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文档简介

马赫泽德干涉仪马赫泽德十涉仪是一种大型的光学仪器,适用于研究气体密度迅速变化的状态,如在风洞中实验飞机模型时产生的空气涡流和爆炸过程中的冲击波。由于气体折射率的变化与其密度的变化成正比,而折射率的变化将使通过气体的光线有不同的光程,因此,如果让一个平面波和一个通过气体的波发生干涉来获得等候干涉,这些条纹能反映出气体折射率和密度的分布状况。马赫泽德干涉仪如下图所示,G1G2是两块有半反射面A1A2的平行平面玻璃板,M1M2是两块反射镜四个反射面通常平行放置,并且各自中心位于一个平行四边形的四个角上,典型尺寸是1〜2m。光源S置于透镜L1的焦点上,S发出的光束经L1准直后在A1上分为两束,他们分别由M1、A2反射和M2反射、A2透射,进入透镜L2。两束光的干涉图样可用于置于12焦平面位置的照相机拍摄下来,如果采用短时间曝光技术,即可得到条纹的瞬间照相。

未了解仪器所产生的干涉条纹性质,假设光源S是一个单色点光源,因而入射到半反射面A1的是单色平面波。设透过A1并经M1反射的平面波的波前为W1.,而经A1和M2反射的平面波的相应波前为W2;引入虚波前W1’,它是W1在半反射A2中的虚像。一般情况下,W1’和W2是互相倾斜的,形成一个空气楔,因此,在W2上将形成平行等距的直线条纹,条纹的走向与W2和W1’所形成的空气楔的楔楞平行。如果使W2通过被研究的气流,W2将发生形变,因而干涉图样的变化就可以测量出所研究区域的折射率或密度的变化。因为通常气体密度是迅变的,用照相机记录气体密度的变化情况,必须采用短时间的曝光,这样就要求干涉条纹有很大的亮度,所以,通常在实用上都利用扩展光源。这时条

纹是定域的,定域面可根据干涉孔径3=0的作图法求出。易见,当4个反射面严格平行时,条纹定域在无穷远处,即在L2的焦平面上;而当M2和G2同时绕自身垂直轴转动时,条纹定域于M2和G2之间,如下图。旦拙-陟徨V涉杖甲的弱纹定城I旦拙-陟徨V涉杖甲的弱纹定城I类不炊域iZ掇干涉仪定域位置可任意调节的这一特点,使得这种干涉仪能够用来研究尺寸较大的风洞中任一平面附近的空气涡流。工作时将风洞置于M2和G2之间,并在M1和G1之间的另一支光路上放置补偿室,把定域面调节到风洞风洞中任一选定平面,通过透镜L2和照相机可以把该平面上

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