• 废止
  • 已被废除、停止使用，并不再更新
  • 2003-03-12 颁布
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【正版授权】 ISO 1463:2003 EN Metallic and oxide coatings - Measurement of coating thickness - Microscopical method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 1463:2003 EN
  • 标准名称：金属和氧化物涂层 涂层厚度测量 显微镜方法
  • 英文名称：Metallic and oxide coatings — Measurement of coating thickness — Microscopical method
  • 标准状态：废止
  • 发布日期：2003-03-12

文档简介

ISO1463:2003金属与氧化物涂层—涂层厚度的测量—显微镜法标准主要内容如下：

该标准规定了使用显微镜法测量金属与氧化物涂层厚度的具体方法。它涵盖了涂层显微镜测量的原理、设备、操作步骤、数据处理和分析等方面的内容。

具体来说，该标准详细说明了以下内容：

1.涂层显微镜法的原理：该标准首先介绍了涂层显微镜法的理论基础，包括显微镜的构造、成像原理、测量方法等。

2.设备要求：该标准详细描述了用于涂层显微镜测量的设备，包括显微镜、光源、镜头、测微器等，并对设备的性能和精度进行了要求。

3.操作步骤：该标准提供了涂层显微镜测量的具体步骤，包括样品准备、涂层观察、数据记录和分析等。

4.数据处理与分析：该标准说明了如何从显微镜观察中获取涂层厚度数据，以及如何对数据进行处理和分析，以获得准确的涂层厚度结果。

5.特殊情况处理：该标准还对一些特殊情况进行了说明，如涂层不均匀、表面污染、测量误差等，并提供了相应的处理方法。

ISO1463:2003提供了详细的涂层显微镜测量方法，为从事涂层研究、生产和检测的工程师提供了有力的技术支持。

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