(高清版)GBT 42839-2023 半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器

半导体集成电路模拟数字(AD)转换器2023-08-06发布国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会 I 2规范性引用文件 3术语和定义 24分类 4.1概述 4.2双积分型 24.4逐次逼近型 4.5全并行型 24.6流水线型 25技术要求 25.1温度 5.2电特性 5.3封装特性 5.4其他指标 46电特性测试方法 46.1一般说明 6.2静态特性 6.3动态特性 7检验规则 7.1一般要求 7.2检验分类 7.3质量评定类别 7.4抽样方案 7.5检验批构成 7.6鉴定检验 7.7质量一致性检验 7.8筛选 8标志 9.1包装 I本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、杭州电子科技大学、成都华微电子股份有限公司、成都振芯科技股份公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、四川翊晟芯科信息技术有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、中国科学院半导体研究所、广东伟照业光电节能有限公司、惠阳东亚电子制品有限公司、杭州万高科技股份有限公司。本文件主要起草人：李锟、邢浩、张弛、李大刚、王会影、张涛、雷郎成、谢红建、钟明琛、李文昌、1半导体集成电路模拟数字(AD)转换器1范围本文件规定了模拟数字(AD)转换器(以下简称AD转换器或ADC)的分类、技术要求、检验方法、本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的AD转换器。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T(HAST)4589.1—20064937.3—20124937.4—2012半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验GB/T4937.11—2018半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法GB/T4937.13—2018半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾GB/T4937.14—2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度(引线牢固性)GB/T4937.15—2018半导体器件机械和气候试验方法第15部分：通孔安装器件的耐焊接热GB/T4937.21—2018半导体器件机械和气候试验方法第21部分：可焊性GB/T4937.23半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命GB/T4937.26半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电(ESD)敏感度测试人体模型(HBM)GB/T4937.27半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)GB/T9178集成电路术语GB/T12750—2006半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路SJ/T10147集成电路防静电包装管SJ/T11587电子产品防静电包装技术要求IEC60749-6半导体器件机械和气候试验方法第6部分高温贮存(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part6:Storageathightemperature)IEC60749-8:2002半导体器件机械和气候试验方法第8部分：密封(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part8:Sealing)IEC60749-9:2017半导体器件机械和气候试验方法第9部分：标志耐久性(Semiconductorde-vices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part9:Permanenceofmarking)IEC60749-24:2004半导体器件机械和气候试验方法第24部分：稳态湿热(Semiconductor2devices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part24:Acceleratedmoistureresistance—UnbiasedHAST)IEC60749-28:2017