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文档简介
硅片材料特性对电池综合性能的影响向巍黄宗明电池基地晶澳太阳能纲要太阳能晶硅电池工艺简介硅片材料特性对电池外观质量的影响硅片材料特性对电池电性能的影响30七月20232晶澳太阳能VI应用培训太阳能电池的结构原料片成品片剖面图成品片正面背面太阳能电池由硅片基底、正面结构、背面结构组成;其中硅片特性是影响电池综合性能的主要因素之一。30七月20233晶澳太阳能制绒工序功能去除表面油污和切割损伤层增大光接收面积降低反射率,增加太阳光的吸收比例单晶绒面SEM图片化学用品多晶:HNO3+HF单晶:NaOH+酒精(或IPA)多晶绒面SEM图片30七月20234晶澳太阳能扩散工序在P型衬底的硅片上,在高温下形成表面磷掺杂,从而得到太阳能电池的关键部分---PN结。目前一般采用POCl3作为磷源,在卧式炉管中扩散。P
type:硼掺杂N
type:磷掺杂30七月20235晶澳太阳能PECVD镀膜工序在硅片表面沉积一层氮化硅减反射膜,以增加入射在硅片上的光的透射,减少反射。板式PECVD机台管式PECVD机台n0n2r1r212δ130七月20236晶澳太阳能丝网印刷工序印刷分为三部分电极印刷电池片烧结电池片检测电池片正面电池片反面正面电极:银浆背电场:铝浆背电极:银铝浆30七月20237晶澳太阳能序号硅片缺陷定义1外观缺口贯穿硅片的局部缺损,不允许崩边指硅片边缘或表面未贯穿晶片的局部缺损区域,大小需小于0.2mm*0.5mm,最多允许2个23裂纹硅片裂开缺陷,不允许4线痕线切过程中产生的明显可见的加工线缺陷,高度需小于15um6小亮边硅片侧面连续性微小崩边,多由粘胶面缺陷造成,长度需小于硅片边长的1/2,宽度需小于片厚的1/37表面脏污硅片的表面或侧面沾有硅胶或油污等杂物,影响硅片外观和制绒效果的缺陷,不允许8尺寸厚度硅片中心厚度,需符合到货规格要求9TTV硅片最厚点和最薄点之差(5点),需小于25um10边长硅片边长,需符合156±0.4mm11对角线硅片对角线长度,需符合219.2±0.5mm12电性能碳氧含量硅片碳、氧元素含量,碳含量需符合≤0.9×10E17atoms/cm3要求氧含量需符合≤0.9×10E18atoms/cm3要求13少子寿命硅片钝化后少子寿命,需符合≥30μs要求14电阻率硅片表面电阻率,需符合0.8-3Ω.cm范围要求硅片质量参数监控简介30七月20238晶澳太阳能尺寸测量点位:边长测量方法:如图测量4条边的边长。TTV测量方法:测如图中5个点的厚度,5点中最大值与最小值的差为该硅片的TTV。对角线测量方法:测量如图所示的两条对角线长度。厚度的测量方法:测量如图所示的硅片中心点的厚度即是该硅片的厚度。质量参数监控方式简介30七月20239晶澳太阳能预清洗制绒制绒后清洗硅片装卸蓝扩散边缘PN结刻蚀硅片周转及PSG清洗
SiN镀膜丝网印刷烧结测试分档包装扩散装卸舟硅片周转硅片制绒:由于制绒过程是化学腐蚀和物理传动过程,若硅片表面存在缺陷,会导致制程碎片率升高。
硅片周转:由于硅片表面缺陷导致其表面承受应力降低,在硅片周转过程中会造成碎片率上升,硅片表面缺陷扩大。硅片刻蚀:由于刻蚀过程是化学清洗和物理传动过程,若硅片表面存在缺陷,会导致制程碎片率升高。电池片印刷:由于硅片凸起或凹陷的线痕影响,会使栅线印刷效果降低,产生客户不可接受的外观缺陷(结点,栅线粗细不均)。电池片各生产制程中,有4类步骤均会对硅片表面缺陷产生扩大化影响,分别为:1.硅片制绒;2.硅片刻蚀;3.硅片印刷;4.电池片加工过程周转。外观监控项与电池片生产相关性介绍30七月202310晶澳太阳能崩边:指硅片边缘或表面未贯穿晶片的局部缺损区域,当崩边在硅片边缘产生时,其尺寸由径向深度和周边弦长给出;崩边经过制绒、刻蚀等一系列电池制作工艺后容易恶化,造成高比例的电池片崩边、缺口及碎片。硅片崩边电池片崩边电池片缺口电池片碎片硅片缺陷与电池片相关性图例30七月202311晶澳太阳能缺口:贯穿硅片的局部缺损,按开口角度是否小于90°分为V型缺口和钝形缺口;缺口经过制绒等一系列电池制作工艺后容易恶化,造成高比例的电池片缺口及碎片。硅片缺口电池片缺口电池片碎片硅片缺陷与电池片相关性图例30七月202312晶澳太阳能线痕:线切过程中产生的明显可见的加工线缺陷;硅片线痕会造成电池片印刷不良,包括结点和粗细不均,同时由于丝网印刷的特殊性,一片线痕会连续影响下面3~4片硅片印刷品质。硅片线痕电池片线痕电池缺陷局部图结点细栅线粗细不均硅片缺陷与电池片相关性图例30七月202313晶澳太阳能规则性线痕:采用双向线切割方式产生的明显可见规则性线痕;硅片规则性线痕会造成电池片水波纹,影响外观品质。硅片规则性线痕电池片水波纹硅片缺陷与电池片相关性图例30七月202314晶澳太阳能表面脏污:硅片的表面或侧面沾有硅胶或油污等杂物,影响硅片外观和制绒效果的缺陷;镀膜后表面脏污电池片脏污硅片表面脏污硅片的表面污染,会造成硅片外观和制绒效果的缺陷,影响电池片外观品质;甚至会对扩散造成交叉污染,带来不稳定因素。