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文档简介
本章内容一、晶向检测二、晶体缺陷检测三、光学显微镜技术四、电子显微镜技术当前第1页\共有43页\编于星期三\8点一、晶向检测当前第2页\共有43页\编于星期三\8点当前第3页\共有43页\编于星期三\8点1、硅单晶的特点硅单晶晶体结构a=5.43Å
硅单晶晶体结构:两套简单面心立方格子套构形成的金刚石结构。当前第4页\共有43页\编于星期三\8点是垂直于晶面的矢量。通常用密勒指数(h,k,l)表示。
[hkl]晶向和<hkl>晶面垂直
(a)[100](b)[110](c)[111]2、晶向当前第5页\共有43页\编于星期三\8点当前第6页\共有43页\编于星期三\8点硅单晶的不同晶面结构及其特点{110}当前第7页\共有43页\编于星期三\8点二、晶向检测的常用方法
外貌观察法
光点定向法(工业生产中常用方法)
X射线衍射法(工业生产中常用方法)当前第8页\共有43页\编于星期三\8点(一)光点定向测试1、光点定向测试仪原理结构图当前第9页\共有43页\编于星期三\8点<100>
<110>
<111>
硅单晶的光学定向图形2、样品处理——腐蚀坑的显示
当前第10页\共有43页\编于星期三\8点硅单晶
<111>的光学定向图形
晶向偏离度——晶体的轴与晶体方向不吻合时,其偏离的角度称为晶向偏离度。晶锭端面与被测晶向偏离,腐蚀坑对称性就会偏离,利用这种特性可以确定晶向偏离度。
3、晶向偏离度的测试
当前第11页\共有43页\编于星期三\8点此型仪器设有两个工作台,可同时进行操作,右侧工作台带有托板,可对圆柱形晶体进行端面与柱面定向,也可以对晶片的端面进行定向,左侧工作台可对晶片的端面进行定向,仪器精度为±30″最小读数为1″,数字显示。
4、光点定向的应用
当前第12页\共有43页\编于星期三\8点该型定向仪仪专门用于硅单晶锭的粘结,是和多线切割机配套使用的半导体行业专用设备。当前第13页\共有43页\编于星期三\8点(三)X射线衍射法
X射线的波长范围一般为10-2~102Å,有强的穿透能力,原子和分子的距离(1~10Å)正好在X射线的波长范围之内,X射线对物质的散射和衍射能传递丰富的微观结构信息,因此X射线衍射是研究物质微观结构的最主要的方法。当用波长为λ的单色x射线照射晶体时,在X射线作用下晶体的若干层原子面会发生布喇格定律衍射,应用X射线在晶体中的衍射现象,可以得到晶向、晶向偏离度、晶体的原子面间距、晶体表面缺陷等许多晶体结构信息。使用X射线衍射仪确定晶向及偏离度,具有快速、精确的特点。
1、X射线简介
当前第14页\共有43页\编于星期三\8点当前第15页\共有43页\编于星期三\8点当前第16页\共有43页\编于星期三\8点衍射(Diffraction)又称为散射,波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的现象。衍射现象是波的特有现象,一切波都会发生衍射现象。衍射时产生的明暗条纹或光环,叫衍射图样。产生衍射的条件是:当孔或障碍物尺寸与光的波长相同数量级,甚至比波长还要小时,产生衍射。因此光波长越小,越容易产生衍射现象。晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射;衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱;分析在照相底片上获得的衍射花样,便可确定晶体结构。1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格定律:
2、X射线衍射及布喇格定律
当前第17页\共有43页\编于星期三\8点当前第18页\共有43页\编于星期三\8点当前第19页\共有43页\编于星期三\8点当相邻原子面散射后的光程差(2dsinθ)等于入射光波长的整数倍时,即
相邻原子面散射波干涉加强,产生明显的衍射光束。布拉格定律衍射掠射角X射线入射X射线被晶格原子散射后出射上原子层下原子层当前第20页\共有43页\编于星期三\8点
对于半导体硅,它具有金刚石结构,其晶格常数a=5.43073Å,其面间距与一些主要的低指数晶面(h、k、l)的关系为;
(2.2),表2.4当前第21页\共有43页\编于星期三\8点X-rayDiffractionPattern2ISimpleCubicl=2dhklsinhklBragg’sLaw:l(CuK)=1.5418ÅBaTiO3atT>130oCdhkl20o
40o60o(hkl)当前第22页\共有43页\编于星期三\8点当前第23页\共有43页\编于星期三\8点当前第24页\共有43页\编于星期三\8点图2.9X射线衍射仪的原理结构示意图X射线衍射仪由X射线发生器、测角仪和探测记录系统3部分组成3、X射线衍射仪的组成X射线发生器测角仪探测记录系统当前第25页\共有43页\编于星期三\8点当前第26页\共有43页\编于星期三\8点当前第27页\共有43页\编于星期三\8点当前第28页\共有43页\编于星期三\8点2.X射线测角仪当前第29页\共有43页\编于星期三\8点当前第30页\共有43页\编于星期三\8点3.X射线的探测当前第31页\共有43页\编于星期三\8点4.当前第32页\共有43页\编于星期三\8点当前第33页\共有43页\编于星期三\8点(1)晶体结构(晶向、晶格常数、原子面间距)的测量测量时将样品置于衍射仪的测角仪上,由x射线源发出的射线,经滤光片后得到单色x射线照射到样品上,使样品表面与入射X射线束的掠射角为θ。4、X射线衍射仪的使用与测量当前第34页\共有43页\编于星期三\8点当前第35页\共有43页\编于星期三\8点当前第36页\共有43页\编于星期三\8点当前第37页\共有43页\编于星期三\8点2ISimpleCubicl=2dhklsinhklBragg’sLaw:l(CuK)=1.5418Ådhkl20o
40o60o(hkl)通过X射线衍射仪测试得到衍射角θ,根据布拉格公式求得晶体的原子面间距d;根据晶面与面间距的关系示,确定晶体晶向.当前第38页\共有43页\编于星期三\8点当前第39页\共有43页\编于星期三\8点(2)晶向偏离度的测量转动测角仪,使样品围绕水平和垂直轴转动,当样品表面转到一定位置时,在计数管内会出现最大的衍射强度,记下围绕水平方向转动角α和垂直方向转动角β。可以证明,晶向的偏离角度Φ与α、β角的关系为由此可以求出样品表面的晶向偏离度。当前第40页\共有43页\编于星期三\8点5、半导体工业中单晶定向仪该型X射线定向仪主要用于4英寸以下小直径晶棒的OF面定向,晶锭水平放置在夹具内,在X-RAY照射下,测出OF面,依机械方式紧固晶锭,然后将晶锭带同夹具一起固定在磨床上加工OF面。当前第41页\共有43页\编于星期三\8点精密快速地测定天然和人造单晶
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