半导体设备机械和气候测试方法第28部分：静电放电(ESD)灵敏度测试充电器件型号(CDM)设备级别(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part28:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting—Chargeddevicemodel(CDM)-devicelevel)IEC60749-36:2003半导体器件机械和气候试验方法第36部分：恒定加速度(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part36:Acceleration,steadystate)3术语和定义GB/T9178界定的术语和定义适用于本文件。4分类4.1概述AD转换器主要功能是将模拟量转化为数字量，基本工作原理主要为采样保持、量化与编码。根据采样、量化电路的结构不同，AD转换器主要有以下类型，双积分型(dualslope)、(sigma—delta)、逐次逼近型(successiveapproximation)、全并行型(flash)和流水线型(pipeline)等。4.2双积分型一种通过积分器和计数器将输入的模拟量转换成数字量的AD转换器。一种通过比较器产生一个与模拟输入量相关的脉冲信号数据流，这个数据流通过数字滤波和抽样产生与模拟输入相对应的数字量的AD转换器。4.4逐次逼近型一种通过比较器比较输入电压和参考电压产生数字量，并通过上一次比较的数字量，在模拟输入中减去相应的电平，完成N次比较后生成对应数字量的AD转换器。4.5全并行型一种通过将模拟输入信号同时和多个模拟比较器进行比较并输出对应数字量的AD转换器。4.6流水线型采样保持单元捕获将要转换的模拟量，采样后的电平依次经过若干流水结构得到数字量，经过延时对准电路和数字校正电路处理后输出数字量的AD转换器。5技术要求5.1.1工作温度在工作温度范围内AD转换器可正常工作。3GB/T42839—2023除另有规定外，AD转换器的工作温度为：A类：0℃~70℃;B类：-40℃~85℃;C类：-40℃~105℃;D类：-40℃~125℃;E类：-55℃~125℃;工作温度可用环境温度(TA)、壳温(Tc)或结温(T))表征。5.1.2贮存温度-65℃~150℃。5.2电特性5.2.1静态特性AD转换器应包含但不限于以下适用的静态电性能指标：a)电源电流(Icc);b)功耗(Pp);c)增益误差(E);d)增益误差温度系数(aEc);e)失调误差(Eo);f)失调误差温度系数(aEo);g)满度误差(Ers);h)满度误差温度系数(aEps);i)失码(MC);j)微分非线性(DNL);k)微分非线性温度系数(αpnr);1)积分非线性(INL);m)积分非线性温度系数(αiNL);n)输出高电平电压(VoH);o)输出低电平电压(Von);p)共模电压范围(VcmR)(适用时);q)模拟输入电流(I₁);r)参考电压(VREF)。5.2.2动态特性AD转换器应包含但不限于以下适用的动态电性能指标：a)最高转换率(fmax);b)最低转换率(fmm);c)信噪比(SNR);d)信噪失真比(SINAD);e)有效位数(ENOB);f)无杂散动态范围(SFDR);4g)总谐波失真(THD);h)N阶谐波失真(HD));i)双音交调失真(TTIMD);j)转换噪声(NrRs);1)直流电源抑制比(PSRRpc);m)交流电源抑制比(PSRRAc)。5.3封装特性为了方便使用，应规定以下封装特性：a)封装外形图：包括封装形式、外形尺寸、引出端定义功能符号等；b)热阻：在规定的功耗下，以最严酷的推荐工作条件工作时，允许在器件表面参考点产生的最高温度；c)耐焊接热温度；d)回流焊曲线(适用时)。5.4其他指标为了方便使用，AD转换器还应规定以下适用的特性：a)功能框图；b)静电放电敏感度(ESD)(人体模型、机械模型、带电器件模型等);c)绝对最大额定值；d)推荐工作条件；6电特性测试方法6.1一般说明除另有规定外，试验在下列环境条件下进行：相对湿度：45%～75%(适用时);6.2静态特性6.2.1电源电流(Icc)和功耗(Pp)测试器件在规定工作状态下的电源电流以及功耗。测试原理如图1所示。5GB/T42839—2023翻电源AADC采集标引符号说明：GND——引出端地；G——信号源；A——电流表。图1Icc、Pp测试原理图6.2.1.3测试条件除另有规定外，测试应明确以下条件：a)环境温度TA;b)电源电压Vs+、Vs-(如果有负电源);c)基准输入条件(内部基准或者外部基准);d)时钟输入条件；e)模拟信号输入条件；f)规定的输出负载(数字输出端接匹配负载)。6.2.1.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)输入规定时钟信号和模拟输入信号；d)在每个电源端(和参考电源端)Vc测得电流Icc;e)由公式(1)计算功耗Pp:Pp=2(Vcc×lcc)…(1)式中：Vc——电源电压；Icc——电源电流。