• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-03-03 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-4:2017 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat,steady state,highly accelerated stress test (HAST)_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-4:2017 EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第4部分：湿热、恒定状态、高加速应力测试(HAST)
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-03-03

文档简介

IEC60749-4:2017EN标准是半导体设备机械和气候测试方法的一部分，具体来说是关于湿热、恒定状态和高度加速应力测试（HAST）的方法。

湿热测试（H-T）是一种环境应力筛选方法，用于模拟产品在潮湿和高温条件下暴露的情况。这种方法可以检测由于潮湿引起的电气性能变化，如金属腐蚀、绝缘材料老化等。

恒定状态测试（S-T）是一种在给定温度下保持产品恒温的环境应力筛选方法，用于检测由于温度变化引起的材料和机械性能变化。

高度加速应力测试（HAST）是一种高度加速的产品老化过程，通过模拟产品在湿热环境中的暴露情况来加速产品的老化过程。这种方法可以检测由于潮湿和高温引起的电气性能变化，如金属腐蚀、绝缘材料老化等，同时还可以检测由于温度变化引起的材料和机械性能变化。

通过这些测试方法，可以确保半导体设备在各种环境条件下的稳定性和可靠性，从而提高产品的质量和性能。在进行这些测试时，需要遵循一定的操作规程和测试条件，以确保测试结果的准确性和可靠性。

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