硅片缺陷与电池片相关性图例30七月202315晶澳太阳能硅片粘胶面缺陷:硅片粘胶面一连串的小亮边,缺陷很小,与崩边相近;硅片粘胶面一连串的小亮边,缺陷很小,与崩边及其相近,但经过制绒等相关工艺后,缺陷容易恶化,造成电池片崩边、缺口及碎片,影响外观品质。硅片粘胶面缺陷电池片边缘缺陷硅片缺陷与电池片相关性图例30七月202316晶澳太阳能Eta:转换效率Uoc:开路电压Isc:短路电流FF:填充因子Rsh:并联电阻Irev2:反向电流2(-12V)电池主要电性能介绍30七月202317晶澳太阳能硅片材料特性30七月202318晶澳太阳能厚度理想情况下,Isc随着厚度的增加而增加。基体对光的吸收增加,尤其是长波段的光。Si在标准的制程下,当片厚小于200μm时,mc-Si太阳电池的主要性能参数开始减少。在降低硅片厚度以减少光伏成本时,要使用有效的表面钝化方法来减少表面复合与提高基区质量。随着硅片薄化的趋势,硅片厚度除了对电池良率会产生负面影响,逐渐会对效率产生负面影响。[1][1]马丁·格林.太阳能电池工作原理、技术和系统应用[M].上海交通大学出版社,2010.﹡InternationalTechnologyRoadmapforPhotovoltaics30七月202319晶澳太阳能电阻率工艺条件片源电阻率少子寿命ISCVOCFFETA低方阻同一厂家1.8416.901.05381.04001.01301.05441.4012.401.03881.04171.01571.0438高方阻同一厂家2.0863.551.05631.04171.01031.05631.6033.791.05251.04331.01841.0625高方阻不同厂家2.2753.151.05251.04331.01691.06001.6145.971.04881.04831.01911.0644当电阻率较高时,其电流较高,但电压及填充相对较低;反之亦然。电阻率对效率的影响较大,并且硅片电阻率-电池工艺有一定的匹配性。[2][2]屈莹.不同电阻率太阳能电池制作工艺探索及电性能研究[C].第十一届中国光伏大会暨展览会会议论文集.2010.30七月202320晶澳太阳能电阻率标称功率浆料衰减类别衰减率1.404高档位-LID-1.80%低档位-LID-1.75%1.848高档位-LID-1.29%低档位-LID-1.71%衰减(LID)电阻率通常电阻率与电池LID呈反比关系。[2]30七月202321晶澳太阳能少子寿命少子寿命是用于表征材料的重金属沾污及体缺陷的重要参数,少子寿命值越大,相应的材料质量越好。由于多晶硅片内部杂质和缺陷的不均匀性,其少子寿命分布也具有很大的不均匀性,而最终决定所做电池效率的是硅片少子寿命最小值。少子寿命UocIscIRev2RseRshFFEta5.051.02771.03851.05061.08851.62771.00821.02138.091.02231.03311.14501.05801.05651.01061.013117.11.03371.04621.14811.02051.33431.01041.036933.851.03231.04331.63691.01601.11681.01361.036345.461.03501.04581.53441.01851.13481.01321.0413通常硅片少子寿命和电池效率呈正比关系。[3][3]张光春.尚德电力控股有限公司.硅片质量对太阳能电池性能的影响[C].﹡InternationalTechnologyRoadmapforPhotovoltaics30七月202322晶澳太阳能C,O含量氧杂质的原生热施主和原生氧沉淀影响太阳电池效率氧与硼原子作用,形成B-O复合体,会在光照下进一步降低太阳电池效率。碳杂质参与了氧沉淀或新施主的生成。SiC颗粒(柱状)硅片中碳、氧含量需要被监控,并控制在合适的规格内。[4][4]杨德仁.杂质对太阳电池材料的影响.[C].第四届太阳硅材料会议,2008.[3]30七月202323晶澳太阳能铁在硅中的存在形态:间隙态铁铁沉淀铁的复合物金属杂质金属杂质及其沉淀或复合体都是少数载流子主要的复合中心金属杂质特别是过渡金属杂质对电池效率负面影响较大。[1]30七月202324晶澳太阳能间隙态铁分布金属杂质[5][5]邓海,杨德仁等,铸造多晶硅中杂质对少子寿命的影响[J].太阳能学报,2007.Vol.28.30七月202325晶澳太阳能沉淀铁絮状黑色区域为沉淀铁的位错或晶界,其很难通过吸杂去除金属杂质[6][6]BuonassisiTetal,NatureMaterials[J],2005,4(9),67630七月202326晶澳太阳能位错铸造多晶硅中的位错与热应力密切相关。铸造多晶硅中热应力的产生和分布是很复杂的,受多种因素影响,如升温速度、降温速度、热场分布等。但是一般来说,从晶锭底部到晶锭上部,位错密度呈“W”,即硅锭底部、中部和上部的位错密度相对较高.位错具有高密度的悬挂键,可以直接作为复合中心,导致少子寿命降低,从而降低电池效率。[7][7]杨德仁.浙江大学硅材料国家重点实验室.铸造多晶硅的缺陷[C].
