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文档简介
GB11321-89,波导元件模数尺寸选择指南
GB11449.1-89,波导法兰盘第1部分:一般要求
GB11449.2-89,波导法兰盘第2部分:普通扁矩形波导法兰盘规范
GB11449.3-89,波导法兰盘第3部分:扁矩形波导法兰盘规范
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GB9531.1-88,电子陶瓷零件技术条件
GB9531.2-88,A类瓷件技术条件
GB9531.3-88,B类瓷件技术条件
GB9531.4-88,C类瓷件技术条件
GB9531.5-88,D类瓷件技术条件
GB9531.6-88,E类瓷件技术条件
GB9531.7-88,F类瓷件技术条件
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GB10304.1-88,阴极碳酸盐分析方法通则
GB10304.2-88,阴极碳酸盐中碳酸钡含量的测定重铬酸钾碘量滴定法
GB10304.3-88,阴极碳酸盐中碳酸钙含量的络合滴定测定
GB10304.4-88,阴极碳酸盐中碳酸钙、碳酸锶的原子吸收分光光度测定
GB10304.5-88,阴极碳酸盐中碳酸硝酸根的测定
GB10304.6-88,阴极碳酸盐中钠的原子吸收分光光度测定
GB10304.7-88,阴极碳酸盐中盐酸不溶物的测定
GB10304.8-88,阴极碳酸盐中铁的测定
GB10304.9-88,阴极碳酸盐中氯根的测定
GB10304.10-88,阴极碳酸盐中硫酸根的测定
GB10304.11-88,阴极碳酸盐中重金属(以Pb计)的测定
GB10304.12-88,阴极碳酸盐烧失重的测定
GB10305-88,阴极碳酸盐粒度分布的测定离心沉降法
GB10306-88,阴极碳酸盐
GB10307-88,阴极碳酸盐牌号命名方法
GB/T2775-93,手控电子元件的轴端尺寸
GB/T7435-94,控制微电机基本技术要求
GB/T14128-93,掺钕钇铝石榴石激光棒尺寸系列
GB/T14182-93,变像管和像增强管总规范
GB/T14183-93,变像管和像增强管空白详细规范
GB/T14280-93,热时间延迟开关总规范
GB/T14281-93,恒温开关总规范
GB/T14313-93,精密硬同轴线及其精密连接器总规范
GB/T14394-93,计算机软件可靠性和可维护性管理
GB/T14515-93,有贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件
GB/T14516-93,无贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件
GB/T14557-93,射频同轴连接器电气试验和测量程序反射系数
GB/T14860-93,通信和电子设备用变压器和电感器总规范
GB/T14863-93,用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T14864-93,实芯聚乙烯绝缘射频电缆
GB/T14865-93,SMB型射频同轴连接器
GB/T15888-1995,UHF型射频同轴连接器
GB/T15020-94,电子设备用石英晶体元件空白详细规范电阻焊石英晶体元件评定水平E
GB/T14120-93,单孔轴套安装、轴控电子元件的安装尺寸
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GB/T6428-1995,氢闸流管测试方法
GB/T14110-93,闸流管与充气整流管总规范
GB/T14111-93,闸流管与充气整流管空白详细规范
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GB/T14915-94,电子数据交换术语
GB/T14078-93,氦氖激光器技术条件
GB/T14815.1-93,信息处理图片编码表示第一部分:在七位或八位环境中图片表示的编码原则
GB/T15156-94,压电陶瓷换能元件总规范
GB/T15183-94,按能力批准评定质量的电子设备用电源变压器分规范
GB/T15217-94,同轴电缆屏蔽衰减测量方法(吸收钳法)
GB/T15285-94,漏泄同轴电缆分规范
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GB/T15286-94,端接件总规范
GB/T15288-94,抑制射频干扰整件滤波器第二部分:分规范试验方法和选择和一般要求
GB/T15290-94,电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件
GB/T15297-94,微电路模块机械和气候试验方法
GB/T15426-1995,收讯放大电子管空白详细规范
GB/T15430-1995,红外探测器环境试验方法
GB/T15462-1995,电子设备用机电开关第3-1部分:成列直插封装式开关空白详细规范
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GB/T2658-1995,小型交流风机通用技术条件
GB/T3788-1995,真空电容器通用技术条件
GB/T4793.1-1995,测量、控制和试验室用电气设备和安全要求第1部分:通用要求
GB4943-1995,信息技术设备(包括电气事务设备)的安全
GB/T4475-1995,敏感元器件术语
GB/T15648-1995,辉光放电显示管测试方法
GB/T4937-1995,半导体器件机械和气候试验方法
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GB/T9536-1995,电子设备用机电开关第1部分:总规范
GB/T15461-1995,电子设备用机电开关第3部分:成列直插封装式开关分规范
GB/T15298-94,电子设备用电位器第一部分:总规范
GB/T15652-1995,金属氧化物半导体气敏元件总规范
GB/T15653-1995,金属氧化物半导体气敏元件测试方法
GB/T15768-1995,电容式湿敏元件与湿度传感器总规范
GB/T15176-94,插入式电子元器件用插座及其附件总规范
GB/T15301-94,气体激光器总规范
GB/T15287-94,抑制射频干扰整件滤波器第一部分:总规范
GB/T15886-1995,C型射频同轴连接器
GB/T15887-1995,SMC型射频同轴连接器
GB/T15889-1995,SSMA型射频同轴连接器
GB/T15890-1995,SSMB型射频同轴连接
GB/T15891-1995,射频电缆第4部分:超屏蔽电缆规范第一篇:一般要求和试验方法
GB/T15647-1995,稳态可用性验证试验方法
GB/T15655-1995,超扭曲向列型液晶显示器件分规范
GB/T15656-1995,超扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范
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GB/T2987-1996,电子管参数符号
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GB/T3187-94,可靠性、维修性术语
GB/T2691-94,电阻器和电容器的标志代码
GB/T4597-1996,电子管词汇
GB/T4619-1996,液晶显示器件测试方法
GB/T5080.6-1996,设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验
GB/T5095.1-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第1部分:总则
