• 现行
  • 正在执行有效
  • 2015-11-05 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO 19830:2015 EN Surface chemical analysis - Electron spectroscopies - Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 19830:2015 EN
  • 标准名称：表面化学分析 电子能谱 X 射线光电子能谱峰值拟合的最低报告要求
  • 英文名称：Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2015-11-05

文档简介

ISO19830:2015是一个关于表面化学分析的国际标准，涉及到电子光谱学的最低报告要求，特别是在X射线光电子光谱（XPS）中的峰值拟合。

这个标准的主要目标是确保在进行XPS分析时，报告的数据能够准确地反映表面的化学组成和性质。为了实现这个目标，标准规定了以下关键要求：

1.**准确性和可靠性**：所有数据必须准确和可靠，包括峰值的位置、强度和形状。

2.**峰值识别**：报告的数据必须清楚地识别每个峰的来源，包括元素种类和可能的化学态。

3.**峰面积和强度**：报告的峰面积和强度应该能够准确地反映样品表面相应元素的浓度。

4.**误差分析**：应该提供关于测量误差的详细信息，包括估计的误差范围和来源。

5.**解析能力**：应该提供关于仪器解析能力的信息，包括可能存在的限制和最佳工作条件。

6.**数据完整性**：所有的数据应该完整，没有任何明显的异常或缺失。

7.**实验条件**：报告的实验条件（如X射线源、样品处理等）应该与实际使用的条件一致。

这个标准对于XPS分析的实验设计和报告具有重要指导意义，可以帮助确保分析结果的准确性和可靠性。同时，它也为研究人员和工程师在进行XPS分析时提供了明确的数据报

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