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文档简介

《资料剖析测试技术》考试纲领合用专业名称：资料科学与工程科目代码及名称考试纲领5资料剖析测试技术一、考试目的与要求测试考生对X射线衍射剖析技术、扫描电子显微镜、电子探针、透射电镜平剖析技术的掌握程度，使学生掌握资料研究的差不多方法，学会进行资料微观组织结构剖析和物理性能剖析的常用仪器设施的原理及使用方法，使学生具备剖析研究资料的组织结构所一定的基础理论、基础知识与差不多技术。二、试卷结构〔总分值100分〕内容比率：X射线衍射剖析约35分透射电镜剖析约20分扫描电镜剖析约20分电子探针剖析约25分题型比率：客观题约30分1、填空题〔选择或判断〕约15分2、名词解说约15分主观题约70分简答题约20分证明题约20分综合剖析题约30分【三】考试内容与要求〔一〕X射线衍射剖析考试内容X射线物理基础、X射线衍射方向、X射线衍射强度、多晶体剖析方法、X射线物相剖析及点阵参数精准测定考试要求掌握X射线的实质、X射线谱的分类及特点谱的产活力理；掌握X射线与物质的互相作用；掌握布拉格方程的推导及应用；4.理解结构因子的物理意义，掌握三种常有点阵消光规律，掌握X射线衍射强度公式；5、理解各样衍射剖析方法，掌握X射线衍射仪的参数设置；6、掌握物相定性剖析的原理、方法与步骤；7、掌握PDF卡片的构成及索引方法；8、掌握物相定量剖析的原理及方法；9、掌握立方晶系物质点阵常数的精准测定。〔二〕电子光学基础及透射电子剖析考试内容电子波与电磁透镜、电磁透镜的像差与分辨本事、电磁透镜的景深和焦长，电子衍射原理、电子显微镜中的电子衍射、单晶体电子衍射花式标定以及复杂电子衍射花式。透射电子显微镜的结构与成像原理、重要零件的结构与工作原理；透射电子显微镜分辨本事和放大倍数的测定，薄膜样品的制备；衍衬成像原理；消光距离考试要求掌握电子透镜及其景深与焦长、电磁透镜的像差与分辨本事；理解透射电镜的结构，认识透射电镜的应用样品的制备方法并能制备电镜样品；掌握电子衍射原理和衍称成像原理；可以剖析电子衍射花式。〔三〕扫描电子显微镜考试内容电子束与固体样品作用、扫描电子显微镜的结构和工作原理、扫描电子显微镜的重要性能、表面容貌衬度原理及其应用、原子序数衬度原理及其应用考试要求理解扫描电子显微镜的结构和工作原理认识电子束与固体样品作用时产生的信号掌握扫描电子显微镜的重要性能、表面容貌衬度原理及其应用应用SEM图像剖析物质〔四〕电子探针显微剖析考试内容电子探针仪的结构与工作原理；电子探针仪的剖析方法及其应用考试要求理解电子探针剖析结构认识电子探针剖析应用掌握电子探针剖析方法及微区成分剖析技术应

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