• 现行
  • 正在执行有效
  • 2004-03-09 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权-英语版】 IEC 60749-24:2004 EN-D Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-24:2004 EN_D
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第24部分：加速耐水性试验-无偏倚的HAST
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2004-03-09

文档简介

测试准备阶段：

在开始测试之前，电子设备需要在制造商提供的清洁条件下进行清洗。在实验室环境下，清洗步骤可能包括使用溶剂、干燥设备并清洁产品表面。这个步骤确保设备表面的污垢和其他污染物被清除，以避免影响测试结果。

测试设备：

U-BendResistanceTest设备通常包括一个密封的测试容器，其中包含模拟潮湿环境的条件。这个容器通常包括一个加热元件，用于将湿度环境加热到所需温度。此外，测试设备还包括一个用于夹持和固定电子设备的夹具，以及一个用于测量电子设备在潮湿环境中暴露时间的过程控制系统。

测试过程：

将电子设备放入密封的测试容器中，并使其在特定的温度和湿度条件下暴露一段时间。这个时间长度通常由制造商根据产品的类型和预期用途来确定。在此期间，设备将被加热到所需温度，并保持在该温度下一段时间，以使水分能够渗透到设备的内部。一旦达到所需的时间长度，设备将被取出并评估。

评估方法：

评估通常包括检查设备的外观和功能。制造商可能会检查设备的金属部分是否有任何腐蚀或变色迹象，以及电路板和其他组件是否仍然正常工作。此外，制造商还可能会检查设备的密封性，以确保水分没有进入设备的内部。如果所有这些方面都得到满意的结果，那么设备就可以被认为是通过了U-BendResistanceTest。

值得注意的是，虽然U-BendResistanceTest可以提供有关电子设备在潮湿环境中的性能的可靠信息，但它并不能替代传统的防水和防尘测试。因此

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论