• 现行
  • 正在执行有效
  • 2005-09-29 颁布
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【正版授权】 IEC 61967-2:2005 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband T_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61967-2:2005 EN-FR
  • 标准名称：集成电路-电磁辐射的测量-150 kHz至1 GHz-第2部分：辐射电磁辐射测量-TEM室和宽频TEM室方法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2005-09-29

文档简介

IEC61967-2:2005EN-FR集成电路-电磁辐射的测量-150kHz至1GHz部分2:辐射电磁波的测量-TEM单元和宽频TEM单元法是一系列测量无线电频率和更高频率设备电磁辐射的标准。IEC61967系列标准提供了用于测量设备产生的电磁辐射的方法，这些方法包括电场、磁场和电磁场。IEC61967-2:2005EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions,150kHzto1GHz-Part2:Measurementofradiatedemissions-TEMcellandwidebandTEMcellmethod描述了如何使用TEM细胞和宽频TEM细胞方法来测量无线电频率和更高频率设备的辐射电磁波。具体步骤包括设置实验环境、选择适当的测量仪器、对设备进行预热和校准、设置TEM细胞或宽频TEM细胞参数、进行测量、记录数据和分析结果等。该标准对于电子设备和系统制造商、研究机构和消费者具有重要意义，因为它提供了评估设备电磁辐射性能的准确方法。此外

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