- 现行
- 正在执行有效
- 2007-11-07 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC 62528:2007 EN
- 标准名称：嵌入式内核为基础的集成电路的标准可测试性方法
- 英文名称：Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
- 标准状态：现行
- 发布日期：2007-11-07
文档简介
1.标准概述：
IEC62528:2007ENStandardTestabilityMethodforEmbeddedCore-basedIntegratedCircuits是针对嵌入式核心基于集成电路测试性的标准测试方法，旨在提供一种系统化的方法来评估和改善电路板的可测试性。
2.测试性评估：
该标准提供了评估电路板可测试性的方法，包括对电路板的结构、设计、元件布局和电路拓扑的分析。评估的目的是确定电路板是否易于测试，以及测试的成本和效率。
3.测试方法：
该标准提供了多种测试方法，包括电压、电流、电阻、电容等参数的测量，以及数字和模拟信号的检测。同时，标准还介绍了基于软件模拟的测试方法，用于评估电路的动态行为。
4.可测试性设计：
该标准强调了可测试性设计的重要性，包括考虑电路板布局和设计的细节，例如连接器、芯片连接器、电阻、电容等元件的位置和连接方式。这些设计细节将直接影响电路板的可测试性。
5.元件布局优化：
该标准建议对元件布局进行优化，以便更容易地找到故障点和进行故障隔离。优化包括使用短路保护元件、分布电容等设计元素，以提高电路板的稳定性。
6.故障隔离策略：
该标准提供了故障隔离策略，包括对电路板上的故障元件进行定位和识别，以便快速修复故障。这种策略通常需要使用示波器和电路板测试设备来进行故障排查。
IEC62528:2007ENStandardTestabilityMethodforEmbeddedCore-basedIntegratedCircuits提供了一种系统化的方法来评估和改善电路板的可测试性，有助于提高电路板的可靠性和稳定性。通过优化设
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