30七月202327晶澳太阳能EBIC_100K晶粒大小:>1-10mm晶界垂直于表面没有污染的晶界铸造多晶硅的晶体生长过程中,首先形成很多的形核中心,而后晶体在形核中心上形核并生长。这样在凝固后,晶体是由许多晶向不同、尺寸不一的晶粒组成的,晶粒的尺寸一般在1~10mm左右。在晶粒的相交处,硅原子有规则、周期性的重复排列被打断,存在着晶界。晶界晶界处出现大量的悬桂键,形成界面态,复合严重从而降低电池效率。[7]30七月202328晶澳太阳能边料中间料晶澳太阳能电阻率变化规律[8][8]刘振淮.铸锭多晶硅晶体质量的演变规律[C].第七届中国太阳级硅及光伏发电研讨会.201130七月202329晶澳太阳能晶锭位置与少子寿命[8]30七月202330晶澳太阳能电池效率与硅片位置关系通过对完整晶棒的统计分析表明,轴向的电池效率分布有一定规律。[8]﹡InternationalTechnologyRoadmapforPhotovoltaics30七月202331MagneticResonanceImaging磁共振成像发生事件作者或公司磁共振发展史1946发现磁共振现象BlochPurcell1971发现肿瘤的T1、T2时间长Damadian1973做出两个充水试管MR图像Lauterbur1974活鼠的MR图像Lauterbur等1976人体胸部的MR图像Damadian1977初期的全身MR图像
Mallard1980磁共振装置商品化1989
0.15T永磁商用磁共振设备中国安科
2003诺贝尔奖金LauterburMansfierd时间MR成像基本原理实现人体磁共振成像的条件:人体内氢原子核是人体内最多的物质。最易受外加磁场的影响而发生磁共振现象(没有核辐射)有一个稳定的静磁场(磁体)梯度场和射频场:前者用于空间编码和选层,后者施加特定频率的射频脉冲,使之形成磁共振现象信号接收装置:各种线圈计算机系统:完成信号采集、传输、图像重建、后处理等
人体内的H核子可看作是自旋状态下的小星球。自然状态下,H核进动杂乱无章,磁性相互抵消zMyx进入静磁场后,H核磁矩发生规律性排列(正负方向),正负方向的磁矢量相互抵消后,少数正向排列(低能态)的H核合成总磁化矢量M,即为MR信号基础ZZYYXB0XMZMXYA:施加90度RF脉冲前的磁化矢量MzB:施加90度RF脉冲后的磁化矢量Mxy.并以Larmor频率横向施进C:90度脉冲对磁化矢量的作用。即M以螺旋运动的形式倾倒到横向平面ABC在这一过程中,产生能量
三、弛豫(Relaxation)回复“自由”的过程
1.
