• 现行
  • 正在执行有效
  • 2014-01-06 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO 17470:2014 EN Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 17470:2014 EN
  • 标准名称：微束分析 电子探针微分析 利用波长色散 X 射线光谱法进行定性点分析的准则
  • 英文名称：Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2014-01-06

文档简介

1.**准备阶段**：在开始分析之前，必须准备并清洁样品表面，以确保分析结果的准确性。

2.**选择合适的仪器和软件**：选择合适的电子探针显微镜（EPMA）和相应的软件，以处理和解释结果。

3.**分析方法**：进行定性点分析时，需要采用适当的测量方法和技术，例如宽度分散X射线光谱分析（WDX）。通过观察和解析谱图来确定样品的元素组成和化学状态。

4.**样品的制备**：对于复杂的样品，可能需要预先处理以获得足够的光学性能。这可能包括研磨、抛光、蚀刻或电解抛光等步骤。

5.**操作步骤**：在操作过程中，应遵循EPMA制造商提供的最佳操作指南，以确保结果的准确性和可靠性。

6.**数据解释**：对于每个元素，应考虑其相对强度、峰形和可能的干扰峰。结合样品的物理和化学性质以及已知数据，进行综合分析。

7.**质量控制**：在分析过程中，应定期进行质量控制，以确保结果的准确性和可靠性。这可能包括使用内部参考样品或与另一个实验室进行交叉验证。

8.**安全注意事项**：在进行微束分析时，必须遵守所有相关的安全规定和指南，以避免潜在的危险和伤害。

以上ISO17470:2014EN标准提供了关于定性点分析的详细指南，包括仪器选择、操作步骤、数据解释和质量控制等方面。这些指导方针对于从事微束分析的

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