晶体硅光伏电池电致发光测试方法 编制说明_第1页
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文档简介

1、工作简况

1.1任务来源

根据中国光伏行业协会2018年10月15日《关于印发2018年第二批光伏

协会标准制修订计划的通知》的相关要求,《晶体硅光伏电池电致发光测试方法》

(20180018-CPIA)由隆基乐叶光伏科技有限公司牵头负责,由中国光伏行业协

会标准化技术委员会负责技术归口和管理,项目制定周期为12个月。

1.2协作单位及任务分工

隆基乐叶光伏科技有限公司负责标准的起草、修改等,其他协会单位配合完

成标准修改并参与测试等工作。

1.3编制过程

2018年10月15日,《晶体硅光伏电池电致发光测试方法》协会标准制定

计划正式下达。

2018年11月,隆基乐叶光伏科技有限公司经调研及试验验证,多次讨论完

善,完成了标准草案。

2019年3月29日,在北京召开了标准起草会。针对会上专家提出的意见及

建议,组织多次讨论,完成此征求意见稿。

2标准编制原则和主要内容的确定

2.1编制原则

本标准以电池发光测试晶体硅电池缺陷的原理为依据,以科学性、合理性和

可行性为原则,在充分调研和认真验证的基础上完成本标准。

本标准格式依据GB/T1.1-2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构

和编写》的规则编写。

2.2主要内容

本标准规定了晶体硅光伏电池的电致发光测试方法,包括定量采集电致发光

图像、处理图像以获得相关的量化指标。本标准提供导则以定性解释电致发光图

像中观察到的特征。

本标准适用于实验室测试未封装的晶体硅光伏电池,生产线可参考使用。

3主要试验或验证的分析

缺陷类型和诊断图像

断栅或栅线缺失断栅

断栅或栅线缺失可通过肉眼

观测确认,栅线缺失影响电

池的初始测试效率,通常是

稳定的。断栅通常影响太阳

电池的串联电阻,在高注入

测试条件下更加明显。

不建议这种电池使用在光伏

组件封装中。

少数载流子寿命下降同心圆准单晶晶粒黑边

存在于特定的晶粒或区域,

这些区域有高缺陷或高杂质

浓度。这些缺陷影响电池的

初始效率,通常是稳定的。

EL图像并不能提供这些缺陷

的精确原因。可使用少子寿

命测试或IV测试其对电池性

能的影响。

同心圆P型电池不建议使用

到组件封装中,因为高浓度

氧可能引起光致衰减。

多晶黑边和准单晶晶粒影响

电池效率,这些现象来自于

硅片铸锭,不建议使用这两

种电池封装组件。

分流缺陷局部分流

局部的pn结分流通常源自于

生产过程中引起的缺陷。这

些缺陷可能会进一步衰减或

发展成热斑,一般电池发电

时不希望有这种缺陷。低分

流电阻提供了载流子的另一

个传输路径,减少了pn结中

的电流大小。在EL图像中,

分流区域看上去是黑色的。

不建议使用有明显分流现象

的电池封装组件。EL图像并

不能精确确定分流位置。建

议结合其他测试方法例如红

外热成像和IV测试确认分流

现象。

硅片或电池污染以及摩擦痕划伤吸盘印吸笔印

局部区域的低EL信号,有可

能来自于硅片/电池例如污

染,摩擦痕迹和操作设备的

擦伤。这些缺陷在电池生产

时具有系统性,经常连续发

生。这些缺陷影响电池的初

始效率,通常是稳定的。

在使用这些电池封装组件之前,

需要结合生产过程或者其他测框印皮带印黑点

试手段分析,确定这些缺陷是否

影响组件电学稳定性。

电池裂纹十字裂纹45°裂纹边缘裂纹

如果裂纹延长,效率容易进

一步衰减。裂纹是严重的缺

陷,一般,单个裂纹的影响

小于多个裂纹。

不建议组件封装使用有裂纹

的电池。

4与国际标准、国外同类标准水平的对比情况

目前国际上在2018年发布了IECTS60904-13光伏器件—第13部分:光

伏组件的电致发光(Electroluminescenceofphotovoltaicmodules)标准,

该标准中介绍了光伏组件的电致发光测试方法。IECTS63202-2Photovoltaic

cells–Part2:Electroluminescenceimagingforcrystallinesilicon

solarcells正在制定中。本标准主要介绍了晶体硅光伏电池电致发光测试方法,

提供导则以定性解释电致发光图像中观察到的特征。

5与国内有关现行法律、法规和强制性标准的关系

该标准符合国家有关法律、法规的要求,与现行国家强制性标准协调一致。

6重大分歧意见的处理经过和依据

7专利情况说明

本标准未涉及专利。

8标准实施贯彻的建议

本标准建议作为推荐性团体标准实施。

标准编制组

二O一九年五月

1、工作简况

1.1任务来源

根据中国光伏行业协会2018年10月15日《关于印发2018年第二批光伏

协会标准制修订计划的通知》的相关要求,《晶体硅光伏电池电致发光测试方法》

(20180018-CPIA)由隆基乐叶光伏科技有限公司牵头负责,由中国光伏行业协

会标准化技术委员会负责技术归口和管理,项目制定周期为12个月。

1.2协作单位及任务分工

隆基乐叶光伏科技有限公司负责标准的起草、修改等,其他协会单位配合完

成标准修改并参与测试等工作。

1.3编制过程

2018年10月15日,《晶体硅光伏电池电致发光测试方法》协会标准制定

计划正式下达。

2018年11月,隆基乐叶光伏科技有限公司经调研及试验验证,多次讨论完

善,完成了标准草案。

2019年3月29日,在北京召开了标准起草会。针对会上专家提出的意见及

建议,组织多次讨论,完成此征求意见稿。

2标准编制原则和主要内容的确定

2.1编制原则

本标准以电池发光测试晶体硅电池缺陷的原理为依据,以科学性、合理性和

可行性为原则,在充分调研和认真验证的基础上完成本标准。

本标准格式依据GB/T1.1-2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构

和编写》的规则编写。

2.2主要内容

本标准规定了晶体硅光伏电池的电致发光测试方法,包括定量采集电致发光

图像、处理图像以获得相关的量化指标。本标准提供导则以定性解释电致发光图

像中观察到的特征。

本标准适用于实验室测试未封装的晶体硅光伏电池,生产线可参考使用。

3主要试验或验证的分析

缺陷类型和诊断图像

断栅或栅线缺失断栅

断栅或栅线缺失可通过肉眼

观测确认,栅线缺失影响电

池的初始测试效率,通常是

稳定的。断栅通常影响太阳

电池的串联电阻,在高注入

测试条件下更加明显。

不建议这种电池使用在光伏

组件封装中。

少数载流子寿命下降同心圆准单晶晶粒黑边

存在于特定的晶粒或区域,

这些区域有高缺陷或高杂质

浓度。这些缺陷影响电池的

初始效率,通常是稳定的。

EL图像并不能提供这些缺陷

的精确原因。可使用少子寿

命测试或IV测试其对电池性

能的影响。

同心圆P型电池不建议使用

到组件封装中,因为高浓度

氧可能引起光致衰减。

多晶黑边和准单晶晶粒影响

电池效率,这些现象来自于

硅片铸锭,不建议使用这两

种电池封装组件。

分流缺陷局部分流

局部的pn结分流通常源自于

生产过程中引起的缺陷。这

些缺陷可能会进一步衰减或

发展成热斑,一般电池发电

时不希望有这种缺陷。低分

流电阻提供了载流子的另一

个传输路径,减少了pn结中

的电流大小。

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