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  • 2004-03-05 颁布
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【正版授权】 ISO 16700:2004 EN Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 16700:2004 EN
  • 标准名称：显微光束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
  • 英文名称：Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
  • 标准状态：废止
  • 发布日期：2004-03-05

文档简介

ISO16700是一套关于微束分析（Microbeamanalysis）的标准化指南，主要涉及到扫描电子显微镜（Scanningelectronmicroscopy，简称SEM）的操作和应用。此标准主要是为科研人员、技术人员以及教育工作者提供了一种对于SEM操作的重要技巧和原理的理解。在微束分析中，通常会用到各种电子显微镜，如SEM，以便于对物质进行高精度的观察和研究。

具体到ISO16700:2004ENMicrobeamanalysis—Scanningelectronmicroscopy—Guidelinesforcalibratingimagemagnification这一部分，其内容主要包括以下几点：

一、概述

这部分主要介绍了什么是图像放大率以及其重要性。图像放大率是SEM中的关键参数，它决定了我们观察到的图像的清晰度和细节程度。正确的图像放大率的设定对于获得高质量的图像至关重要。

二、操作步骤

这部分详细介绍了如何进行图像放大率的校准。通常，在进行SEM观察之前，需要先进行图像放大率的校准，以确保我们观察到的图像是准确的，没有失真。校准通常包括设置一个已知尺寸的物体，并在SEM下观察，通过调整放大率，直到最佳的观察效果。

三、设备要求

这部分强调了进行图像放大率校准所需的设备。包括但不限于SEM、镜头、样品台、电源、控制软件等。

四、误差控制

这部分讨论了如何控制和减少由于图像放大率设置不当而产生的误差。例如，可以通过检查和记录每个观察的放大率设置，以及定期校准设备等方式来控制误差。

五、安全注意事项

这部分提醒了在操作SEM时需要注意的安全问题，包括设备应正确接地，避免暴露身体于电子束中，以及遵守所有相关的EMC和健康与安全法规。

以上是对ISO16700:2004ENMicrobeamanalysis—Scanningelectronmicroscopy—Guidelinesforcalibratingimagemagnification这一

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