纵向弛豫(T1弛豫):
M0(MZ)的恢复,“量变”高能态1H→低能态1H自旋—晶格弛豫、热弛豫
吸收RF光子能量(共振)低能态1H高能态1H
放出能量(光子,MRS)T1弛豫时间:
MZ恢复到M0的2/3所需的时间
T1愈小、M0恢复愈快T2弛豫时间:MXY丧失2/3所需的时间;T2愈大、同相位时间长MXY持续时间愈长MXY与ST1加权成像、T2加权成像
所谓的加权就是“突出”的意思
T1加权成像(T1WI)----突出组织T1弛豫(纵向弛豫)差别
T2加权成像(T2WI)----突出组织T2弛豫(横向弛豫)差别。
磁共振诊断基于此两种标准图像磁共振常规h检查必扫这两种标准图像.T1的长度在数百至数千毫秒(ms)范围T2值的长度在数十至数千毫秒(ms)范围
在同一个驰豫过程中,T2比T1短得多
如何观看MR图像:首先我们要分清图像上的各种标示。分清扫描序列、扫描部位、扫描层面。正常或异常的所在部位---即在同一层面观察、分析T1、T2加权像上信号改变。绝大部分病变T1WI是低信号、T2WI是高信号改变。只要熟悉扫描部位正常组织结构的信号表现,通常病变与正常组织不会混淆。一般的规律是T1WI看解剖,T2WI看病变。磁共振成像技术--图像空间分辨力,对比分辨力一、如何确定MRI的来源(一)层面的选择1.MXY产生(1H共振)条件
RF=ω=γB02.梯度磁场Z(GZ)
GZ→B0→ω
不同频率的RF
特定层面1H激励、共振
3.层厚的影响因素
RF的带宽↓
GZ的强度↑层厚↓〈二〉体素信号的确定1、频率编码2、相位编码
M0↑--GZ、RF→相应层面MXY----------GY→沿Y方向1H有不同ω
各1H同相位MXY旋进速度不同同频率一定时间后→→GX→沿X方向1H有不同ω沿Y方向不同1H的MXYMXY旋进频率不同位置不同(相位不同)〈三〉空间定位及傅立叶转换
GZ----某一层面产生MXYGX----MXY旋进频率不同
GY----MXY旋进相位不同(不影响MXY大小)
↓某一层面不同的体素,有不同频率、相位
MRS(FID)第三节、磁共振检查技术检查技术产生图像的序列名产生图像的脉冲序列技术名TRA、COR、SAGT1WT2WSETR、TE…….梯度回波FFE快速自旋回波FSE压脂压水MRA短TR短TE--T1W长TR长TE--T2W增强MR最常用的技术是:多层、多回波的SE(spinecho,自旋回波)技术磁共振扫描时间参数:TR、TE磁共振扫描还有许多其他参数:层厚、层距、层数、矩阵等序列常规序列自旋回波(SE),快速自旋回波(FSE)梯度回波(FE)反转恢复(IR),脂肪抑制(STIR)、水抑制(FLAIR)高级序列水成像(MRCP,MRU,MRM)血管造影(MRA,TOF2D/3D)三维成像(SPGR)弥散成像(DWI)关节运动分析是一种成像技术而非扫描序列自旋回波(SE)必扫序列图像清晰显示解剖结构目前只用于T1加权像快速自旋回波(FSE)必扫序列成像速度快多用于T2加权像梯度回波(GE)成像速度快对出血敏感T2加权像水抑制反转恢复(IR)水抑制(FLAIR)抑制自由水梗塞灶显示清晰判断病灶成份脂肪抑制反转恢复(IR)脂肪抑制(STIR)抑制脂肪信号判断病灶成分其它组织显示更清晰血管造影(MRA)无需造影剂TOF法PC法MIP投影动静脉分开显示水成像(MRCP,MRU,MRM)含水管道系统成像胆道MRCP泌尿路MRU椎管MRM主要用于诊断梗阻扩张超高空间分辨率扫描任意方位重建窄间距重建技术大大提高对小器官、小病灶的诊断能力三维梯度回波(SPGR) 早期诊断脑梗塞
弥散成像MRI的设备一、信号的产生、探测接受1.磁体(Magnet):静磁场B0(Tesla,T)→组织净磁矩M0
永磁型(permanentmagnet)常导型(resistivemagnet)超导型(superconductingmagnet)磁体屏蔽(magnetshielding)2.梯度线圈(gradientcoil):
形成X、Y、Z轴的磁场梯度功率、切换率3.射频系统(radio-frequencesystem,RF)
MR信号接收二、信号的处理和图象显示数模转换、计算机,等等;MRI技术的优势1、软组织分辨力强(判断组织特性)2、多方位成像3、流空效应(显示血管)4、无骨骼伪影5、无电离辐射,无碘过敏6、不断有新的成像技术MRI技术的禁忌证和限度1.禁忌证