GB/T5095.2-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
GB/T5095.3-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第3部分:载流容量试验
GB/T5095.4-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验
GB/T5095.5-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
GB/T5095.6-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和锡焊试验
GB/T5095.7-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第7部分:机械操作试验和密封性试验
GB/T5095.8-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验
GB/T5095.9-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分:杂项试验
GB/T5095.11-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分:气候试验
GB/T5095.12-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第12部分:锡焊试验第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
GB/T5095.15-1997,电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第15部分:接触件和引出端的机械试验第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性
GB/T6113.2-1998,无线电骚扰和抗扰度测量方法
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GB/T7346-1998,控制电机基本外形结构型式
GB/T8554-1998,电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
GB8977-88,调频、电视广播接收机用300Ω/75Ω平衡-不平衡阻抗变换器
GB8898-1997,电网电源供电的家用和类似一般用途的电子及有关设备的安全要求
GB8898-2001,音频、视频及类似电子设备安全要求
GB9254-1998,信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法
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GB/T11114-89,人造石英晶体位错的X射线形貌检测方法
GB/T11313-1996,射频连接器第1部分:总规范一般要求和试验方法
GB/T11322.1-1997,射频电缆第0部分:详细规范设计指南第一篇同轴电缆
GB/T11452-89,助听器标准的指南
GB/T11453-89,模拟实际工作条件下的助听器性能测量方法
GB/T11454-89,助听器用音频感应回路的磁场强度
GB/T11455-89,不完全佩戴在听者身上的助听设备
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GB/T12273-1996,石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范
GB/T12507.2-1997,光纤光缆连接器第2部分:F-SMA型光纤光缆连接器分规范
GB/T12864-1997,电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系规范第2部分:分规范鉴定批准
GB/T12865-1997,电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系规范第2部分:分规范鉴定批准第一篇:空白详细规范评定水平E
GB/T13265.1-1997,纤维光学隔离器第1部分:总规范
GB/T13265.2-1997,纤维光学隔离器第1-1部分:空白详细规范
GB/T13419-1998,电子设备用机电开关第6部分:微动开关分规范
GB/T13420-1998,电子设备用机电开关第6部分:微动开关分规范第1篇:空白详细规范
GB/T13823.18-199,振动与冲击传感器的校准方法互易法校准
GB/T14006.2-1997,通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第2部分:采用YEx-2系列铁心片印制板安装式变压器和电感器
GB/T14006.3-1997,通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第3部分:使用YUI-1系列铁心片的变压器和电感器
GB/T14598.11-1997,电气继电器第19部分:分规范有质量评定的有或无机电继电器
GB/T14598.12-1997,电气继电器第19部分:空白详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验一览表1,2和3
GB/T15184-94,按能力批准评定质量的电子设备用开关电源变压器分规范
GB/T15295-94,电缆分配系统用混合集成电路高频宽带放大器系列和品种
GB/T17173.3-1997,信息技术开放系统互连分布式事务处理第3部分:协议规范
GB/T17190-1997,电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范鉴定批准
GB/T17209-1998,电子设备用机电开关第2部分:旋转开关分规范
GB/T17210-1998,电子设备用机电开关第2部分:旋转开关分规范第一篇空白详细规范
GB/T17444-1998,红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
GB/T17539-1998,电子数据交换标准化应用指南
GB/T17562.1-1998,频率低于3MHz的矩形连接器第1部分:总规范一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则
GB/T17570-1998,光纤熔接机通用规范
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GB/T17618-1998,信息技术设备抗扰度限值和测量方法
GB/T17619-1998,机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法
GB/T17624.1-1998,电磁兼容综述电磁兼容基本术语和定义的应用与解释
GB17625.1-2003,电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
GB/T17626.1-1998,电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论
GB/T17626.2-1998,电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
GB/T17626.3-1998,电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T17626.4-1998,电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