6.2.3增益误差(Ec)测试转换器实际满量程输入范围和理想满量程输入范围的偏差。6测试原理如图2所示。数据表考压参电源ADC标引符号说明：GND——引出端地；V₁——输入电压。图2E测试原理图测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)按照定义测量码值1的码值转换电平T[1];d)按照定义测量码值2N-1的码值转换电平T[2N-1];e)由公式(2)计算增益误差Eg:E;={[(T[2N-1]-T[1])/(Vrsr-2×VisB)]-1}×100………………(2)式中：T[2^-1]、T[1]——转换电平；Eg——增益误差；VrSR——满幅度电压范围。6.2.4增益误差温度系数αpc在规定的温度范围内，单位温度变化所引起的增益误差的变化。测试原理如图2所示。76.2.4.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.4.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度(T₁)下，测得Egr)(%FSR);b)在规定的环境温度(T₂)下，测得EGr₂)(%FSR);c)由公式(3)计算出αEg:αEg={[Ear]-Ear]7/(T,-T₁)}×10°/100 (3)式中：T₁、T₂——环境温度；aEc——增益误差温度系数；E₆——增益误差。6.2.5失调误差E。测试ADC转换特性曲线规定码值转换电平与理想值之偏差。6.2.5.2测试原理图测试原理如图2所示。6.2.5.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.5.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)按照定义测量码值1的码值转换电平T[1];d)由公式(4)、公式(5)或公式(6)计算出Eo:E₀=T[1]-0.5×Vis式中：T[1]——转换电平；E₀——失调误差；VrsR——满幅度电压范围。或E₀=(T[1]-0.5×Visg)/VrsR式中：T[1]——转换电平；E₀——失调误差；…………(4)8GB/T42839—2023VrsR——满幅度电压范围。或式中：T[1]——转换电平；Eo——失调误差；6.2.6失调误差温度系数α。在规定的温度范围内，测试单位温度变化所引起失调误差的变化。6.2.6.2测试原理图测试原理如图2所示。6.2.6.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.6.4测试程序测试程序如下：b)在规定的环境温度(T₂)下，测得Eor,(%FSR);c)由公式(7)计算出αE:αE={[Eαr₂]-Exr₁]]/(T₂-T₁)}×10⁶/100 (7)T₁、T₂——环境温度；αE₀——失调误差温度系数；E)失调误差。6.2.7满度误差测试ADC转换特性曲线规定码值转换电平与理想值之偏差。6.2.7.2测试原理图测试原理如图2所示。6.2.7.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.7.4测试程序测试程序如下：9GB/T42839—2023a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)按照定义测量码值2N-1的码值转换电平T[2N-1];d)由公式(8)、公式(9)或公式(10)计算出Ers(单位为V,%FSR和LSB);Ers=T[2N-1]-(VrsR-1.5×Visg) (8)T[2N-1]——转换电平；Ers——满度误差；VrsR——满幅度电压范围。或Ers=[T[2^-1]-(VrsR-1.5×VisB)]/VrsR×100 (9)T[2N-1]——转换电平；——满度误差；V₁sg或Ers=[T[2N-1]-(VrsR—1.5×Visg)]/Visp Ers——满度误差；V₁sa——1个LSB电压；VrsR——满幅度电压范围。在规定的温度范围内，测试单位温度变化所引起满度误差的变化。测试原理如图2所示。测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)在规定的环境温度(T₁)下，测得Ers(r,)(%FSR);b)在规定的环境温度(T₂)下，测得ErsT,,(%FSR);c)由公式(11)计算出αEps:αFrg={[EFS(T₂)-EFATI]]/(T₂-T₁)}×10/100……(11)GB/T42839—2023式中：T₁、T₂——环境温度；αEps——满度误差温度系数，Ers——满度误差。6.2.9失码模拟输入电压在满量程范围内变化时，数据输出有码宽过窄甚至不出现的现象。6.2.9.2测试原理测试原理如图2所示。6.2.9.