- 废止
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- 2010-05-17 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 29301:2010 EN
- 标准名称：显微光束分析 分析透射电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大率的方法
- 英文名称：Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- 标准状态：废止
- 发布日期：2010-05-17
文档简介
ISO29301是关于微束分析的标准，特别关注于透射电子显微镜（TEM）的分析方法。微束分析是一种利用高能电子束对物质进行微观分析的技术。
在TEM中，通常使用具有周期性结构的参考材料来校准图像的放大率。这是因为TEM通常用于观察和测量纳米级别的结构，精确的图像放大率对于结果的准确性至关重要。
具体来说，使用具有周期性结构的参考材料进行校准的方法包括：
1.选择适当的参考材料：参考材料应该具有明确的、可识别的、稳定的和可重复的周期性结构。这通常包括但不限于金属条纹、周期性图案的陶瓷或塑料等。
2.制备样品：将参考材料置于样品台上，进行适当的切割或暴露出其周期性结构。
3.图像采集：使用TEM对样品进行拍摄，以获取其放大图像。
4.图像分析：通过分析图像中周期性结构的重复性和清晰度，可以确定图像的放大率是否准确。
通过这种方法，可以确保在TEM分析中使用的图像放大率是准确的，从而提高了结果的可靠性和准确性。
以上就是ISO29301:2010ENMicrobeamanalysis—Analyticaltransmissionelectronmicroscopy—Methodsforcalibratingimagemagnificationbyusingreferencematerialsha
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