体内弹片、金属异物各种金属置入:固定假牙、起搏器、血管夹、人造关节、支架等危重病人的生命监护系统、维持系统不能合作病人,早期妊娠,高热及散热障碍2.其他钙化显示相对较差空间分辨较差(体部,较同等CT)费用昂贵多数MR机检查时间较长1.病人必须去除一切金属物品,最好更衣,以免金属物被吸入磁体而影响磁场均匀度,甚或伤及病人。2.扫描过程中病人身体(皮肤)不要直接触碰磁体内壁及各种导线,防止病人灼伤。3.纹身(纹眉)、化妆品、染发等应事先去掉,因其可能会引起灼伤。4.病人应带耳塞,以防听力损伤。扫描注意事项颅脑MRI适应症颅内良恶性占位病变脑血管性疾病梗死、出血、动脉瘤、动静脉畸形(AVM)等颅脑外伤性疾病脑挫裂伤、外伤性颅内血肿等感染性疾病脑脓肿、化脓性脑膜炎、病毒性脑炎、结核等脱髓鞘性或变性类疾病多发性硬化(MS)等先天性畸形胼胝体发育不良、小脑扁桃体下疝畸形等脊柱和脊髓MRI适应证1.肿瘤性病变椎管类肿瘤(髓内、髓外硬膜内、硬膜外),椎骨肿瘤(转移性、原发性)2.炎症性疾病脊椎结核、骨髓炎、椎间盘感染、硬膜外脓肿、蛛网膜炎、脊髓炎等3.外伤骨折、脱位、椎间盘突出、椎管内血肿、脊髓损伤等4.脊柱退行性变和椎管狭窄症椎间盘变性、膨隆、突出、游离,各种原因椎管狭窄,术后改变,5.脊髓血管畸形和血管瘤6.脊髓脱髓鞘疾病(如MS),脊髓萎缩7.先天性畸形胸部MRI适应证呼吸系统对纵隔及肺门区病变显示良好,对肺部结构显示不如CT。胸廓入口病变及其上下比邻关系纵隔肿瘤和囊肿及其与大血管的关系其他较CT无明显优越性心脏及大血管大血管病变各类动脉瘤、腔静脉血栓等心脏及心包肿瘤,心包其他病变其他(如先心、各种心肌病等)较超声心动图无优势,应用不广腹部MRI适应证主要用于部分实质性器官的肿瘤性病变肝肿瘤性病变,提供鉴别信息胰腺肿瘤,有利小胰癌、胰岛细胞癌显示宫颈、宫体良恶性肿瘤及分期等,先天畸形肿瘤的定位(脏器上下缘附近)、分期胆道、尿路梗阻和肿瘤,MRCP,MRU直肠肿瘤骨与关节MRI适应证X线及CT的后续检查手段--钙质显示差和空间分辨力部分情况可作首选:1.累及骨髓改变的骨病(早期骨缺血性坏死,早期骨髓炎、骨髓肿瘤或侵犯骨髓的肿瘤)2.结构复杂关节的损伤(膝、髋关节)3.形状复杂部位的检查(脊柱、骨盆等)软件登录界面软件扫描界面图像浏览界面胶片打印界面报告界面报告界面2合理应用抗菌药物预防手术部位感染概述外科手术部位感染的2/3发生在切口医疗费用的增加病人满意度下降导致感染、止血和疼痛一直是外科的三大挑战,止血和疼痛目前已较好解决感染仍是外科医生面临的重大问题,处理不当,将产生严重后果外科手术部位感染占院内感染的14%~16%,仅次于呼吸道感染和泌尿道感染,居院内感染第3位严重手术部位的感染——病人的灾难,医生的梦魇
预防手术部位感染(surgicalsiteinfection,SSI)
手术部位感染的40%–60%可以预防围手术期使用抗菌药物的目的外科医生的困惑★围手术期应用抗生素是预防什么感染?★哪些情况需要抗生素预防?★怎样选择抗生素?★什么时候开始用药?★抗生素要用多长时间?定义:指发生在切口或手术深部器官或腔隙的感染分类:切口浅部感染切口深部感染器官/腔隙感染一、SSI定义和分类二、SSI诊断标准——切口浅部感染
指术后30天内发生、仅累及皮肤及皮下组织的感染,并至少具备下述情况之一者:
1.切口浅层有脓性分泌物
2.切口浅层分泌物培养出细菌
3.具有下列症状体征之一:红热,肿胀,疼痛或压痛,因而医师将切口开放者(如培养阴性则不算感染)
4.由外科医师诊断为切口浅部SSI
注意:缝线脓点及戳孔周围感染不列为手术部位感染二、SSI诊断标准——切口深部感染
指术后30天内(如有人工植入物则为术后1年内)发生、累及切口深部筋膜及肌层的感染,并至少具备下述情况之一者:
1.切口深部流出脓液
2.切口深部自行裂开或由医师主动打开,且具备下列症状体征之一:①体温>38℃;②局部疼痛或压痛
3.临床或经手术或病理组织学或影像学诊断,发现切口深部有脓肿
4.外科医师诊断为切口深部感染
注意:感染同时累及切口浅部及深部者,应列为深部感染
二、SSI诊断标准—器官/腔隙感染
指术后30天内(如有人工植入物★则术后1年内)、发生在手术曾涉及部位的器官或腔隙的感染,通过手术打开或其他手术处理,并至少具备以下情况之一者:
1.放置于器官/腔隙的引流管有脓性引流物
2.器官/腔隙的液体或组织培养有致病菌
3.经手术或病理组织学或影像学诊断器官/腔隙有脓肿
4.外科医师诊断为器官/腔隙感染
★人工植入物:指人工心脏瓣膜、人工血管、人工关节等二、SSI诊断标准—器官/腔隙感染
不同种类手术部位的器官/腔隙感染有:
腹部:腹腔内感染(腹膜炎,腹腔脓肿)生殖道:子宫内膜炎、盆腔炎、盆腔脓肿血管:静脉或动脉感染三、SSI的发生率美国1986年~1996年593344例手术中,发生SSI15523次,占2.62%英国1997年~2001年152所医院报告在74734例手术中,发生SSI3151例,占4.22%中国?SSI占院内感染的14~16%,仅次于呼吸道感染和泌尿道感染三、SSI的发生率SSI与部位:非腹部手术为2%~5%腹部手术可高达20%SSI与病人:入住ICU的机会增加60%再次入院的机会是未感染者的5倍SSI与切口类型:清洁伤口 1%~2%清洁有植入物 <5%可染伤口<10%手术类别手术数SSI数感染率(%)小肠手术6466610.2大肠手术7116919.7子宫切除术71271722.4肝、胆管、胰手术1201512.5胆囊切除术8222.4不同种类手术的SSI发生率:三、SSI的发生率手术类别SSI数SSI类别(%)切口浅部切口深部器官/腔隙小肠手术6652.335.412.3大肠手术69158.426.315.3子宫切除术17278.813.57.6骨折开放复位12379.712.28.1不同种类手术的SSI类别:三、SSI的发生率延迟愈合疝内脏膨出脓肿,瘘形成。需要进一步处理这里感染将导致:延迟愈合疝内脏膨出脓肿、瘘形成需进一步处理四、SSI的后果四、SSI的后果在一些重大手术,器官/腔隙感染可占到1/3。SSI病人死亡的77%与感染有关,其中90%是器官/腔隙严重感染
