• 现行
  • 正在执行有效
  • 2019-03-20 颁布
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【正版授权】 IEC TR 62878-2-7:2019 EN Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TR 62878-2-7:2019 EN
  • 标准名称：设备嵌入组装技术——第2-7部分：准则——被动嵌入电路板的加速应力测试
  • 英文名称：Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2019-03-20

文档简介

1.引言

IECTR62878-2-7标准旨在为被动嵌入式电路板的加速应力测试提供指导。该标准旨在提供一套通用的测试方法，以确保电路板在加速老化过程中能够承受各种环境条件和应力因素，从而保证产品的可靠性和稳定性。

2.测试范围

该标准适用于被动嵌入式电路板，包括但不限于电阻器、电容器、电感器等元件组成的电路板。该标准不适用于需要主动控制的电路板或需要实时监测的电路板。

3.测试原理

加速应力测试是通过模拟各种环境条件和应力因素来加速电路板的失效过程。通过使用加速老化设备，可以模拟高温、低温、湿度、紫外线、机械振动等环境条件，以及电压、电流等应力因素。通过这些模拟条件，可以检测电路板的性能变化和潜在缺陷。

4.测试方法

该标准提供了多种测试方法，包括但不限于恒温恒湿测试、高温老化测试、低温老化测试、紫外线照射测试、振动测试等。根据电路板的类型和结构，可以选择适合的测试方法。此外，该标准还规定了测试过程中的参数设置、设备要求、操作步骤等细节。

5.数据记录与分析

在测试过程中，需要记录测试数据，包括电路板的性能指标、温度、湿度、电压、电流等参数的变化情况。测试完成后，需要对数据进行分析和评估，以确定电路板的性能是否符合要求。如果发现性能下降或潜在缺陷，需要进行故障定位和修复。

6.结论

通过遵循IECTR62878-2-7标准进行加速应力测试，可以确保被动嵌入式电路板在各种环境条件和应力因素下的可靠性和稳定

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