在线网课知道《材料分析测试技术(山东科大)》单元测试答案

第一章单元测试第二章单元测试第三章单元测试第四章单元测试第五章单元测试第一章单元测试1【单选题】(1分)X射线特征谱的产生机理与（）有关。A.X射线管的阴极材料B.X射线管的阳极靶材的原子结构C.X射线管的电压D.X射线管的电流2【单选题】(1分)倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距（）A.没有关联B.相等C.垂直D.成倒数3【单选题】(1分)粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。A.相同B.任意C.不同D.其他选项都不对4【判断题】(1分在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。（）A.对B.错5.【多选题】(1分)正确答案：CD关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。A.机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转θ角。B.样品台和计数管必须机械连动C.机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。D.样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。6【单选题】(1分)X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。A.慢速扫描B.步进扫描C.其他选项都不对D.连续扫描7【判断题】(1分当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。（）A.对B.错8【单选题】(1分)X射线衍射的充分条件是（）。A.满足布拉格方程且结构因子为零。B.其他选项都不对C.满足布拉格方程且结构因子不为零。D.晶面间距大于等于半波长9.【多选题】(1分)正确答案：AC晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）A.形状B.原子种类C.大小D.原子位置10【判断题】(1分每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。（）A.对B.错第二章单元测试1.【多选题】(1分)正确答案：ABCD影响电磁透镜分辨率的因素包括（）。A.像散B.球差C.衍射效应D.色差2【判断题】(1分孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。（）A.对B.错3【单选题】(1分)透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。A.中间镜B.投影镜C.聚光镜D.物镜4【判断题】(1分制备透射电镜薄膜样品时，离子减薄既适用于导电样品，又适用于不导电样品。（）A.对B.错5【判断题】(1分产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。（）A.对B.错6.【多选题】(1分)正确答案：ABCD简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。A.（100）B.（110）C.（111）D.（200）7【判断题】(1分衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。（）A.对B.错8.【多选题】(1分)正确答案：BC根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。A.衍射矢量B.样品厚度C.偏离矢量D.样品质量9【判断题】(1分暗场像中位错线的像为亮线。（）A.错B.对第三章单元测试1.【多选题】(1分)正确答案：ABCD电子束与固体样品作用时，产生的信号有（）。A.二次电子B.特征X射线C.俄歇电子D.背散射电子2【单选题】(1分)电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。A.表面面积B.厚度C.表面形貌D.原子序数3【判断题】(1分扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。（）A.对B.错4【单选题】(1分)在扫描电镜观察样品，对样品微观组织形貌敏感的成像信号是（）。A.特征X射线B.背反射电子C.俄歇电子D.二次电子5【单选题】(1分)与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。A.速度B.放大倍数C.景深D.尺寸6【判断题】(1分扫描电镜中，无论二次电子呈像还是背散射电子呈像，图像的分辨率不发生改变。（）A.对B.错7【判断题】(1分被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。（）A.对B.错8【判断题】(1分扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。（）A.错B.对9【单选题】(1分)扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。A.其他选项都可以B.大于C.等于D.小于10【单选题】(1分)二次电子像衬度最亮的表面区域是（）。A.法线与电子束成36°的表面B.法线与电子束成86°的表面C.法线与电子束成0°的表面D.法线与电子束成66°的表面第四章单元测试1.【多选题】(1分)正确答案：ABC电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。A.分析元素范围广B.分辨率高C.分析速度慢D.适合粗糙表面工作2【单选题】(1分)在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。A.EPMAB.WDSC.EDSD.XRD3.【多选题】(1分)正确答案：AC利用电子探针，可以对样品的成分进行（）。A.定性分析B.只能定性分析C.定量分析D.只能定量分析4【判断题】(1分利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。（）A.对B.错5【单选题】(1分)在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。A.没有B.中等C.低D.高6【判断题】(1分电子探针的主要功能是进行微区成分分析。（）A.错B.对7【判断题】(1分利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。（）A.错B.对8【判断题】(1分电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（）A.错B.对9【判断题】(1分在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为EDS。（）A.错B.对10【判断题】(1分电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。（）A.对B.错第五章单元测试1【单选题】(1分)差热分析法的简称为（）。A.WDSB.DTAC.DSCD.EDS2【单选题】(1分)差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。A.基线B.吸热峰C.放热峰D.DTA3【判断题】(1分热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。（）A.对B.错4.【多选题】(1分)正确答案：ABCD差热分析中，试样对曲线会产生影响，影响因素有（）。A.试样粒度B.试样的装填C.试样用量D.试样结晶度5【判断题】(1分在热分析技术中，参比物质的选择是任意的。（）A.对B.错6【单选题】(1分)热重分析法的简称为（）。A.EDSB.DSCC.DTAD.TG7【判断题】(1分在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。（）A.对