• 废止
  • 已被废除、停止使用，并不再更新
  • 1985-01-01 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60747-11:1985 EN-FR Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11: Sectionalspecification for discrete devices_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60747-11:1985 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件. 分离器件. 第11部分: 分离器件规范部分
  • 英文名称：Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11: Sectionalspecification for discrete devices
  • 标准状态：废止
  • 发布日期：1985-01-01

文档简介

IEC60747-11标准主要针对离散半导体装置，包括但不限于二极管、晶体管、集成电路等。该标准详细规定了这些装置的设计、制造、性能、安全、可靠性和环境适应性等方面的要求。

具体来说，IEC60747-11包括以下部分：

*概述：介绍了该标准的适用范围、定义、符号等基本要素。

*结构、电气性能和物理特性：这部分描述了离散装置的基本结构、电气参数和物理特性，包括额定值、环境条件、性能和限制等。

*安全和保护：规定了装置在正常使用和意外情况下的安全要求，如过电压、过电流、温度等。

*制造要求：规定了制造过程的基本准则和质量控制要求，以确保装置的一致性和可靠性。

*可靠性：提供了可靠性预测和保证的方法，以确保装置在长期使用中的稳定性和可靠性。

*环境适应性：规定了装置在各种环境条件下的适应性要求，包括温度、湿度、电磁干扰等。

*包装和运输：规定了装置的包装、运输和储存要求，以确保装置在运输和储存过程中的安全性和完整性。

此外，IEC60747-11还提供了其他相关附录和规范，包括对特殊用途的离散装置（如发光二极管、光电器件等）的具体要求。这些附录和规范可以提供更详细的信息，以支持离散装置的设计、制造和使用。

IEC60747-11标准提供了离散半导体装置的设计、制造和使用方面的详细规范，以确保这些装置的性能、安全性和可靠性符合要求。同时，该标

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