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  • 2007-09-26 颁布
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【正版授权】 IEC 62132-3:2007 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity,150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62132-3:2007 EN-FR
  • 标准名称：集成电路-电磁抗扰度测量-150 kHz至1 GHz-第3部分：直流注入(BCI)法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method
  • 标准状态：废止
  • 发布日期：2007-09-26

文档简介

IEC62132-3:2007EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticimmunity,150kHzto1GHz-Part3:Bulkcurrentinjection(BCI)method是关于集成电路电磁抗扰度测量的标准。这个标准主要关注在150kHz到1GHz的频率范围内，集成电路对电场和磁场干扰的抵抗能力。它特别关注了电流注入方法，包括“块电流注入”(BCI)方法。

在BCI方法中，测试电路被注入一个已知的、短暂的电流脉冲，这个电流脉冲通常通过集成电路的电源线或接地线注入。这个电流脉冲的幅度和持续时间可以根据需要调整，以模拟实际环境中可能遇到的干扰。

这个标准提供了详细的测试步骤和评估方法，包括但不限于测试环境的设置、测试设备的选择和校准、注入电流的参数设定、测试结果的记录和分析等。同时，这个标准也规定了测试结果的评估方法和合格判定准则，以确保集成电路在实际使用环境中能够正常工作。

IEC62132-3:2007EN-FR标准对于设计和制造电磁兼容性良好的集成电路具有重要的指导意义，是电

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