• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-04-10 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-5:2017 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-5:2017 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第5部分：稳态温度湿度偏差寿命试验
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-04-10

文档简介

这项测试方法是用于评估半导体器件在长期使用过程中性能变化的一种方法。它涉及到将半导体器件放置在一个特定的环境条件下，例如温度和湿度，并保持这个条件一段时间。这个过程被称为恒温恒湿偏差寿命试验。

具体来说，测试过程包括以下步骤：

1.初始条件检查：在开始试验之前，需要检查半导体器件的初始状态，包括温度、湿度和其它可能影响性能的因素。

2.环境条件设置：根据IEC60749-5标准的规定，试验环境应包括一个恒定的温度和一个恒定的相对湿度。这些条件可以根据具体的产品类型和规格进行调整。

3.试验时间：试验的持续时间通常根据产品的预期寿命和制造商的建议来确定。一般来说，试验时间足够长，以观察到明显的性能变化。

4.检查和记录：在整个试验过程中，需要定期检查半导体器件的状态，并记录任何可见的变化。这些记录可以帮助评估产品性能的稳定性和可靠性。

5.结果评估：试验结束后，需要分析试验结果，包括记录的数据和观察到的性能变化。这可以用于评估产品的寿命和可靠性，并为制造商提供改进产品设计和制造工艺的反馈信息。

这项测试方法的主要目的是评估半导体器件在长期使用过程中由于温度和湿度的变化而导致的性能变化。通过这种测试方法，制造商可以了解产品的性

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