——InfectControlandHospEpidemiol,1999,20(40:247-280SSI的死亡率是未感染者的2倍五、导致SSI的危险因素(1)病人因素:高龄、营养不良、糖尿病、肥胖、吸烟、其他部位有感染灶、已有细菌定植、免疫低下、低氧血症五、导致SSI的危险因素(2)术前因素:术前住院时间过长用剃刀剃毛、剃毛过早手术野卫生状况差(术前未很好沐浴)对有指征者未用抗生素预防五、导致SSI的危险因素(3)手术因素:手术时间长、术中发生明显污染置入人工材料、组织创伤大止血不彻底、局部积血积液存在死腔和/或失活组织留置引流术中低血压、大量输血刷手不彻底、消毒液使用不当器械敷料灭菌不彻底等手术特定时间是指在大量同种手术中处于第75百分位的手术持续时间其因手术种类不同而存在差异超过T越多,SSI机会越大五、导致SSI的危险因素(4)SSI危险指数(美国国家医院感染监测系统制定):病人术前已有≥3种危险因素污染或污秽的手术切口手术持续时间超过该类手术的特定时间(T)
(或一般手术>2h)六、预防SSI干预方法根据指南使用预防性抗菌药物正确脱毛方法缩短术前住院时间维持手术患者的正常体温血糖控制氧疗抗菌素的预防/治疗预防
在污染细菌接触宿主手术部位前给药治疗
在污染细菌接触宿主手术部位后给药
防患于未然六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用102预防和治疗性抗菌素使用目的:清洁手术:防止可能的外源污染可染手术:减少粘膜定植细菌的数量污染手术:清除已经污染宿主的细菌六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用103需植入假体,心脏手术、神外手术、血管外科手术等六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用预防性抗菌素使用指征:可染伤口(Clean-contaminatedwound)污染伤口(Contaminatedwound)清洁伤口(Cleanwound)但存在感染风险六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用外科预防性抗生素的应用:预防性抗生素对哪些病人有用?什么时候开始用药?抗生素种类选择?使用单次还是多次?采用怎样的给药途径?六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用预防性抗菌素显示有效的手术有:妇产科手术胃肠道手术(包括阑尾炎)口咽部手术腹部和肢体血管手术心脏手术骨科假体植入术开颅手术某些“清洁”手术六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用外科预防性抗生素的应用:预防性抗生素对哪些病人有用?什么时候开始用药?抗生素种类选择?使用单次还是多次?采用怎样的给药途径?六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用
理想的给药时间?目前还没有明确的证据表明最佳的给药时机研究显示:切皮前45~75min给药,SSI发生率最低,且不建议在切皮前30min内给药影响给药时间的因素:所选药物的代谢动力学特性手术中污染发生的可能时间病人的循环动力学状态止血带的使用剖宫产细菌在手术伤口接种后的生长动力学
手术过程
012345671hr2hrs6hrs1day3-5days细菌数logCFU/ml六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用109术后给药,细菌在手术伤口接种的生长动力学无改变
手术过程抗生素血肿血浆六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用Antibioticsinclot
手术过程
血浆中抗生素予以抗生素血块中抗生素血浆术前给药,可以有效抑制细菌在手术伤口的生长六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用111ClassenDC,etal..NEnglJMed1992;326:281切开前时间切开后时间予以抗生素切开六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用不同给药时间,手术伤口的感染率不同NEJM1992;326:281-6投药时间感染数(%)相对危险度(95%CI)早期(切皮前2-24h)36914(3.8%)6.7(2.9-14.7)4.3手术前(切皮前45-75min)170810(0.9%)1.0围手术期(切皮后3h内)2824(1.4%)2.4(0.9-7.9) 2.1手术后(切皮3h以上)48816(3.3%)5.8(2.6-12.3)