GB/T17626.6-1998,电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度
GB/T17626.7-1998,电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则
GB/T17626.8-1998,电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验
GB/T17626.9-1998,电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验
GB/T17626.10-1998,电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验
GB/T17626.12-1998电磁兼容试验和测量技术振荡波,电磁兼容试验和测量技术振荡波
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GB4314-84,吸气剂名词术语
GB4965-85,吸气剂分类及型号命名方法
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GB5594.1-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法
GB5594.2-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法
GB5594.3-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法
GB5594.4-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法
GB5594.5-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
GB5594.6-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方法
GB5594.7-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法透液性测定方法
GB5594.8-85,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定
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GB5597-85,固体电介质微波复介电常数的测试方法
GB5598-85,氧化铍瓷导热系数测定方法
GB5838-86,荧光粉名词术语
GB6452-86,吸气用锆铝合金粉
GB6453-86,吸气用锆铝合金复合带材
GB6454-86,吸气用锆铝合金环件和片件
GB6455-86,释汞吸气用复合带材
GB6625-86,掺氮吸气剂含氮量测试方法
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GB6626.1-86,释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂释汞特性的测试方法
GB6626.2-86,释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂含汞量的测试方法
GB6626.3-86,释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂放气量的测试方法
GB6626.4-86,释汞吸气剂性能测试方法释汞吸气剂压粉牢固度的检测方法
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GB7265.1-87,固体电介质微波复介电常数的测试方法微扰法
GB7265.2-87,固体电介质微波复介电常数的测试方法“开式腔”法
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GB9489.1-88,刚玉粉分析方法通则
GB9489.2-88,刚玉粉中氧化钙、氧化镁、二氧化硅、三氧化二铁、二氧化钛的电感耦合高频等离子体发射光谱法测定
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GB9489.3-88,刚玉粉中三氧化二铁、氧化钙、氧化镁、氧化钠、氧化钾的质子吸收分光光度测定法
GB9489.4-88,刚玉粉中三氧化二铝的络合滴定--氟化物释放测定法
GB9489.5-88,刚玉粉中二氧化硅的比色测定法
GB9489.6-88,刚玉粉中二氧化钛的比色测定法
GB9489.7-88,刚玉粉中氯根的目视比烛测定法
GB9489.8-88,刚玉粉中碳和硫的测定方法
GB9489.9-88,刚玉粉pH值的测定方法
GB9489.10-88,刚玉粉灼烧失重的测定方法
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GB9506.1-88,吸气剂性能测试方法通则
GB9506.2-88,蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法
GB9506.3-88,蒸散型钡吸气剂载料和膜中钡量的测定
GB9506.4-88,吸气剂放气量测试方法
GB9506.5-88,掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法
GB9506.6-88,掺氮吸气剂钡膜分布测试方法
GB9506.7-88,非蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法
GB9506.8-88,非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法
GB9506.9-88,吸气剂装载量测试方法
GB9506.10-88,吸气剂压制或烧结牢固度测试方法
GB9506.11-88,吸气剂支架焊接强度测试方法
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GB9530-88,电子陶瓷名词术语
GB9533-88,微波固体电介质材料介电特性测试方法同轴终端短路法
GB9534-88,毫米波频段固体电介质材料介电特性测试方法
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GB10320-1995,激光设备和设施的电气安全
GB11153-89,激光小功率计性能检测方法
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GB11250.1-89,复合金属覆层厚度的测定——金相法
GB11250.2-89,复合金属覆层厚度的测定——X荧光法
GB11250.3-89,复合金属覆层厚度的测定——容量法
GB11250.4-89,复合金属覆层厚度的测定——重量法
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GB11449.4-89,波导法兰盘第4部分:圆形波导法兰盘规范
GB11449.5-89,波导法兰盘第6部分:中等扁矩形波导法兰盘规范
GB11449.6-89,波导法兰盘第7部分:方形波导法兰盘规范
GB11450.1-89,空心金属波导第1部分:一般要求和测量方法
GB11450.2-89,空心金属波导第2部分:普通矩形波导有关规定
GB11450.3-89,空心金属波导第3部分:扁矩形波导有关规定
GB11450.4-89,空心金属波导第4部分:圆形波导有关规定
GB11450.5-89,空心金属波导第6部分:中等扁矩波导有关规范
GB11450.6-89,空心金属波导第7部分:方形波导有关规
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