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.9.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)对ADC进行微分非线性测试；d)记录微分非线性DNL≤一0.9的点为一次失码。6.2.10微分非线性测试实际转换特性曲线的码宽与理想码宽1Vis间的最大偏差。6.2.10.2测试原理测试原理如图2所示。6.2.10.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.10.4测试程序测试程序如下。a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中。b)施加规定的电源电压和参考电压。c)按照定义测量码值k的码值转换电平T[k],码值k+1的码值转换电平T[k+1],按照公式(12)计算k码的码宽电压W[k]:W[k]=T[k+1]-T[k]………(12)式中：T[k]、T[k+1]——转换电平；w[k]——码宽电压。按照步骤c)分别测试所有码(或根据转换器结构通过测量特定的码值子集计算出所有码)的码宽电压。记d)项计算出的ADC所有码宽电压的绝对值最大者W[k]max;由公式(13)或者公式(14)计算求出DNL(单位为%FSR和LSB): 式中：DNL——微分非线性误差；VisB——1个LSB电压；W[k]max——ADC绝对值最大码宽电压；Vrsr——满幅度电压范围。或式中：DNL——微分非线性误差；W[k]mx——ADC绝对值最大码宽电压。6.2.11微分非线性温度系数αm在规定的温度范围内，测试单位温度变化所引起微分线性的变化。6.2.11.2测试原理测试原理如图2所示。6.2.11.3测试条件6.2.11.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度(T₁)下，测得DNL(r);b)在规定的环境温度(T₂)下，测得DNL(r₂);c)由公式(15)计算出αpN: 式中：T——环境温度；apn.——微分线性温度系数；DNL——微分非线性。6.2.12积分非线性测试实际转换特性曲线与最佳拟合直线间的最大偏差。6.2.12.2测试原理测试原理如图2所示。6.2.12.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.2.12.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)按照定义测试所有码值(或根据转换器结构通过测量特定的码值子集计算出所有码值)的码值转换电平T[k];d)按规定的数学方法确定码值转换电平最佳拟合直线(如最小二乘法、端点直线法等),得到测量转换电平在拟合直线上所对应的点T'[k];e)将c)项的数据与d)项的数据相比较，得到T[k]减去T'[k]的结果中绝对值最大值△Vmx;f)由公式(16)或者公式(17)计算出INL:INL——积分非线性；△Vmx——ADC实际码值转换电平和拟合直线上该点所对应值之差；VrsR——满幅度电压范围。或式中：INL——积分非线性；实际码值转换电平和拟合直线上该点所对应值之差。6.2.13积分非线性温度系数在规定的温度范围内，测试单位温度变化所引起线性的变化。6.2.13.2测试原理测试原理如图2所示。6.2.13.3测试条件6.2.13.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度(T₁)下，测得INL(r);GND——引出端地；GND——引出端地；G——信号源。b)在规定的环境温度(T₂)下，测得INL(c)由公式(18)计算出αi:a={[INL(r₂)-INL(ry)]/(T₂-T₁)}×10⁶/100…(18)T——工作温度ant——积分非线性温度系数；INL——积分非线性。按照GB/T17574—1998中第IV篇第2节第1章的规定。按照GB/T17574—1998中第IV篇第2节第1章的规定。测试ADC正常工作情况下模拟输入共模电压范围。测试原理如图3所示。电源电源G十电压信号源数据考压参电GNI)GNDrAl)(’测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)输入规定频率时钟信号；d)输入规定频率、幅度模拟信号；e)将模拟输入共模电平分别设置为最小值VcMmin和最大值VcMmax,待ADC工作稳定后，采集合适数量的ADC转换出来的数据；f)对采集的数据进行FFT运算，计算并判断ADC有效位参数是否在规定共模输入下达到设计要求，若达到参数指标要求，记录模拟输入共模电平最小值为Vcmmin,模拟输入共模电平最大6.2.17模拟输入电流测试ADC模拟输入端输入电流。测试原理如图4所示。电源电源电压时钟/启动A标引符号说明：GND——引出端地；A——电流表。