• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-03-03 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权】 IEC 60749-6:2017 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-6:2017 EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第6部分：高温存储
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-03-03

文档简介

IEC60749-6:2017EN标准中的“Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part6:Storageathightemperature”部分涉及到高温存储测试方法。该测试用于评估半导体设备在高温环境下的性能和可靠性。以下是测试的详细步骤和解释：

1.准备设备：首先，需要准备符合IEC60749标准的测试设备，包括高温存储箱、温度控制器、测试夹具等。确保设备在测试前经过校准和验证，以确保测试结果的准确性。

2.设备安装：将待测试的半导体设备安装在测试夹具上，确保设备与夹具紧密连接，并确保设备在高温存储箱内正确放置。

3.设定温度：根据产品规格和测试要求，设定高温存储箱内的温度。通常，高温存储测试的温度范围为45℃至85℃之间，具体温度取决于产品类型和规格。

4.测试周期：根据产品规格和测试要求，确定高温存储测试的周期。通常，测试周期为几天到几周不等，具体取决于产品的类型和规格。

5.记录数据：在整个测试周期内，记录设备的温度、湿度和其他相关参数。这些数据将用于评估设备的性能和可靠性。

6.结果分析：在测试周期结束后，根据记录的数据进行分析。评估设备在高温度下的性能变化、电气性能、机械性能等指标。根据测试结果，确定设备是否符合规格要求，以及是否需要进行进一步的处理或维修。

高温存储测试是评估半导体设备在高温环境下的性能和可靠性的重要方法。通过执行该测试，可以确保设备在高温环境下能够正常工作，并延长其使用寿命。在进行高温存储

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论