- 现行
- 正在执行有效
- 2013-07-17 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC 62215-3:2013 EN-FR
- 标准名称：集成电路 - 冲击抗扰度测量 - 第3部分：非同步瞬变注入方法
- 英文名称：Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
- 标准状态：现行
- 发布日期：2013-07-17
文档简介
IEC62215系列标准是国际电工委员会（IEC）制定的一系列关于集成电路脉冲抗干扰测试的标准。IEC62215-3是其中的一部分，专门用于测量集成电路对非同步瞬态注入的抗干扰能力。
测试过程通常包括以下几个步骤：
1.电路板的准备：首先，需要将待测集成电路安装在电路板上，并将整个电路板连接到测试设备上。
2.瞬态注入：测试设备向电路板上的集成电路注入瞬态信号，这些信号可以是电压或电流脉冲，其幅度和频率可以根据需要进行调整。
3.电路响应监测：测试设备会实时监测集成电路的响应，包括电压、电流、温度等参数的变化，并记录下来。
4.结果分析：根据记录的数据，测试人员可以评估集成电路对瞬态信号的抗干扰能力，包括是否出现错误动作、恢复时间、损坏程度等。
IEC62215-3:2013EN-FR标准相较于之前的版本，主要在测试方法、测试程序、数据分析和报告等方面进行了改进和优化，使其更加准确、可靠和易于操作。
IEC62215-3:2013EN-FR标准是用于评估集成电路抗非同步瞬态信号注入能力的重要工具，对于保证电子产品的质量和安全具有重要意义。
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