图4测试原理图测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)将被测器件置于要求的测试环境中；b)接通电源；c)输入规定频率时钟信号；d)模拟输入端接规定电平，用电流表测得模拟输入端电流I₁。6.3动态特性测试ADC实际工作时的最高采样率fmx、最低采样率fmn。测试原理如图5所示。电压A)()标引符号说明：G——信号源。测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)按要求使ADC时钟输入工作于最高转换率条件下；d)测试该条件下待测试器件工作是否达到设计要求；e)按要求使ADC时钟输入工作于最低转换率条件下；f)测试该条件下待测试器件工作是否达到设计要求。a)信号分量功率与噪声分量功率之比；b)信号分量功率与噪声分量功率及谐波分量功率的和之比；c)谐波分量功率与信号分量功率之比；d)n阶谐波分量功率与信号分量功率之比；e)信号分量功率与最大杂波分量功率之比；f)ADC实际有效位数。测试原理如图6所示。电压电源GG数据采集标引符号说明：GND——引出端地；G——信号源。6.3.2.3测试条件测试条件同6.2.1.3。6.3.2.4测试程序测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)信号源施加规定幅度和频率fs的模拟信号；d)施加规定频率fcux的采样时钟；e)待ADC工作稳定后，采集合适数量的ADC输出转换数据；f)对采集的数据进行FFT运算，得到经ADC转换后的数据功率谱，分别按定义计算出基波信号分量功率P₁,谐波信号分量功率Pp,噪声分量功率P、,最大杂波分量功率Ps;g)由公式(19)～公式(24)计算：SNR=10lg(P₁/Px) THD=10lg(Pp/P₁) SFDR=10lg(P₁/Ps) ENOB=(SINAD-1.76)/6.02 式中：P₁——基波信号分量功率；SNR——信噪比；SINR——信噪失真比；THD——总谐波失真；HD)——n阶谐波失真；SFDR——无杂散动态范围；ENOB——有效位。6.3.3双音交调失真在规定条件下，输入规定双音激励信号，测试输出规定阶数交调分量功率与基波信号分量功率P₁之比。测试原理如图7所示。参考电源电压G采集采集A工GA(iNDCrNL)p标引符号说明：G——信号源。图7TTIMD测试原理图测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)信号源施加规定频率fsi,fs₂模拟输入；d)给ADC施加规定频率fck的采样时钟；e)待ADC工作稳定后，采集合适数量的ADC转换出来的数据；f)对采集的数据进行FFT运算，得到采集数据的功率谱，分别按定义计算出基波信号分量功率P₁,2阶交调分量功率Ppg、3阶交调分量功率Pp;g)由公式(25)和公式(26)计算互调失真：TTIMD₂=101g(Ppg/P₁)………………(25)考压参电考压参电式中：P₁——基波信号分量功率；Pu——2阶交调分量功率；Ppa——3阶交调分量功率；TTIMD——双音交调失真。测量ADC数据转换过程中所产生的噪声。测试原理如图8所示。G源:数据标引符号说明：G——信号源；K1——开关。图8Nrs测试原理图测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的电源电压和参考电压；c)按照要求将ADC模拟输入接地或规定电压；d)对采集的数据进行直方图统计(应呈正态分布),并计算统计值标准差σ,即为器件输入参考噪声NrRs,统计图如图9所示。σ=转换噪声输出码值测试ADC模拟输入频率响应通带宽度。测试原理如图10所示。考压考压电G数拆采集数拆采集:(iNI)(iNI)标引符号说明：GND——引出端地；G——信号源。图10BW测试原理图6.3.5.3测试条件测试条件同6.2.1.3。基波功率/dB基波功率/dB测试程序如下。a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中。b)施加规定的电源电压和参考电压。c)ADC工作于规定的采样速率下(如果没有明确采样速率，ADC工作于最大采样速率)。d)输入规定幅度、规定频率的参考正弦信号，待ADC稳定后采集合适数量的ADC转换输出数据，对采集的数据进行FFT运算得到基波功率P₁。参考信号一般选择ADC带内最大增益频点。e)逐渐增大模拟输入频率，直到输出基波功率变化一3dB,记录该模拟输入频率为高频—3dB频f)逐渐减小模拟输入频率，直到输出基波功率变化一3dB,记录该模拟输入频率为低频—3dB频g)记录ADC带宽BW为高频—3dB频率fimu和低频—3dB频率fint之差。h)大多数ADC没有低频—3dB频率，即输入频率可低至直流(dc),则记录ADC带宽BW为高频—3dB频率fimu,最大增益参考频点一般也选择为dc点。无低频一3dB频率的ADC带宽参数测量典型曲线如图11所示。模拟输入频率/MHz图11BW测试典型曲线6.3.6直流电源抑制比测量电源电压变化所引起等效模拟输入电压的变化。测试原理如图2所示。