• 现行
  • 正在执行有效
  • 2020-05-27 颁布
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【正版授权】 IEC 62899-503-1:2020 EN Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62899-503-1:2020 EN
  • 标准名称：印刷电子——第503-1部分：质量评估——印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法
  • 英文名称：Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2020-05-27

文档简介

本测试方法旨在评估印刷薄膜晶体管（printedthin-filmtransistor,pTFT）的位移电流测量质量。主要步骤如下：

1.设备准备：确保测量设备已正确校准和设置，并符合相关标准要求。

2.样品准备：选择适当的pTFT样品，确保其质量和性能符合测试要求。

3.测试环境：确保测试环境符合规定要求，如温度、湿度、电源稳定性等。

4.测试方法：根据标准规定的方法进行测试，包括电流测量、电压控制、信号采集等步骤。

5.数据处理：对测试数据进行处理和分析，以评估pTFT的性能和质量。

6.结果报告：根据测试结果，编写详细的测试报告，包括测试方法、样品信息、测试数据、结论等。

本测试方法仅适用于评估pTFT的位移电流测量质量，对于其他性能指标的评估可能需要采用其他测试方法。此外，在进行测试时，应遵循相关安全规定和操作规程，确保测试过程的安全性和准确性。

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