5.8全部284744(1.5%)似然比病人数六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用结论:抗生素在切皮前45-75min或麻醉诱导开始时给药,预防SSI效果好113六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用切口切开后,局部抗生素分布将受阻必须在切口切开前给药!!!抗菌素应在切皮前45~75min给药六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用外科预防性抗生素的应用:预防性抗生素对哪些病人有用?什么时候开始用药?抗生素种类选择?使用单次还是多次?采用怎样的给药途径?有效安全杀菌剂半衰期长相对窄谱廉价六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用抗生素的选择原则:各类手术最易引起SSI的病原菌及预防用药选择六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用
手术最可能的病原菌预防用药选择胆道手术革兰阴性杆菌,厌氧菌头孢呋辛或头孢哌酮或
(如脆弱类杆菌)头孢曲松阑尾手术革兰阴性杆菌,厌氧菌头孢呋辛或头孢噻肟;
(如脆弱类杆菌)+甲硝唑结、直肠手术革兰阴性杆菌,厌氧菌头孢呋辛或头孢曲松或
(如脆弱类杆菌)头孢噻肟;+甲硝唑泌尿外科手术革兰阴性杆菌头孢呋辛;环丙沙星妇产科手术革兰阴性杆菌,肠球菌头孢呋辛或头孢曲松或
B族链球菌,厌氧菌头孢噻肟;+甲硝唑莫西沙星(可单药应用)注:各种手术切口感染都可能由葡萄球菌引起六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用外科预防性抗生素的应用:预防性抗生素对哪些病人有用?什么时候开始用药?抗生素种类选择?使用单次还是多次?采用怎样的给药途径?六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用单次给药还是多次给药?没有证据显示多次给药比单次给药好伤口关闭后给药没有益处多数指南建议24小时内停药没有必要维持抗菌素治疗直到撤除尿管和引流管手术时间延长或术中出血量较大时可重复给药细菌污染定植感染一次性用药用药24h用药4872h数小时从十数小时到数十小时六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用用药时机不同,用药期限也应不同短时间预防性应用抗生素的优点:六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用减少毒副作用不易产生耐药菌株不易引起微生态紊乱减轻病人负担可以选用单价较高但效果较好的抗生素减少护理工作量药品消耗增加抗菌素相关并发症增加耐药抗菌素种类增加易引起脆弱芽孢杆菌肠炎MRSA(耐甲氧西林金黄色葡萄球菌)定植六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用延长抗菌素使用的缺点:六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用外科预防性抗生素的应用:预防性抗生素对哪些病人有用?什么时候开始用药?抗生素种类选择?使用单次还是多次?采用怎样的给药途径?正确的给药方法:六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用应静脉给药,2030min滴完肌注、口服存在吸收上的个体差异,不能保证血液和组织的药物浓度,不宜采用常用的-内酰胺类抗生素半衰期为12h,若手术超过34h,应给第2个剂量,必要时还可用第3次可能有损伤肠管的手术,术前用抗菌药物准备肠道局部抗生素冲洗创腔或伤口无确切预防效果,不予提倡不应将日常全身性应用的抗生素应用于伤口局部(诱发高耐药)必要时可用新霉素、杆菌肽等抗生素缓释系统(PMMA—青大霉素骨水泥或胶原海绵)局部应用可能有一定益处六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用不提倡局部预防应用抗生素:时机不当时间太长选药不当,缺乏针对性六、预防SSI干预方法
——抗菌药物的应用预防用药易犯的错误:在开刀前45-75min之内投药按最新临床指南选药术后24小时内停药择期手术后一般无须继续使用抗生素大量对比研究证明,手术后继续用药数次或数天并不能降低手术后感染率若病人有明显感染高危因素或使用人工植入物,可再用1次或数次小结预防SSI干预方法
