• 现行
  • 正在执行有效
  • 2011-06-17 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-7:2011 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-7:2011 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第7部分：内部湿度含量测量和其他残余气体的分析
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2011-06-17

文档简介

内部湿度含量测量和其他残余气体的分析标准描述了如何测量半导体器件内部的水分含量以及其他残余气体，并对其进行分析。这个标准提供了详细的测试方法和要求，以确保半导体器件的质量和性能。它涉及到各种不同的测试条件，如温度、湿度、压力和时间等。在进行这些测试时，需要遵守一系列的规定和步骤，以确保测试结果的准确性和可靠性。此外，该标准还涉及一些特殊的气体分析和测量技术，如光谱分析、色谱分析等。该标准对于半导体行业的生产和质量控制至关重要，因为它提供了一种系统的方法来评估和验证半导体器件的性能和可靠性。这个标准包括了详细的试验方法和程序，以及如何分析和解释测试结果。在进行测试时，需要使用适当的设备和工具，并确保实验室环境的稳定性和可靠性。这些标准和程序有助于确保半导体器件的质量和性能达到预期的标准。同时，该标准还提供了对残余气体的分析和测量方法，以确保半导体器件的内部环境是安全的。总之，IEC60749-7:2011EN-FR标准对于半导体器件的生产、质量控制和安全性能评估至关重要。它提供了一种系统的方法来评估和验证半导体器件的性能和可靠性，并确保它们符合预期的标准。

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