集成电路测试指南

读书笔记模板集成电路测试指南01思维导图读书笔记作者介绍内容摘要目录分析精彩摘录目录0305020406思维导图指南测试读者芯片集成电路测试第章测试集成电路参数程序原理电源混合测试计划故障实践程序调试第章本书关键字分析思维导图内容摘要内容摘要作者通过分享自身经验，为读者提供一本以工程实践为主的集成电路测试参考书。本书分为五篇共10章节来介绍实际芯片验证及量产中半导体集成电路测试的概念和知识。第1篇由第1章和第2章组成，从测试流程和测试相关设备开始，力图使读者对于集成电路测试有一个整体的概念。第二篇由第3~5章组成，主要讲解半导体集成电路的自动测试原理。第三篇开始进入工程实践部分，本篇由第6章的集成运算放大器芯片和第7章的电源管理芯片测试原理及实现方法等内容构成。通过本篇的学习，读者可以掌握一般模拟芯片的测试方法。第四篇为数字集成电路的具体实践。我们选取了市场上应用需求量大的存储芯片（第8章）和微控制器芯片（第9章），为读者讲述其测试项目和相关测试资源的使用方法。第五篇即第10章节，使读者了解混合信号测试的实现方式，为后续的进阶打下一个坚实的基础。本书主要的受众是想要或即将成为集成电路测试工程师的读者，我们假设读者已经学习过相应的基础课程，主要包括电路分析、模拟电子技术、数字电子技术、信号与系统、数字信号处理以及计算机程序设计语言。通过本书的学习，读者将对半导体集成电路测试有一个总体的概念，并可以掌握能直接应用到工作中的实战技术，并借此以“术”入“道”。对于已经从事半导体集成电路测试的工程技术人员、集成电路产品工程师、设计工程师，本书也具有一定的参考意义。读书笔记读书笔记作为业内人士，确实少有书籍对集成电路测试进行细致的讲解，本书主要基于加速科技ST2516系列ATE讲述几个常用芯片的测试，基本让非专业人员对IC测试有个基本的了解…是很值得一读的[呲牙]。目录分析第2章集成电路测试系统第1章集成电路测试简介第一篇集成电路测试及测试系统简介第1章集成电路测试简介1.1集成电路测试的分类1.2IC测试项目1.3产品手册与测试计划1.4测试程序第2章集成电路测试系统2.1模拟IC测试系统2.2数字IC测试系统2.3混合IC测试系统2.4ST2500高性能数模混合测试系统2.5ST-IDE软件系统2.6集成电路测试工程师实训平台第3章直流及参数测试第5章混合信号测试基础第4章数字电路功能及交流参数测试第二篇集成电路基本测试原理第3章直流及参数测试3.1开短路测试3.2漏电流测试3.3电源电流测试3.4直流偏置与增益测试3.5输出稳压测试3.6数字电路输入电平与输出电平测试第4章数字电路功能及交流参数测试4.1测试向量4.2时序的设定4.3引脚电平的设定4.4动态负载测量开短路第5章混合信号测试基础5.1时域与频域分析5.2采样5.3DAC的静态参数测试5.4ADC的静态参数测试5.5ADC/DAC的动态参数测试第7章电源管理芯片测试与实践第6章集成运算放大器测试与实践第三篇模拟集成电路测试与实践第6章集成运算放大器测试与实践6.1集成运算放大器的基本特性6.2集成运算放大器的特征参数测试方法6.3集成运算放大器测试计划及硬件资源6.4测试程序开发6.5程序调试及故障定位6.6测试总结第7章电源管理芯片测试与实践7.1电源管理芯片原理与基本特性7.2LDO特征参数测试方法7.3电源管理芯片测试计划及硬件资源7.4测试程序开发7.5程序调试及故障定位7.6测试总结第9章MCU测试与实践第8章存储器测试与实践第四篇数字集成电路测试与实践第8章存储器测试与实践8.1EEPROM原理与基本特征8.2EEPROM特征参数测试方法8.3EEPROM测试计划及硬件资源8.4测试程序开发8.5程序调试及故障定位8.6测试总结第9章MCU测试与实践9.1MCU原理与基本特征9.2MCU特征参数测试方法9.3MCU测试计划及硬件资源9.4测试程序开发9.5程序调试及故障定位9.6测试总结第五篇混合集成电路测试与实践第10章ADC测试10.1ADC原理及基本特征10.2ADC芯片特征参数及测试方法10.3ADC芯片测试计划及硬件资源10.4测试程序开发10.5程序调试及故障定位10.