电容失效模式和机理

电容器的常见失效模式有：――击穿短路；致命失效――开路；致命失效〔漏电流上升等；局部功能失效――漏液；局部功能失效――引线腐蚀或断裂；致命失效――绝缘子裂开；致命失效――绝缘子外表飞弧；局部功能失效式的主要产生气理归纳如下。失效模式的失效机理引起电容器击穿的主要失效机理②电介质的电老化与热老化；③电介质内部的电化学反响；④银离子迁移；⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤；⑥电介质分子构造转变；⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧；⑧在机械应力作用下电介质瞬时短路引起电容器开路的主要失效机理③引出线与电极接触不良；④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂;⑤液体电解质枯槁或冻结;⑥机械应力作用下电介质瞬时开路。引起电容器电参数恶化的主要失效机理③自愈效应;④电介质电老化与热老化;⑤工作电解液挥发和变稠;⑥电极腐蚀;⑦湿式电解电容器中电介质腐蚀;⑧杂质与有害离子的作用;⑨引出线和电极的接触电阻增大。引起电容器漏液的主要缘由③绝缘子与外壳或引线焊接不佳;④半密封电容器机械密封不良；⑤半密封电容器引线外表不够光滑；⑥工作电解液腐蚀焊点。引起电容器引线腐蚀或断裂的主要缘由①高温度环境中电场作用下产生电化学腐蚀；③引线在电容器制造过程中受到机械损伤；④引线的机械强度不够。引起电容器绝缘子裂开的主要缘由①机械损伤；引起绝缘子外表飞弧的主要缘由③绝缘子选用不当④环境气压过低一对应的。电容器失效机理分析潮湿对电参数恶化的影响(H+)和氢氧根离子(0H-),引线根部产生电化学腐蚀。即使烘干去湿，也不行能引线复原。银离子迁移的后果银和水。由于电极反响，阳极的银离子不断向阴极复原成不连续金属银粒，靠水膜连接成树状向阳极延长。银离子迁移不仅发生在无机介质外表，银层，引线焊点与电极外表银层之间，间隔着具有半导体性质的氧化银，-击穿为主，直到试验500h以后，主要失效模式才过渡为边缘外表极间飞弧击穿。高频周密电容器的低电平失效机理云母是一种较抱负的电容器介质材料，具有很高的绝缘性能，耐高温，介质损耗小，厚度可薄达25微米。云母电容器的主要优点是损耗小，频电容器的低电平失效是20世纪60年月以来消灭的问题。低电平失现象。60电容量幅度下降。热处理或温循过程中，可能损伤接触部位，恶化接触状况；低电平失效的具体因素归纳如下：电阻增大；中银和铜简洁硫化，使极板与引线间的接触电阻上升。器纸外表的金属膜A、电参数恶化失效阻降低和损耗增大。大。数的20B、引线断裂失效裂失效。A口板之间的封口构造时很简洁在壳边渗漏电解液。承受橡胶塞密封的电容器也简洁漏液。总之，漏液与密封构造、密封材料与密封工艺有亲热的关系。B铝电解电容器在工作电压中沟通成分过大，或氧化膜介质有较多缺陷，或存在氯根、硫酸根之类有害的阴离子，以致漏电流较大时电解作用产生险。C、开路DMF〔二甲基酰胺〕为溶剂的工作电解液时，DMF溶液是氧化剂，在高温下氧化力量更强。工效现象。D击穿下微孔，甚至可能成为穿透孔，使铝电解电容器击穿。自愈作用，氧化膜一经损坏就会导致电容器击穿。工艺缺陷也是铝电解电容器击穿