——正确的脱毛方法用脱毛剂、术前即刻备皮可有效减少SSI的发生手术部位脱毛方法与切口感染率的关系:备皮方法 剃毛备皮 5.6%
脱毛0.6%备皮时间 术前24小时前 >20%
术前24小时内 7.1%
术前即刻 3.1%方法/时间 术前即刻剪毛 1.8%
前1晚剪/剃毛 4.0%THANKYOUMagneticResonanceImagingPART01磁共振成像发生事件作者或公司磁共振发展史1946发现磁共振现象BlochPurcell1971发现肿瘤的T1、T2时间长Damadian1973做出两个充水试管MR图像Lauterbur1974活鼠的MR图像Lauterbur等1976人体胸部的MR图像Damadian1977初期的全身MR图像
Mallard1980磁共振装置商品化1989
0.15T永磁商用磁共振设备中国安科
2003诺贝尔奖金LauterburMansfierd时间PART02MR成像基本原理实现人体磁共振成像的条件:人体内氢原子核是人体内最多的物质。最易受外加磁场的影响而发生磁共振现象(没有核辐射)有一个稳定的静磁场(磁体)梯度场和射频场:前者用于空间编码和选层,后者施加特定频率的射频脉冲,使之形成磁共振现象信号接收装置:各种线圈计算机系统:完成信号采集、传输、图像重建、后处理等
人体内的H核子可看作是自旋状态下的小星球。自然状态下,H核进动杂乱无章,磁性相互抵消zMyx进入静磁场后,H核磁矩发生规律性排列(正负方向),正负方向的磁矢量相互抵消后,少数正向排列(低能态)的H核合成总磁化矢量M,即为MR信号基础ZZYYXB0XMZMXYA:施加90度RF脉冲前的磁化矢量MzB:施加90度RF脉冲后的磁化矢量Mxy.并以Larmor频率横向施进C:90度脉冲对磁化矢量的作用。即M以螺旋运动的形式倾倒到横向平面ABC在这一过程中,产生能量
三、弛豫(Relaxation)回复“自由”的过程
1.
纵向弛豫(T1弛豫):
M0(MZ)的恢复,“量变”高能态1H→低能态1H自旋—晶格弛豫、热弛豫
吸收RF光子能量(共振)低能态1H高能态1H
放出能量(光子,MRS)T1弛豫时间:
MZ恢复到M0的2/3所需的时间
T1愈小、M0恢复愈快T2弛豫时间:MXY丧失2/3所需的时间;T2愈大、同相位时间长MXY持续时间愈长MXY与ST1加权成像、T2加权成像
所谓的加权就是“突出”的意思
T1加权成像(T1WI)----突出组织T1弛豫(纵向弛豫)差别
T2加权成像(T2WI)----突出组织T2弛豫(横向弛豫)差别。
磁共振诊断基于此两种标准图像磁共振常规h检查必扫这两种标准图像.T1的长度在数百至数千毫秒(ms)范围T2值的长度在数十至数千毫秒(ms)范围
在同一个驰豫过程中,T2比T1短得多
如何观看MR图像:首先我们要分清图像上的各种标示。分清扫描序列、扫描部位、扫描层面。正常或异常的所在部位---即在同一层面观察、分析T1、T2加权像上信号改变。绝大部分病变T1WI是低信号、T2WI是高信号改变。只要熟悉扫描部位正常组织结构的信号表现,通常病变与正常组织不会混淆。一般的规律是T1WI看解剖,T2WI看病变。磁共振成像技术--图像空间分辨力,对比分辨力一、如何确定MRI的来源(一)层面的选择1.MXY产生(1H共振)条件
RF=ω=γB02.梯度磁场Z(GZ)
GZ→B0→ω
不同频率的RF
特定层面1H激励、共振
3.层厚的影响因素
RF的带宽↓
GZ的强度↑层厚↓〈二〉体素信号的确定1、频率编码2、相位编码
M0↑--GZ、RF→相应层面MXY----------GY→沿Y方向1H有不同ω
各1H同相位MXY旋进速度不同同频率一定时间后→→GX→沿X方向1H有不同ω沿Y方向不同1H的MXYMXY旋进频率不同位置不同(相位不同)〈三〉空间定位及傅立叶转换
GZ----某一层面产生MXYGX----MXY旋进频率不同
GY----MXY旋进相位不同(不影响MXY大小)
↓某一层面不同的体素,有不同频率、相位
MRS(FID)第三节、磁共振检查技术检查技术产生图像的序列名产生图像的脉冲序列技术名TRA、COR、SAGT1WT2WSETR、TE…….梯度回波FFE快速自旋回波FSE压脂压水MRA短TR短TE--T1W长TR长TE--T2W增强MR最常用的技术是:多层、多回波的SE(spinecho,自旋回波)技术磁共振扫描时间参数:TR、TE磁共振扫描还有许多其他参数:层厚、层距、层数、矩阵等序列常规序列自旋回波(SE),快速自旋回波(FSE)梯度回波(FE)反转恢复(IR),脂肪抑制(STIR)、水抑制(FLAIR)高级序列水成像(MRCP,MRU,MRM)血管造影(MRA,TOF2D/3D)三维成像(SPGR)弥散成像(DWI)关节运动分析是一种成像技术而非扫描序列自旋回波(SE)必扫序列图像清晰显示解剖结构目前只用于
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