半导体器件 分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范 编制说明_第1页
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文档简介

《半导体器件分立器件大功率双极型晶体管空《半导体器件分立器件大功率双极型晶体管空白详细规范》是国家标准化管理委员代久远，编制时依据的总规范GB/T4589.1-1989《半导体器件第10部分：分立器件和集成试验方法GB/T4937-1995《半导体分立器件机械和气候试验方法》中的多项方法已转化为GB/T4937部分标准，参数体系也与现代技术要求有出入，为保证国家标准内容的先进性和项目立项后，牵头单位广泛征集起草单位，于2024年1月正式成立标准编制工作组，制2024年2月-5月，标准工作组对现有的大功率双极型晶体管的参数特性以及质量检验要4、标准编制的主要成员单位及其所做的工作国际电工委员会TC47半导体器件标准化技术委员会已废止产品质量评价类标准，IEC制组基于GB/T12560提出大功率双极型晶体管的质量保证要求，特别是寿命试验要求，参考考JEDEC规定的大功率双极型晶体管产品注册要求，提出了大功率双极型晶体管的质量保证GB/T7576-1998和GB/T7577-1996制定时要求，与现行的章节结构不符，因此此次整合修订，将标准框架按章节结构进行了省略了在规定的反向基极电压下的最高集电极-发射极（直流）电压VCEX、在基极与发极-发射极（直流）电压VCER等与应用条件相关的参数。增加关于电参数曲线的条款，将安全工作区曲线调整到该条款。定“与温度有关的耗散功率”细化为TC=25℃下总输入A组检验项目和条件按GB/T12560b)根据大功率双极型晶体管的工作特性，该类器件的寿命试验应进行稳态工作寿命和间歇工作寿命试验两大类，因此删除了B8c分组高温反偏和B8d分组高温栅偏（该分b)根据大功率双极型晶体管的工作特性，该类器件的寿命试验应进行稳态间歇工作寿命试验两大类，因此删除了C8c分组高温反偏分立器件的强加速稳态湿热试验（HAST）、潮湿敏感度定级试验等三、试验验证的分析、综述报告，技术经济论证，预期的经济效益、社会五、以国际标准为基础的起草情况，以及是否合规引用或者采用国际国外标准工作组根据起草前确定的编制原则进行了标准起草，标准工作

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