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  • 2003-04-14 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO 18114:2003 EN Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 18114:2003 EN
  • 标准名称：表面化学分析 二次离子质谱法 根据离子注入参考材料确定相对灵敏度系数
  • 英文名称：Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
  • 标准状态：废止
  • 发布日期：2003-04-14

文档简介

该标准主要涉及了表面化学分析中使用的次级离子质谱法，主要用于测定相对灵敏度因子。这些因子通常用于比较不同仪器和实验条件下的分析性能。标准中详细说明了如何使用离子注入参考材料来计算这些因子，这种方法是通过测量样品和参考材料在相同实验条件下的离子发射，然后通过比较两者的比率来计算灵敏度因子。这种方法在表面化学、材料科学、环境科学和生物科学等领域的应用中非常常见。这些因子的准确性和可靠性对于确保分析结果的准确性和一致性至关重要。在进行此项实验时，应遵循标准规定的所有步骤和注意事项，以确保结果的准确性和可靠性。

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