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文档简介

实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试5/8/20241实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的

认识数字电子技术实验的仪器、设备及使用方法。

逐步熟悉常用的集成电路芯片。了解逻辑代数的物理意义。5/8/20242实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试二、实验仪器及设备

1.数字逻辑实验台1台2.元器件：74LS08（二输入端四与门）1片74LS32（二输入端四或门）1片74LS04（六反相器）1片74LS00（二输入端四与非门）1片74LS02（二输入端四或非门）1片5/8/20243实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试三、实验内容1．测试74LS08（二输入端四与门）逻辑功能2．测试74LS32（二输入端四或门）逻辑功能3．测试74LS04（六反相器）逻辑功能4．测试74LS00（二输入端四与非门）逻辑功能5．测试74LS02（四输入端二与非门）逻辑功能5/8/20244实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试集成块实物图5/8/20245实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试5/8/20246实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试1．测试74LS08的逻辑功能将74LS08芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。5/8/20247实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试实物接线图5/8/20248实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试

2．测试74LS32的逻辑功能将74LS32正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。5/8/20249实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试

3．测试74LS04的逻辑功能将74LS04正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。5/8/202410实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试

4．测试74LS00的逻辑功能将74LS00芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。5/8/202411实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试5/8/202412实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试5．测试74LS02的逻辑功能将74LS02芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。

5/8/202413实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试6．测试74LS86的逻辑功能将74LS86芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第1脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。5/8/202414实验二集成逻辑门电路逻辑功能的测试四、实验记录5/8/202415实验二

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