超高频射频识别标签最小激活功率测试方法

1超高频射频识别标签最小激活功率测试方法本标准规定了超高频射频识别标签最小激活功率的测试环境、测试设备、测试布置图、测试步骤及结果报告。本标准适用于超高频识别标签最小激活功率的测试。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB9254信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T6113.105无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第1-5部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备30MHz～1000MHz天线校准用试验场地GB/T12190电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法CISPR16-1-4无线电干扰与抗干扰测量仪器和方法的规范.第1-4部分:无线电干扰与抗干扰测量仪器-辐射干扰测试用天线和测试场地（Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods–Part1-4:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus–Antennasandtestsitesforradiateddisturbancemeasurements）IEC61000-4-3电磁兼容(EMC)--第4-3部分：试验和测量技术--辐射、射频和电磁场的抗扰度试验（Electromagneticcompatibility(EMC)--Part4-3:Testingandmeasurementtechniques--Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest）3术语和定义GB/T29261.3‒2012，SB/T10530‒2009，确立的以及下列术语和定义适用于本标准。为了便于使用，以下重复列出了GB/T29261.3‒2012，SB/T10530‒2009中的某些术语和定义。3.1射频识别radiofrequencyidentification(RFID)在频谱的射频部分，利用电磁耦合或电磁感应，通过各种调制和编码方案，与射频标签交互通讯唯一读取射频标签身份的技术。[GB/T29261.3‒2012，定义05.01.01]3.2射频识别标签RFIDtag用于物体或物品标识，具有信息存储机制的，能接收读写器的电磁场调制信号并返回响应信号的数据载体。2[SB/T10530‒2009定义3.1]3.3识别距离readdistance在规定的条件下，读写器能够有效识别射频标签时读写器天线几何中心和射频标签（群）几何中心质检的最大间距。[GB/T29261.3-2012，定义05.02.48]3.4最小激活功率minimumactivationpower射频识别标签从读写器到射频识别标签的通信信道接收信号从而产生应答的最低功率值。4测试环境4.1场地在840MHz至845MHz和920MHz至925MHz频率范围内，场地符合以下要求：a)归一化场地衰减：符合CISPR16-1-4要求；b)屏蔽效能：符合GB/T12190要求；c)场均匀性：符合IEC61000-4-3要求；d)场地电压驻波比：符合CISPR16-1-4要求；e)背景噪声：符合GB9254要求。4.2温度测试环境温度应在15℃至35℃。4.3相对湿度测试环境相对湿度应在25%至75%。5测试设备5.1矢量网络分析仪a)频率范围：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz，频率精度10-6；b)温度稳定性：0.01dB/℃c)激励功率范围：-55dBm至10dBm。d)必须经过计量检定，并在检定有效期内。5.2环形器a)频率范围：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz；b)插入损耗≤0.3dB；c)隔离度≥23dB；d)驻波比≤1.2。5.3读写器a)频率范围：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz，频率可调，可定频；b)输出功率：外部电源供电情况下，10.0dBm至32.5dBm可调；c)控制程序：可显示标签是否读取。5.4天线5.4.1校准天线a)频率范围：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz；b)符合GB/T6113-105要求；c)天线频道和方向的增益经过具有资质的单位进行计量标称。5.4.2测试天线a)频率范围：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz；b)符合GB/T6113-105要求。6测试布置图标签最小激活功率测试应按图1布置进行测试。a）场损测试布置图b）最小激活功率测试布置图注：测试过程中，a）与b）中测试天线位置不改变，a）中标准天线图1测试布置图7测试步骤标签最小激活功率测试在840MHz至845MHz和920MHz至925MHz下测试步骤为：4a)选择标签测试频率、天线增益和测试距离；b)通过矢量网络分析仪及标准天线标定测试天线和路径损耗，记录总的损耗值L；c)设置读写器发射功率及功率调整步长；d)使用测试天线进行对标签进行读操作，若读取标签，则按照基准读写器设置步长降低基准读写器发射功率，直至可以读取标签的临界状态，记录此时基准读写器的发射功率P。若未能读取标签，则按照基准读写器设置步长提高基准读写器发射功率，直至可以读取标签的临界状态，记录此时基准读写器的发射功率P；e)步骤f中记录的P减掉步骤d中L，得到设置频率下标签的最小激活功率；