• 现行
  • 正在执行有效
  • 1980-01-01 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60444-2:1980 EN-FR Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of qu_第1页
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基本信息:

  • 标准号:IEC 60444-2:1980 EN-FR
  • 标准名称:π-网络零相位技术测量石英晶体单元参数-测量石英晶振的动电容量方法之二
  • 英文名称:Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
  • 标准状态:现行
  • 发布日期:1980-01-01

文档简介

IEC60444-2:1980标准是关于如何使用pi网络零相位技术测量石英晶体元件参数的标准。这部分主要涉及到如何使用相位偏移法来测量石英晶体元件的运动电容。

首先,我们需要了解pi网络的基本原理和操作步骤。pi网络是一种常用的滤波器,它可以对信号进行平滑处理,消除其高频部分。在测量石英晶体元件参数时,我们通常会使用一个pi网络来接收和检测石英晶体元件的振动信号。

然后,我们使用相位偏移法来测量运动电容。具体来说,我们通过测量石英晶体元件在振动时的相位变化,再结合元件的几何参数和振动条件,就可以计算出运动电容。这种方法的基本原理是利用石英晶体元件的电容特性,通过测量其振动时的相位变化,再结合元件的其他参数,从而得到运动电容。

在实际操作中,我们需要注意一些关键步骤和注意事项。首先,我们需要选择合适的测量设备和测量环境,确保测量结果的准确性和可靠性。其次,我们需要确保石英晶体元件的振动条件稳定,避免因振动条件的变化而影响测量结果。最后,我们还需要注意测量过程中的误差来源,并采取适当的措施来减小误差。

IEC60444-2:1980标准提供了一种精确、可靠的测量石英晶体元件运动电

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