- 现行
- 正在执行有效
- 2021-10-14 颁布
![【正版授权】 IEC TS 62607-6-10:2021 EN Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-10: Graphene-based material - Sheet resistance: Terahertz time-domain spectroscopy_第1页](http://file4.renrendoc.com/view5/M00/0E/3B/wKhkGGaGjUeAYNAYAAEHS5zMMgg857.jpg)
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基本信息:
- 标准号:IEC TS 62607-6-10:2021 EN
- 标准名称:纳米制造-关键控制特性-第6部分:石墨烯材料-片电阻:太赫兹时域光谱
- 英文名称:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-10: Graphene-based material - Sheet resistance: Terahertz time-domain spectroscopy
- 标准状态:现行
- 发布日期:2021-10-14
文档简介
IECTS62607-6-10是关于纳米制造的关键控制特性的标准,该标准适用于基于石墨烯的材料。其主要关注的是材料片阻抗的特性。这项技术采用THz时域光谱(Terahertztime-domainspectroscopy)方法。
1.基础概念:该标准主要涉及到的是一种材料属性,即电阻,这主要是基于石墨烯的材料,也被称为“薄片电阻”。THz时域光谱是一种频谱技术,专门用于检测物质的微小变化。
2.方法和技术:IECTS62607-6-10提供了一种具体的测试方法,它采用THz时域光谱来测量石墨烯材料的片阻抗。具体步骤包括样本制备、光谱测量和结果分析。这种方法主要用于监测和保证材料的质量和性能。
3.标准化的关键点和考虑因素:该标准的主要目标是提供一个清晰的框架,以规范和指导如何使用THz时域光谱来测量石墨烯材料的片阻抗。标准还强调了质量控制的重要性,包括对测量设备的校准和环境条件的控制。
4.结果解读和应用:通过测量石墨烯材料的片阻抗,可以了解其性能和特性,例如其导电性能、结构变化等。这些信息对于材料的选择、应用和优化非常有价值。
5.限制和挑战:尽管THz时域光谱是一种很有前途的技术,但它也有其局限性,例如对样品表面状态的敏感度、测量环境的限制等。此外,由于石墨烯材料的复杂性和多样性,准确测量片阻抗仍然是一个挑战。
IECTS62607-6-10:2021ENNanomanufacturing提供了这一领域的具体技术指南和要求,有助于确保石墨烯材料的质量和性能,为纳米制造行业提供了重要的标准化支持。使用THz时域光谱方法测量石墨烯材料的片阻抗是一个重要的质量控制步骤,可以提供有关材料性能的重要信息。然而
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