测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)在规定的环境温度下，将被测ADC接入测试系统中；b)施加规定的参考电压；c)设置ADC电源电压为Vps;d)若无特殊规定，给待测ADC施加接近满幅度的模拟输入信号(约为满幅度的95%),待器件工作稳定后，对输出数码进行采样，计算采样码值平均值M₁;e)改变电源电压，改变量为△Vps,按照步骤d)相同条件，对输出数码进行采样，计算采样码值平均值M₂;f)由公式(27)计算直流电源电压抑制比PSRRx:式中：M——采样码值平均值；Vps—-电源电压；PSRRpe——直流电源电压抑制比。6.3.7交流电源抑制比测试电源耦合至ADC模拟输入端上的信号能量。测试原理如图12所示。电源(GCiNDLGMD₁,GND——引出端地；G——信号源。测试条件同6.2.1.3。测试程序如下：a)电源施加合适的电源电压，输出端接规定的负载电阻；b)ADC电源端通过交流耦合施加规定输入幅度电压VN、规定频率的正弦信号，待ADC工作稳定后，采集合适数量的ADC转换出来的数据；c)对采集的数据进行FFT运算，得到经ADC转换后的数据功率谱，计算出电源干扰频点输出幅度电压Vour;d)由公式(28)计算交流电源电压抑制比PSRRAc:式中：ViN——输入幅度电压；Vour——输出幅度电压；PSRRʌc——交流电源电压抑制比。7检验规则7.1一般要求AD转换器应经检验合格方能出厂，并附有证明质量合格的文件或标记。与GB/T12750—2006的要求不一致时，以本文件为准。7.2检验分类本文件规定的检验分为：a)鉴定检验；b)质量一致性检验；7.3质量评定类别AD转换器的质量评定类别，对各类别的最低要求如下。——I类：该类器件应符合Ⅱ类或Ⅲ类鉴定批准要求。该类的检验批应符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。——Ⅱ类：该类的检验批应符合A组和B组逐批检验要求以及C组和D组周期检验要求。——Ⅲ类：该类的检验批需进行100%筛选，并应符合A组和B组逐批检验要求以及C组和D组周期检验要求。7.4抽样方案抽样方案应按表1和表2的规定进行。分组批允许不合格品率(LTPD)*接收质量限(AQL)I类Ⅲ类I类Ⅲ类A1A2A2aA2bA3A3aA3bA4A4aA4b75333233533323357批允许不合格品率，最大合格判定数为4。分组LTPDⅢ类Ⅱ类和Ⅲ类B1B4'B5B8C2cC3°C5aC8D8C11(不适用)555批允许不合格品率，最大合格判定数为2。bLTPD指器件引出端数，分配给至少4只器件。7.5检验批构成一个检验批应由相同类型，在基本相同的条件下，采用相同原材料和工艺生产，并在同一时间内提交检验的器件组成。7.6鉴定检验鉴定检验由本文件规定的A组检验(表3)、B组检验(表4)、C组检验(表5)和当有规定时的D组检验(表6)组成。7.7质量一致性检验质量一致性检验由本文件规定的A组检验(表3)、B组检验(表4)、C组检验(表5)和当有规定时的D组检验(表6)组成。除另有规定外，试验在25℃下进行。标有(D)的试验是破坏性的。分组检验或试验试验条件极限值外部目检见GB/T4937.3—2012 按规定—A2a最高工作温度下功能验证(不适用于I类)*TA=TA(max)或Tc=Tc(max)——分组检验或试验试验条件极限值A2b最低工作温度下功能验证(不适用于I类)*TA=TA(min)或Tc=Tc(min)见5.2.1——A3a最高工作温度下静态特性TA=TA(max)或Tc=Tc(max)极限值可与A3分组不同A3b最低工作温度下静态特性TA=TA(min)或Tc=Tc(min)极限值可与A3分组不同见5.2.2—A4a最高工作温度下动态特性(不适用于I类)TA=TA(max)或Tc=Tc(max)极限值可与A4分组不同A4b最低工作温度下动态特性(不适用于I类)*TA=TA(min)或Tc=Tc(min)极限值可与A4分组不同4如果制造厂能定期证明2个极限温度下的试验结果与25℃下的试验结果相关，则可使用25℃下的结果。分组检验或试验引用标准条件B1尺寸GB/T4589.1—2006——B4可焊性(D)GB/T4937.21—2018按规定B5(仅适用于空封器件)密封非空封器件和环氧封接的空封器件温度快速变化随后：·强加速稳态湿热(HAST)IEC60749-8:2002GB/T4937.11—2018GB/T4937.3—2012GB/T4937.4—2012按规定10次循环，贮存温度范围130℃,相对湿度85%,96h/110℃,相对湿度85%,264hB8寿命电测试GB/T4937.23最高工作温度，时间：168h,偏置条件按规定放行批证明记录放行批证明记录就B3、B4、B5和B8分组提供计数检测结果分组检验或试验引用标准条件尺寸C2cESD(D)HBMMMCDM电测试GB/T4937.26GB/T4937.27IEC60749-28:2017按规定按规定