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文档简介

第第页了解光谱仪不做睁眼瞎光谱仪如何操作光谱仪，又称分光仪，广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝构成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分别出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。一台典型的光谱仪紧要由一个光学平台和一个检测系统构成。包括以下几个紧要部分：1.入射狭缝：在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。2.准直元件：使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。3.色散元件：通常接受光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。4.聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。5.探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。光谱仪应用很广，在农业、天文、汽车、生物、化学、镀膜、色度计量、环境检测、薄膜工业、食品、印刷、造纸、喇曼光谱、半导体工业、成分检测、颜色混合及匹配、生物医学应用、荧光测量、宝石成分检测、氧浓度传感器、真空室镀膜过程监控、薄膜厚度测量、LED测量、发射光谱测量、紫外/可见吸取光谱测量、颜色测量等领域应用广泛。

X射线光谱仪（rohs检测仪）通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF），波长色散光谱仪紧要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与掌控部件，相对简单。

波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体辨别待测元素的分析谱线，依据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：

n=2dsina（n=1,2,3）

式中，为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。

能量色散射线荧光光谱仪则接受能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：

Q=kE

式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。

待测元素的特征谱线需要接受确定的激发源才能获得。目前常规接受的激发源紧要有射线光管和同位素激发源等

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