- 废止
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- 2006-07-04 颁布
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基本信息:
- 标准号:ISO 20903:2006 EN
- 标准名称:表面化学分析 欧杰电子能谱和 X 射线光电子能谱 确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- 英文名称:Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
- 标准状态:废止
- 发布日期:2006-07-04
文档简介
Auger电子光谱学和X射线光电子光谱学是表面化学分析的重要工具,用于研究表面元素的化学状态和化学键合信息。在报告分析结果时,需要确定峰强度的计算方法和所需的信息。
一、峰强度计算方法
1.通常采用积分强度法来计算峰强度,即通过测量峰在一定范围内的积分强度来确定峰强度。
2.积分强度的计算需要考虑峰的形状、宽度和高度等因素。
3.对于某些特定峰,可能需要采用其他方法来计算峰强度,如最小二乘法等。
二、所需的信息
1.峰的化学计量数:这是确定表面元素化学状态的重要信息。
2.峰的形状和宽度:这些参数可以提供有关表面元素化学键合状态的信息。
3.峰的位置:这可以提供表面元素的不同电子态和化学环境的信息。
4.测量条件:包括光源、电子束源、测量条件等,这些因素可能会影响峰的形状和强度。
5.样品制备方法:这可能会影响表面元素的化学状态和分布。
在使用Auger电子光谱学和X射线光电子光谱学进行表面化学分析时,需要仔细选择和分析方法,以确保获得准确和可靠的表面化学信息。同时,需要记录和分析相关数据,以便更好地理解表面元素的化学状态和化学键合信息。
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