样本对不合格项目重新检验,如果重新抽取的样本都能通过检
验,则应判该项目型式检验合格;只要仍有一件样本不能通过试验,则应判该项目型式检验不合格。
如全部项目型式检验合格,则判本次产品型式检验合格;有任一个项目型式检验不合格,则判本次
产品型式检验不合格。
8.4.5重新检验
如果产品型式检验不合格,制造厂应根据不合格原因,对全部产品进行改正处理。在采取可接受的
改进措施以前,应停止产品鉴定或验收。在采取改进措施之后,应重新进行型式检验。
9包装
产品包装应能保证开关在转运和运输过程中安全、不会损坏。包装图示应符合GB/T191的要求。
产品包装内应有产品合格证、TTL逻辑控制表、产品出厂检验数据等信息。产品合格证应含5.7中产
品标志的内容以及产品编号、生产批号或生产日期、检验人员编号等内容。产品出厂数据应包含100%
检验项目的测试数据、正电源电压和负电源电压的规格、正电源电流和负电源电流以及用户要求提供的
其他测试数据等内容。
10贮存
存放产品的库房应通风良好,无腐蚀性气体,库房内部不会经受日晒雨淋。
产品存放时间超过6个月,应定期加电检查。
12
YD/TXXXX——202X
目次
前言..................................................................................II
1范围................................................................................3
2规范性引用文件......................................................................3
3术语和定义..........................................................................4
4符号................................................................................4
5产品分类............................................................................4
6一般要求............................................................................5
7性能要求和测试方法..................................................................6
8检验规则...........................................................................10
9包装...............................................................................12
10贮存..............................................................................12
I
YD/TXXXX——202X
射频同轴固态开关模块
1范围
本文件规定了射频同轴固态开关模块的产品分类、一般要求、测试方法、性能要求、检验规则以及
包装和贮存等方面的要求。
本文件适用于以PIN二极管为控制元件、射频接口为同轴连接器、开关组态为单刀单掷和单刀多掷
的射频同轴固态开关模块(以下简称“开关”或“产品”)的制造、测试、验收及使用。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,
仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本
文件。
GB/T191包装储运图示标志
GB/T11313.15射频连接器第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹
连接的射频同轴连接器(SMA型)
GB/T11313.16射频连接器第16部分:外导体内径为7mm(0.276in)、特性阻抗为50Ω(75Ω)、
螺纹连接的射频同轴连接器(N型)分规范
GB/T11313.35射频连接器第35部分:2.92系列射频连接器分规范
GB/T11313.40射频连接器第40部分:2.4系列射频连接器分规范
GB/T11499半导体分立器件文字符号
GJB150.3军用设备环境试验方法高温试验
GJB150.4军用设备环境试验方法低温试验
GJB150.5军用设备环境试验方法温度冲击试验
GJB360B-2009电子及电气元件试验方法
GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
SJ20610-1996微波电路微波开关测试方法
SJ2
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