• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-08-30 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-32:2002 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-32:2002 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第32部分：塑料封装器件的可燃性（外部诱发）
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-08-30

文档简介

塑料包封的半导体器件的易燃性（外部诱导）的标准主要涵盖了塑料封装半导体器件的易燃性的测试方法。它规定了如何评估和测量这些器件在特定条件下（如温度、湿度、光照等）的易燃性。这些条件通常模拟实际使用环境中的各种因素。这个标准涉及到安全问题，因为它关注的是可能引起火灾的风险。具体来说，它涉及到如何模拟外部诱导的火焰，以及如何测量器件在火焰下的行为。这个标准主要关注塑料封装半导体器件，因为它们在现代电子设备中广泛应用。测试方法包括对器件在火焰中的移动、烟雾的产生、以及火焰蔓延速度等的测量。这个标准对于半导体制造业、测试实验室以及最终用户都有重要的指导意义，因为它提供了评估和确保半导体器件安全使用的方法。在进行塑料封装半导体器件的设计、制造、测试和销售时，都需要遵守这个标准。

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